薄膜工程 - 薄膜在 CD-RW disk 的應用
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薄膜工程 - 薄膜在 CD-RW disk 的應用
指導教授 : 許進明 老師報告學生 : 趙旋凱
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CD-RW 的基本構造 薄膜在元件中之功能與特性 各層薄膜的材料 CD-RW 的燒錄原理 薄膜的製作方式 參考文獻
CD-RW 的基本構造
CD-RW 剖面構造圖( 資料來源 : 中環網站 cmc.taiwan.com)
薄膜在元件中之功能與特性 保護層:保護反射層免於氧
化刮傷,作為印刷之底面。 反射層:主要是要使打入的
雷射光反射回記錄層增加記錄層的吸收。
上下介電層:增進記錄層的記錄功效。
記錄層:相變型材料構成,這種相變型材料,在受到雷射脈衝的照射後,會因溫度高低及冷卻速度的快慢的不同,而形成結晶態( Crystalline )或非結晶態( Amorphous )。
各層薄膜的材料 保護層:硬化壓克力樹脂
記錄層:相變化型合金
反射層:鋁、黃金或銅合金
基 板 :光學級聚碳酸脂塑膠
CD-RW 的燒錄原理
相片化型材料讀寫原理 ( 資料來源 :< 工業材料 >138 期,光學特刊 )
相變化光碟係採用雷射光照射碟片,使記錄膜材料於結晶相及非晶相結構間轉換,並藉著結晶相的高反射率及非晶相的低反射率以辨識 0, 1 訊號。位元寫入係使用高功率短脈衝照射,使碟片局部熔化,並快速冷卻以形成非晶結構,而位元擦拭則是以低功率雷射脈衝照射,造成碟片局部退火結晶,並以更低功率雷射照射藉以偵測位元反射率以讀取位元。
CD-RW 之燒錄原理光碟內鍍相變合金屬 ,多為銀,銦,硒或碲結晶層,為結晶與非結晶狀,由雷射光照射,在兩種狀態間互換,呈現出平面 (Land) 與凹洞(Pit) 效果。
相變化之介紹用透明基板上之記錄膜,受雷射光之局部照射升溫、停止照射瞬間降溫工作過程,導致物理結構相變化。
結晶相變化具以下特點
1.結晶與非晶之相變化。2.可逆式隨溫度相變化。3.不同相位膜層材料反射率不同。
4.結晶與非晶化時間快速,短於 1OOns。
相變化原理非晶態 --受熱溫度高於熔點,原子排列不規則狀,再急速冷卻,原子移動速度不足規則化,將維持高溫不規則。
結晶狀態 --溫度升到結晶溫度上( 但低於熔點 ) 慢慢冷卻,原子有足夠動能與時間規則排列。
材料之結晶與非結晶相變化
薄膜的製作流程
參考文獻 國立清華大學 材料科學工程學系 光儲存及遠紅外線感測材料實驗室 http://www.mse.nthu.edu.tw/~lhchou/wel02a2.html 上海科文光盤有限公司 http://www.libnet.sh.cn/keven/guangpan/cd-r1.htm 光洋應用材料科技股份有限公司
http://www.solartech.com.tw/tw/product_sputtering_targets_for_thin_film_storage01.html
吉祥全球實業股份有限公司 http://www.infodisc.com.tw/chinese/our_products/cd-rw/cd-
rw_report.html 理銘科技光電
http://www.met.com.tw/big5/service/support/article/function.htm
光電原理 http://www2.nsysu.edu.tw/IEE/lou/elec/web/process/light.htm
報告完畢感謝聆聽