Worldwide Testing and Certification · Worldwide Testing and Certification 발급번호: 제...

Worldwide Testing and Certification

발급번호: 제 NK-15-E-0128호

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본 시험성적서는 NemKo Korea 서면 동의없이 무단 전제 및 복사를 할 수 없습니다.

목 차

1.0 시험기관 ............................................................................................................................................ 3

1.1 일반현황 ...................................................................................................................................... 3

1.2 시험장 소재지 .............................................................................................................................. 3

1.3 시험기관 지정사항 ........................................................................................................................ 3

2.0 시험기준 ............................................................................................................................................ 4

2.1 기술기준현황 ................................................................................................................................ 4

2.2 적용규격 ...................................................................................................................................... 4

2.3 수검기기 보완내용 ........................................................................................................................ 4

3.0 수검기기의 기술제원 ........................................................................................................................... 5

4.0 신청기자재 구성 및 배치 ..................................................................................................................... 6

4.1 전체구성 ...................................................................................................................................... 6

4.2 시스템구성 (수검기기가 컴퓨터 및 시스템인 경우) ............................................................................ 6

4.3 접속 케이블 ................................................................................................................................. 7

4.4 수검기기의 동작상태 ..................................................................................................................... 7

4.5 배치도 ......................................................................................................................................... 8

5.0 전자파장해 허용기준 ........................................................................................................................... 9

5.1 전자파 전도기준 ........................................................................................................................... 9

5.2 전자파 방사성 방해 허용기준 ......................................................................................................... 9

5.3 규격적용시 특기사항 ................................................................................................................... 10

6.0 전자파보호 기준 ............................................................................................................................... 11

6.1.1 전자파 보호 시험적용 규격 ....................................................................................................... 11

6.1.2 무선설비규칙 시험적용 규격 ...................................................................................................... 13

6.2 성능평가기준 .............................................................................................................................. 14

6.3 기후조건 .................................................................................................................................... 17

7.0 시험방법 및 결과 .............................................................................................................................. 18

7.1 전도성 방해 시험 (주전원 포트) ................................................................................................... 18

7.2 전도성 방해 시험 (통신 포트) ...................................................................................................... 32

7.3 1 이하 방사성 방해 시험 ......................................................................................................... 48

7.4 1 이상 방사성 방해 시험 ......................................................................................................... 54

7.5 정전기방전 내성시험 ................................................................................................................... 59

7.6 방사성 RF 전자기장 내성시험 ...................................................................................................... 63

7.7 전기적 빠른 과도현상-버스트 ....................................................................................................... 66

7.8 서지 내성시험 ............................................................................................................................ 68

7.9 전도성 RF 전자기장 내성시험 ...................................................................................................... 71

7.10 전원 주파수 자기장 내성시험 (해당사항 없음.) ............................................................................. 73

7.11 전압 강하 및 순간 정전 내성시험 ............................................................................................... 75

8.0 측정장면 사진 .................................................................................................................................. 77

8.1 전자파 전도성 방해 시험(주전원 포트) .......................................................................................... 77

8.2 전자파 전도성 방해 시험(통신 포트) ............................................................................................. 78

8.3 방사성 방해 시험(1 이하) ........................................................................................................ 79

8.4 방사성 방해 시험(1 이상) ........................................................................................................ 81

8.5 정전기방전 내성시험 ................................................................................................................... 82

8.6 방사성 RF 전자기장 내성시험 ...................................................................................................... 82

8.7 전기적 빠른 과도현상 .................................................................................................................. 83

8.8 서지 내성시험 ............................................................................................................................ 83

8.9 전도성 RF 전자기장 내성시험 ...................................................................................................... 84

8.10 전압강하 및 순간 정전 내성시험 ................................................................................................. 84

9.0 수검기기사진 .................................................................................................................................... 85



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1.0 시험기관

1.1 일반현황

기 관 명 주식회사넴코코리아

표 이 사 김 현 호

주 소 경기도 용인시 처인구 모현면 오산로 159

전 화 번 호 031)322-2333

팩 스 번 호 031)322-2332

E-Mail [email protected]

1.2 시험장 소재지

주 소 경기도 용인시 처인구 모현면 오산로 159

경기도 용인시 처인구 모현면 오산로 155

전 화 번 호 031) 322-2333

031) 330-1700

팩 스 번 호 031) 322-2332

031) 322-3971

1.3 시험기관 지정사항

구 분 시험장소 관련규칙 지정번호

전도성 장해 SHIELDED ROOM

방송통신기자재등

시험기관의

지정 및 관리에 관한 고시

(국립전파연구원 고시

제2014-23호

(2014.12.23))

KR0026

SHIELDED ROOM (EMI)

방사성 장해

OPEN AREA TEST SITE

ANECHOIC CHAMBER (10 m)

Full Anechoic Chamber


정전기방전 SHIELDED ROOM (EMS)

방사성 RF 전자기장 ANECHOIC CHAMBER


전기적 빠른 과도현상-버스트 SHIELDED ROOM (EMS)

서지 SHIELDED ROOM (EMS)

전도성 RF 전자기장 시험실

SHIELDED ROOM (EMS)

전원 주파수 자기장 시험실

SHIELDED ROOM (EMS)

전압 강하 및 순간 정전 시험실

SHIELDED ROOM (EMS)



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2.0 시험기준

2.1 기술기준현황

구 분 제 목 고 시 일 자

공통 고시

방송통신기자재등의 적합성평가에

관한 고시 국립전파연구원 고시 제 2014-16 호 (2014.11.17)

고시 무선설비규칙 미래창조과학부 고시 제 2014-92 호 (2014.12.03)

EMI 고시 전자파 장해방지 기준 국립전파연구원 고시 제 2014-18 호 (2014.11.25)

공고 전자파 장해방지 시험방법 국립전파연구원 공고 제 2014-91 호 (2014.12.29)

EMS 고시 전자파 보호 기준 국립전파연구원 고시 제 2014-19 호 (2014.11.25)

공고 전자파 보호 시험방법 국립전파연구원 공고 제 2014-92 호 (2014.12.29)

2.2 적용규격

기 준 안 내 용 적 용 규 격 적 용

여 부 시 험 결 과

전자파

장해방지

시험방법

전도성 방해 시험 (주전원 포트)

KN 22:2009

KN 301 489-1:2012

KN 301 489-17:2013

적합 부적합

전도성 방해 시험 (통신 포트) 적합 부적합

방사성 방해 시험 (1 이하) 적합 부적합

방사성 방해 시험 (1 이상) 적합 부적합

전자파

보호

시험방법

정전기방전 내성시험

KN 24:2011

KN 301 489-

1:2012

KN 301 489-

17:2013

KN 61000-4-2:2013 적합 부적합

방사성 RF 전자기장 내성시험 KN 61000-4-3:2011 적합 부적합

전기적 빠른 과도현상-버스트 KN 61000-4-4:2011 적합 부적합

서지 내성시험

KN 61000-4-5:2008

적합 부적합

서지 내성시험

(신호포트와 통신포트) 적합 부적합

전도성 RF 전자기장 내성시험 KN 61000-4-6:2013 적합 부적합

전원 주파수 자기장 내성시험 KN 61000-4-8:2013 적합 부적합

전압 강하 및 순간 정전 내성시험 KN 61000-4-11:2008 적합 부적합

2.3 수검기기 보완내용

보완사항 없음.



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3.0 수검기기의 기술제원

구 분 주 요 사 항 및 특 성

정격 전원 Input : a.c. (100 – 240) V, 50 Hz and 60 Hz, 1.5 A

Output : d.c. 19 V, 3.43 A

I/O 포트 d.c. In. x 1 EA, LAN x 1 EA, USB 3.0 x 4 EA, HDMI x 1 EA, Mini Display x 1 EA,

Audio out x 1 EA

크 기 11.5 (가로) x 11.1 (세로) x 4.7 (높이)

기 능 데스크탑 기능을 가진 Mini PC



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4.0 신청기자재 구성 및 배치

4.1 전체구성

기 기 명 칭 모 델 명 제 조 번 호 제 조 자 비 고

Intel NUC (Next Unit

of Computing) NUC5i7RYH 미상

INTEL CORPORATION /

China EUT

AC/DC Adapter FSP065-10AAba 미상 FSP Group Inc. / China

노트북 S56C 미상 ASUS

직류전원장치 PA-1650-66 미상 LITE-ON TECHNOLOGY

(CHANGZHOU)CO.,LTD.

프린터 iP2770 QC3-2772-DB01-01 CANON VIETNAM CO.,LTD

LCD 모니터 UP2414Qt CN-0W09C2-74445-

467-004L DELL

LCD 모니터 UP2414Qt CN-0W09C2-74445-

4C2-054L DELL

유무선공유기 A104 미상 ipTIME

직류전원장치 M090080E811 미상 Most Optoelectronics

키보드 SK-8115 미상 YET FOUNDATE LTD.

마우스 B138 Z5O0386 ARESON TECHNOLOGY

USB Flash Drive JetFlash 760 미상 TRANSCEND INFORMATION,

INC.

헤드셋 SHS-100V/W TAKD606497B Cosonic Electronics Co., Ltd.

태블릿 PC SM-P900 미상 삼성전자

4.2 시스템구성 (수검기기가 컴퓨터 및 시스템인 경우)

항 목 모 델 명 제 조 번 호 제 조 자 비 고

Main Board NUC5i7RYB 미상 Intel Co. / China

AC/DC Adapter FSP065-

10AABA 미상 FSP Group Inc. / China

RAM M471B1G73QH

0-YK0 미상 Samsung / Philippines 8GB x 2 EA

SSD L8T-128L9G 002415180959LITE-ON IT Co. /

Taiwan 128GB x 1 EA

특정소출력 무선기기 (무선데이터통신시스템용 무선기기)

7265D2W 미상 Intel Co. / China MSIP-CRM-

INT-7265D2W

HDD WD10JPVX-

22JC3T0 WX41E34EU536

Western Digital /

Malaysia 1 TB

DC FAN BSB05505HP 미상 DELTA Electronics, Inc.

/ China



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4.3 접속 케이블

접속 시작 장치 접속 끝 장치 케 이 블 규 격

기 기 명 칭 I/O Port 기 기 명 칭 I/O Port 길이(m) 차폐여부

Intel NUC

(Next Unit of

Computing)

HDMI LCD 모니터 1 0.9 Shielded

Mini Display LCD 모니터 2 1.8 Shielded

USB 1 프린터 1.5 Shielded

USB 2 마우스 1.5 Shielded

USB 3 키보드 1.5 Shielded

USB 4 USB Flash Drive - -

Audio out 헤드셋 1.9 Shielded

LAN Switch 3.0 Unshielded

d.c. In AC/DC Adapter 2.4 Unshielded

LCD 모니터 1 Power In AC Public Network 1.8 Unshielded

LCD 모니터 2 Power In AC Public Network 1.8 Unshielded

4.4 수검기기의 동작상태

수검기기에 연결 가능한 주변장치를 모두 연결 후 “ H” pattern scrolling, 1 kHz audio signal 및 ping

signal access 하면서 시험하였음.

(ITE mode, 2.4 GHz WiFi mode, 5 GHz WiFi mode, Bluetooth Traffic mode 에서 시험하였고 내성 시험

시 Idle mode 에서도 시험하였음.)



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4.5 배치도

Intel NUC (Next Unit of

Computing)

LCD

모니터

LCD

모니터

프린터

Switch

키보드

노트북

유무선공유기

마우스 헤드셋

태블릿 PC

Indoor Outdoor

전원선 케이블

I/O 케이블

AC/DC Adaptor

직류전원장치

직류전원장치

HDMI

USB

3

USB

2

Audi

o ou

t Mini

Display

USB 1

USB Flash

Drive

LAN



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5.0 전자파장해 허용기준

5.1 전자파 전도기준

※ 전자파 장해방지 기준: 국립전파연구원 고시 제 2014-18 호

5.1.1 주전원 포트에서의 전도성 방해 전압 허용기준

구 분 주파수범위

()

허용기준()

준 첨두치 평균치

A급 기기 0.15 - 0.5 79 66

0.5 - 30 73 60

B급 기기

0.15 - 0.5 66 - 56 56 - 46

0.5 - 5 56 46

5 - 30 60 50

5.1.2 통신 포트에서 전도성 방해 전압 허용기준


()

전압 허용기준() 전류 허용기준()

준 첨두치 평균치 준 첨두치 평균치

A급 기기 0.15 - 0.5 97 - 87 84 - 74 53 - 43 40 - 30

0.5 - 30 87 74 43 30

B급 기기 0.15 - 0.5 84 - 74 74 - 64 40 - 30 30 - 20

0.5 - 30 74 64 30 20

5.2 전자파 방사성 방해 허용기준

5.2.1 1 이하의 역

주파수범위

()

허용기준(/m)

A급 기기(10 m) B급 기기(10 m)

30 - 230 40 30

230 - 1 000 47 37

5.2.2 1 이상의 역


()

허용기준(/m)

첨두치 허용 기준(/m) 평균치 허용 기준(/m)

A급 기기(3 m) 1 - 3 76 56

3 - 6 80 60

B급 기기(3 m) 1 - 3 70 50

3 - 6 74 54



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※ 방사성 방해 허용기준 조건부 시험 절차

피시험기기의 최 내부 발사원은 피시험기기내 또는 피시험기기가 작동하고 조정되는 곳에서 발생하는

최 주파수로 정의한다. 피시험기기의 내부 발사원 최 주파수가 108 미만이면 측정은 1

까지 수행되어야 한다.

피시험기기의 내부 발사원 최 주파수가 (108 - 500) 이면 측정은 2 까지 수행되어야 한다.

피시험기기의 내부 발사원 최 주파수가 500 - 1 이면 측정은 5 까지 수행되어야 한다.

피시험기기의 내부 발사원 최 주파수가 1 GH이하이면 측정은 해당 최 주파수의 5배 주파수 또는

6 중 더 작은 주파수까지 수행되어야 한다.

5.3 규격적용시 특기사항

해당없음.



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6.0 전자파보호 기준

6.1.1 전자파 보호 시험적용 규격 ※ 전자파 보호기준: 국립전파연구원 고시 제 2014-19 호

내성 시험명 적용 단자 내성 기준 단위 성능 평가

기준 시험 기준 비 고

정전기방전 표면 단자 ±4 (접촉 방전) ±8 (공기중 방

전)

B KN 61000-4-2 -

방사성 RF 전자기장

표면 단자 80 - 1 000

3 80

V/m (무변조, rms)% AM (1 )

A KN 61000-4-3 (주 1)

(주 2)

전기적 빠른 과도현상 -버스트

신호선 및

통신 단자

±0.5

5/50

5

Tr/Th ns

(반복 주파수)

B KN 61000-4-4

(주 3)

입력직류 전원 단자

±0.5 5/50

5

Tr/Th ns

(반복 주파수) (주 4)

입력교류 전원 단자

±1 5/50

5

(첨두치) Tr/Th ns

(반복 주파수) (주 5)

서지

신호선 및

통신 단자

10/700

±4

±1.5

Tr/Th

(첨두치)

(첨두치)

C ITU-T Rec.

K series (주 6, 7)

입력직류 전원 단자

1.2/50 (8/20)

±0.5

Tr/Th

(첨두치)

B KN 61000-4-5

(주 4, 7)

라인의 접지

가

적용된 시험

입력교류 전원 단자

1.2/50 (8/20)

±2(선-접지간)

±1(선-선간)

Tr/Th

(첨두치)

(첨두치)

(주 5, 8)

전도성 RF 전자기장

신호선 및

통신 단자

0.15 - 80

3

80

V (무변조, rms)

% AM (1 )

A KN 61000-4-6

(주 3, 9, 15)

입력직류

전원 단자

0.15 - 80

3

80

V (무변조, rms)

% AM (1 )

(주 4, 9, 15)

입력교류

전원 단자

0.15 - 80

3

80

V (무변조, rms)

% AM (1 )

(주 5)

전원 주파수 자기장

표면 단자 60

1

A/m (rms) A KN 61000-4-8 (주 11)

전압 강하 입력교류 전원 단자

>95

0.5

% 감소

주기 B

KN 61000-4-11 (주 5, 12) 30

30

% 감소

주기 C

순간 정전 입력교류 전원 단자

>95

300

% 감소

주기 C



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(주1) 전체 주파수는 명시된 로 스캔한다. 그러나 몇몇 제한된 주파수에 해서 추가적이고 포괄적

기능 시험이 수행되어야 한다. 선택된 주파수는 다음과 같다.

: 80 , 120 , 145 , 160 , 230 , 375 , 435 , 460 , 600 , 814 , 835 (±1 %)

(주2) 시험 주파수는 80 미만에서 시작될 수 있다. 단, 26 이상이 되어야 한다.

(비고)

폐쇄회로 TV, 감시 카메라, 녹화기 등 감시기기는 다음의 두 조건에서 실시되어야 하며, 만약 3 V/m

시험 조건에서 아무런 이상이 없을 경우 1 V/m 시험 조건에서도 만족하는 것으로 간주한다.

가. 3 V/m 에서는 화면에 희미한 흰줄이 가는 등 화질이 조금 떨어지는 것은 허용되나, 인식물 자체가

흔들리지 않고 인식물을 명확히 식별할 수 있어야 하며 시스템이 계속해서 동작되어야 한다.

나. 1 V/m 에서는 식별 가능한 화질 손상이 없어야 한다.

(주3) 제조사 사양서에 따라 케이블 길이가 3 m 이상에서의 통신을 지원하는 케이블에 해서만 적용

가능하다.

(주4) 입력 직류 전원 단자의 전자파 내성시험은 교류/직류 전력 변환기를 가지고 출시되는 기기는

제외한다.

(주5) 입력 교류 전원 단자의 전자파 내성시험은 분리된 교류/직류 전원 변환기를 가지고 출시되는

장비를 포함한다.

(주6) 주요 안전장치가 의도된 포트에 해서는 서지는 주요 안전장치가 설치된 상태에서 최 4

전압까지 적용되어야한다. 주요 안전장치가 설치되지 않은 상태에서는 1.5 가 가정 적절 레벨이다.

(주7) 제조사 사양서에 따라 외부의 케이블에 직접 연결될 수 있는 포트에 해서만 적용 가능하다.

(주8) 제조자가 보호측정을 명시하고 시험하는 동안 이들 측정을 시뮬레이션하기에 실용적이지 않을때,

적용된 시험 레벨은 0.5 와 1 로 감소되어야 한다.

(주9) 전체 주파수는 명시된 로 스캔한다. 그러나 몇몇 제한된 수의 주파수에 해서 추가적이고

포괄적 기능 시험이 수행되어야 한다. 전도성 시험을 위해 선택된 주파수는 다음과 같다.

: 0.2 , 1 , 7.1 , 13.56 , 21 , 27.12 , 40.68 , 52 (±1 %)

(주10) 시험은 접지에 연결되는 모든 케이블에 동시에 적용한다.

(주11) 음극선관 모니터, 홀 개체, 전기역학적 마이크로폰, 자계 센서와 같이 자계에 하여 민감한

소자를 포함하고 있는 장비에 해서만 적용이 가능하다.

(주12) 전압파형의 위상이 0도인 지점에서 변화가 발생하여야 한다.

(주13) xDSL 기기의 경우, EFT 시험을 위한 반복 주파수는 100 이어야 한다.

(주14) 10/700 파형에 한 결합망이 고속 데이터 포트의 기능에 영향을 미치는 경우 시험은 1.2/50

(8/20) 파형 및적합한 결합망을 사용해 시행되어야 한다.

(주15) 방사시험이 낮은 주파수로 수행되었다면 주파수 영역은 이 주파수까지만 확장되어야 한다.



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6.1.2 무선설비규칙 시험적용 규격

※ 전자파 보호기준: 미래창조과학부 고시 제 2014-92 호

내성시험명 적용단자 내성기준 단위 성능평가

기준 적용규격 비고

정전기방전 함체 ±8 (공기중방전)±4 (접촉방전)

B KN 61000-4-2

방사성 RF 전자기장

함체

80 - 1 000 /

1 400 - 2 700

3 80

V/m (무변조, rms)

% AM (1 )

A KN 61000-4-3 주 1)

전기적 빠른

과도현상/버스트,

공통모드

신호,통신,제어

포트

±0.5

5/50

5

(첨두치)

Tr/Th ns

(반복 주파수)

B KN 61000-4-4

주 2)

직류(DC) 전원

포트

±0.5

5/50

5

(첨두치)

Tr/Th ns

(반복 주파수)

교류(AC) 전원

포트

±1

5/50

5

(첨두치)

Tr/Th ns

(반복 주파수)

서지

통신

포트

일반 1.2/50

±1 (선-접지간)

Tr/Th μ s

(첨두치)

B KN 61000-4-5

주 3)통신

센터

1.2/50

±0.5 (선-접지간)

Tr/Th μ s

(첨두치)

교류

(AC)

전원

포트

일반

1.2/50

±2 (선-접지간)

±1 (선-선간)

Tr/Th μ s

(첨두치)

(첨두치)

통신

센터

1.2/50

±1 (선-접지간)

±0.5 (선-선간)

Tr/Th μ s

(첨두치)

(첨두치)

전도성 RF

전자기장,

공통모드

신호,통신,제어

포트

0.15 - 80

3

80

V (무변조, rms)

% AM (1 )

A KN 61000-4-6

주 1)

주 2)

직류(DC) 전원

포트

0.15 - 80

3

80

V (무변조, rms)

% AM (1 )

주 1)

교류(AC) 전원

포트

0.15 - 80

3

80

V (무변조, rms)

% AM (1 )

주 1)

전압강하 및 순간 정전

교류(AC) 전원 포트

100 0.5

% 감소 주기

B

KN 61000-4-11

100 1

% 감소 주기

B

30 30

% 감소 주기

B 주 4)

100 300

% 감소 주기

C



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주 1) 제품별 시험기준에 언급된 성능평가 기준에 적합하여야 한다. (예 : 오디오 측정, FER, BER 등..)

주 2) 케이블의 길이가 3 m 이상인 경우만 적용

주 3) 사용자 설명서에 따라 외부 케이블에 직접적으로 연결되는 포트에만 적용한다.

주 4) 제품이 백업용 배터리를 내장하고 있으면 성능 평가 기준 ＂B＂를 그렇지 않은 경우는 ＂C＂를

적용함

6.2 성능평가기준

6.2.1 KN 24 에 따른 성능평가기준

[일반적 성능평가기준]

상기기에 한 내성시험중 또는 내성시험 종료후에 적용하는 성능평가기준은 다음과 같다.

성능 평가 기준 A : 시험 중 및 후에 피시험기기는 운용자의 개입 없이 의도된 동작을 지속해야한다.

성능 평가 기준 A : 기기가 의도된 로 사용될 때 제조자에 의해 성능레벨 이하에서의 성능저하 또는

성능 평가 기준 A : 기능 손실은 허용되지 않는다.성능 레벨은 한계 성능의 손실로 표현될수 있다. 만약

성능 평가 기준 A : 최소 성능레벨이나 허용되는 수행의 손실이 제조자에 의해 명시되지 않다면, 이러

성능 평가 기준 A : 한 판단은 제품 설명서나 문서, 그리고 기기가 의도된 로 사용될 때 사용자가

성능 평가 기준 A : 기기로부터 이상적으로 기 할 수 있는 정상 동작의 기준으로부터 유도할 수 있다.

성능 평가 기준 B : 시험 후에 피시험기기는 운용자의 개입 없이 의도된 동작을 지속하여야 한다.

성능 평가 기준 B : 내성시험을 실시한 이후에, 기기가 의도된 로 사용될 때 제조자가 명시한 성능

성능 평가 기준 B : 레벨 이하의 성능저하나 기능 손실을 허용되지 않는다. 성능 레벨은 허용가능한

성능 평가 기준 B : 성능의 손실에 의해 신 할 수 있다. 시험 중에는 성능의 저하가 허용된다. 그러나

성능 평가 기준 B : 동작상태나 저장된 데이터의 변화가 시험후에도 지속되는 것은 허용되지 않는다. 성

능 평가 기준 B : 만약 최소 성능 레벨이나 허용되는 수행의 손실이 제조자에 의해 명시되어 있지

성능 평가 기준 B : 않았다면, 이러한 판단은 제품 설명서나 문서, 그리고 의도된 로 사용될 때 사용

성능 평가 기준 B : 자가 기기로부터 이성적으로 기 할 수 있는 정상 동작의 기준으로부터 유도할 수

성능 평가 기준 B : 있다.

성능 평가 기준 C : 시험 중 및 후에 기능이 자기 복구가 가능하거나 사용자가 제품 설명서에 지시된

성능 평가 기준 C : 로 기기를 제어하거나 전원을 재인가함으로 써 회복될 수 있다면 일시적인 기능

성능 평가 기준 C : 의 손실은 혀용된다.

성능 평가 기준 C :비휘발성 기억장치에 저장되어 있거나 건전지 백업에 의해 보호되는 기능이나 정보

성능 평가 기준 C : 는 손실되지 않아야 한다.

[특정 성능평가 기준(데이터의 읽기, 쓰기 및 저장)]

성능 평가 기준 A

시험 중에 저장기기는 읽기/쓰기와 기 상태에서 정상동작을 유지해야 한다.

성능 평가 기준 B

시험 중 및 후에 읽기와 쓰기를 재시도해서 복구될 수 있는 오류는 허용된다(이런 과정 때문에 발생한

프로세싱에서의 일시적인 지연은 허용된다).

피시험기기의 정상 동작 상태는 시험을 적용한 후에 복구되어야 한다. 시험을 적용하기 이전 상태로의

빠른 자가 복귀는 이것이 복귀의 정상적인 평균값이라면 받아들여진다. 이런 경우, 동작을 재초기화 하

는 연산자의 응답은 허용된다.

성능 평가 기준 C

외부 방해가 제거된 후에, 프로세싱에서 지연 또는 시스템 중단을 발생시키지만 리셋이나 재부팅에 의

해 정상동작으로 복구될 수 있는 오류는 허용된다.



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[특정 성능평가 기준 (데이터 처리)]


시험 중에 제품 설명서에서 규정된 동작에 영향을 주지 않고 자동 복구를 방해하지 않는 오류는 허용된

다.


시험 중에 처리에 있어서 일시적인 지연을 초래하지만 자동으로 복구되는 오류는 허용된다.


외부 방해가 제거된 후에, 처리의 지연을 초래하지만 리셋이나 재부팅에 의해 정상동작 상태로 복구될

수 있는 오류는 허용된다.

리셋이나 재부팅에 의해 복구될 수 있는 시스템 중단을 발생시킨 오류는 허용된다.

경보 및 운용자의 조정에 의해 정상동작 상태로 복구될 수 있는 오류는 허용된다.

[특정 성능평가 기준 (근거리통신망(LAN))]


시험 후나 시험하는 동안, 피시험기기는 다음을 발생시키지 않고 동작해야 한다.

- 제조자가 규정한 수치 이상의 에러율;

- 제조자가 규정한 수치 이상의 재시도 요구;

- 제조자가 규정한 수치 이상의 데이터 전송 속도;

- 프로토콜 오류;

- 링크의 손실.


에러율, 재시도 요구 및 데이터 전송 속도는 시험을 실시하는 동안에 낮아질 수도 있다.

피시험기기의 정상동작 상태가 시험을 실시하기 전의 상태로 빠르게 자가복구될 수 있다면, 동작 지침

A에서 설명한 동작의 저하는 허용된다. 이런 경우, 운용자가 동작을 다시 초기화하여도 무방하다.


피시험기기의 정상동작 상태가 시험을 실시하기 전의 상태로 빠르게 스스로 복구될 수 있거나 또는 시

험 후에 운용자에 의해 복구될 수 있다면, 동작 지침 A와 B에서 설명한 성능의 저하는 허용된다.

6.2.2 KN 301 489-1 에 따른 성능평가기준

6.2.2.1 송신기 및 수신기에 인가된 연속적 현상을 위한 성능 평가 기준

보다 상세한 사항이 특정 형식의 무선기기를 다루는 KN 301 489 의 각 제품 관련 규격에 나와 있지 않

은 경우, 연속적인 현상에 하여 다음의 일반적인 성능 평가 기준이 적용된다.

시험 중이나 시험 후에도 기기는 의도된 로 동작을 지속하여야 한다. 기기가 의도된 로 사용될 때

제조자에 의해서 명시된 허용할 수 있는 성능 레벨 이하가 되는 어떠한 성능의 저하나 기능의 상실 도

허용될 수 없다. 일부의 경우에 허용할 수 있는 성능 레벨은 허용할 수 있는 성능의 상실로 체될 수

있다.

시험 중에 피시험기기는 비의도적으로 송신하거나 실제 동작 상태나 저장 데이터를 변경하지 않아야 한

다.

만일 최소 성능 레벨 또는 허용할 수 있는 성능 상실에 관하여 제조자가 명시하지 않은 경우, 이러한

성능 평가 기준은 제품 설명서와 의도된 로 사용된다는 가정 하에, 사용자가 기기로부터 합리적으로

예상될 수 있는 것으로부터 추정될 수 있다.



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6.2.2.2 송신기 및 수신기에 인가된 과도현상을 위한 성능 평가 기준

보다 상세한 사항이 특정 형식의 무선기기를 다루는 KN 301 489의 제품 관련 규격에 나와 있지 않은

경우, 과도현상에 하여 다음의 일반적인 성능 평가 기준이 적용된다.

시험 후에도 기기는 의도된 로 동작을 지속하여야 한다. 기기가 의도된 로 사용될 때 제조자에 의

해 서 명시된 허용할 수 있는 성능 레벨 이하가 되는 어떠한 성능의 저하나 기능의 상실도 허용될 수

없다.

일부의 경우에 허용할 수 있는 성능 레벨은 허용할 수 있는 성능의 상실로 체될 수 있다.

전자기 현상에 한 전자파적합성 노출 중에는 성능의 저하가 허용된다. 그러나 실제 동작 모드 (의도

되지 않는 송신 등)및 저장 데이터의 변경은 허용되지 않는다.

만일 최소 성능 레벨 또는 허용할 수 있는 성능 상실에 관하여 제조자가 명시하지 않은 경우, 이러한

성능 평가 기준은 제품 설명서와 의도된 로 사용된다는 가정 하에, 사용자가 기기로부터 합리적으로

예상될 수 있는 것으로부터 추정될 수 있다.

6.2.2.3 연속적인 통신 링크를 제공하지 않는 기기를 위한 성능 평가 기준

연속적인 통신 링크를 제공하지 않는 무선기기의 경우에, 위의 절에서 설명된 성능 평가 기준은 적절하

지 않다. 따라서 시험성적서에 기재하기 위해서 제조자는 내성 시험 중 및 시험 후에 허용할 수 있는

성능 레벨 또는 성능의 저하를 확인하는 규격을 정해야 한다. 성능에 한 규격은 제품 설명서에 포함

되어야 한다. 또한 5.3절에서 설정된 관련 규격이 고려되어야 한다.

제조자가 명시한 성능 평가 기준은 앞의 절에서 요구된 것과 동일한 정도의 내성 보호를 나타내야 한다.

6.2.2.4 독립적으로 시험된 보조기기에 한 성능 평가 기준

만일 보조기기가 독립적으로 시험되도록 의도된 경우, 위의 절에서 설명된 성능평가 기준은 적절하지

않다. 따라서 시험성적서에 기재하기 위해서 제조자는 내성 시험 중 및 시험 후에 허용할 수 있는 성능

레벨 또는 성능의 저하에 한 규격을 정해야 한다. 성능에 한 규격은 제품 설명서에 포함되어야 한

다. 또한 5.3절에서 설정된 관련 규격이 고려되어야 한다.

제조자가 명시한 성능 평가 기준은 앞의 절에서 요구된 것과 동일한 정도의 내성 보호를 나타내야 한다.



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6.2.3 KN 301 489-17 에 따른 성능평가기준

성능평가기준 시험 중 시험 후

A

‐ 정상 동작할 것

‐ 주 1 에 기술된 성능의 저하가

있을 수 있음

‐ 기능의 손실이 없을 것

‐ 비의도적인 전송이 없을 것

‐ 정상 동작할 것

‐ 성능의 저하가 없을 것(주 2)

‐ 기능의 손실이 없을 것

‐ 데이터의 손실이나 사용자정의 기능 상실이 없을 것

B

‐ 기능의 손실이 있을 수 있음

(1 회 이상)

‐ 주 1 에 기술된 성능의 저하가

있을 수 있음

‐ 비의도적인 전송이 없을 것

‐ 손실되었던 기능이 자동 복구될 것.

‐ 기능이 복구된 후 정상적으로 동작할 것

‐ 성능의 저하가 없을 것 (주 2)

‐ 데이터의 손실이나 사용자 정의 기능 상실이 없을 것

C ‐ 기능의 손실이 있을 수 있음

(1 회 이상)

‐ 손실됐던 기능이 조작자에 의해 복구 가능할 것

‐ 기능이 복구된 후에는 정상 동작할 것

‐ 성능의 저하가 없을 것 (주 2)

(주 1) 시험 중 성능의 저하는 제조자가 규정한 최소 성능 이하로 저하되지 않음을 의미한다.

어떤 경우에는 제조자가 규정한 최소 성능이란 허용 가능한 성능의 저하로 치될 수 있다.

최소 성능 또는 허용 가능한 성능의 저하가 제조자에 의해 규정되지 않았다면 이것은 제품의 설명서나

기타 문서들, 사용자가 수용 가능한 기 수준으로부터 도출될 수 있다.

(주 2) 시험 후 성능의 저하가 없다는 것은 제조자가 규정한 최소 수준 이하로의 저하가 없음을 의미한다.

어떤 경우에는 제조자가 규정한 최소 성능이란 허용 가능한 성능의 저하로 치될 수 있다.

시험 후 실제 구동 데이터나 사용자의 데이터 정정이 허용되지 않는다.

최소 성능 또는 허용 가능한 성능의 저하가 제조자에 의해 규정되지 않았다면 이것은 제품의 설명서나

기타 문서들, 사용자가 수용 가능한 기 수준으로부터 도출될 수 있다.

6.3 기후조건

일반 표준규격 또는 제품 표준 규격에 책임이 있는 위원회가 달리 규정하지 않는다면, 시험실의 기후

조건은 피시험기기와 시험장비 각각의 제조업체가 이들 동작을 위해 규정된 허용한계 내에 있어야 한다.



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7.0 시험방법 및 결과

7.1 전도성 방해 시험 (주전원 포트)

7.1.1 측정설비

사용장비 모 델 명 제 조 자 제 조 번 호 차기교정일 사용여부

EMI Test Receiver &

IF Analysis ESCS30 Rohde & Schwarz 100302 2015.10.06

Software ESxS-K1 Rohde & Schwarz Version 2.12 -

LISN ESH3-Z5 Rohde & Schwarz 833874/006 2015.10.06

ESH2-Z5 Artificial

Mains Network ESH2-Z5 Rohde&Schwarz 100227 2015.04.03

ATTENUATOR SA3N5W-10 FAIRVIEW N/A 2015.04.02

Impedance

Stabilization Network ISN CAT 5 SCHWARZBECK

CAT5-8158-

0036 2016.01.15

7.1.2 시험장소 : SHIELDED ROOM

7.1.3 환경조건 : 온도 18.3 C, 습도 44.0 % R.H., 기압 99.1

7.1.4 시험방법

※ 전자파 장해방지 시험방법 : 국립전파연구원 공고 제 2014-91 호

1) 수검기기 및 시스템을 취급설명서 상에 기술된 상태로 구성함.

2) 수검기기가 특정설비와 함께 사용되어질 때에는 해당 설비를 함께 접속하며 어떤 시스템의 일부로

사용되는 부분품의 경우에는 그 시스템에 설치하여 정상동작 시킴.

3) 각 접속단자(인터페이스 포트)마다 해당 주변기기를 접속하고 시험함.

4) 수검기기에 접지단자가 있는 경우에는 접지하고 전원선 플러그를 통해 내부접지된 수검기기는

사용전원을 통해 접지하고 시험함.

5) 통상 테이블 위에 올려놓고 작동하는 수검기기는 접지면으로부터 0.8 m 높이의

시험 위에서 시험하고, 바닥에 설치하는 수검기기는 바닥면에서 시험함.

6) 수검기기는 동작모드, 전송속도 등이 다른 경우에는 각각 시험하여 가장 높은 측정값을 시험값으로

선택함.

7) 수검기기는 독립적인 회로망을 통해서 전원을 공급하고, 기타 주변기기는 별도의 회로망을 통해서

전원을 공급함.

8) 이동형 기기는 접지된 도체벽면으로부터 0.4 m 다른 접지면으로부터 0.8 m이상 떨어져서 시험함.

9) 유연성 전원선인 경우에는 회로망과 수검기기의 중앙 위치에서 30 내지 40 의



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8자 형태로 수평적으로 중첩하여 묶는다. 비유연성 전원선 또는 코일형 코드의 경우에는 실제

상태로 시험하며 시험성적서에 그 사실을 기록함.



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7.1.5 전자파 전도 시험 (주전원 포트) 시험결과

측정일 : 2015년 03월 18일

시험자 : 김태균

[ITE mode]

측정값 결과값 측정값 결과값

[MHz] LISN 케이블 A급 기기 B급 기기 [dBμV] [dBμV] A급 기기 B급 기기 [dBμV] [dBμV]

0.15 0.11 10.29 L 66.00 43.60 54.00 56.00

0.44 0.11 10.29 N 57.06 41.10 51.50 47.06

0.55 0.11 10.32 L 56.00 33.47 43.90 46.00

2.83 0.18 10.36 N 56.00 22.36 32.90 46.00

4.52 0.21 10.31 N 56.00 24.58 35.10 46.00

14.21 0.51 10.68 L 60.00 23.91 35.10 50.00

비고 : *준첨두치의 결과값이 평균값의 한계값을 초과하지 않는 주파수에 해서는 평균값의 결과값을 기재하지 않음. 결과값 = 측정값 + LISN 보정계수 + 케이블 Loss

한계값 [dBμV]

평균값주파수 보정계수 [dB]

극성

준첨두치

한계값 [dBμV]

* 시험결과

적합 부적합

* 측정그래프

별첨



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시험자 : 김태균 Line : Neutral



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시험자 : 김태균 Line : Line



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측정일 : 2015년 03월 18일


[2.4 GHz WiFi mode]



0.15 0.11 10.29 L 66.00 38.90 49.30 56.00

0.45 0.11 10.29 L 56.88 41.80 52.20 46.88

0.56 0.11 10.32 L 56.00 33.47 43.90 46.00

0.85 0.13 10.34 L 56.00 25.23 35.70 46.00

5.05 0.24 10.30 L 60.00 23.46 34.00 50.00

7.11 0.33 10.49 L 60.00 23.38 34.20 50.00


한계값 [dBμV]


극성

준첨두치

한계값 [dBμV]

* 시험결과

적합 부적합

* 측정그래프

별첨



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측정일 : 2015년 03월 18일


[5 GHz WiFi mode]



0.15 0.10 10.29 N 66.00 39.91 50.30 56.00

0.45 0.11 10.29 L 56.88 41.60 52.00 46.88

0.63 0.12 10.36 L 56.00 32.62 43.10 46.00

0.83 0.13 10.35 L 56.00 24.52 35.00 46.00

4.53 0.21 10.31 N 56.00 24.98 35.50 46.00

7.15 0.33 10.50 L 60.00 23.17 34.00 50.00


한계값 [dBμV]


극성

준첨두치

한계값 [dBμV]

* 시험결과

적합 부적합

* 측정그래프

별첨



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측정일 : 2015년 03월 18일


[Bluetooth Traffic mode]



0.15 0.10 10.29 N 66.00 42.31 52.70 56.00

0.21 0.10 10.29 L 63.21 33.11 43.50 53.21

0.44 0.11 10.29 N 57.06 41.30 51.70 47.06

0.96 0.13 10.30 N 56.00 28.57 39.00 46.00

4.35 0.21 10.31 N 56.00 24.28 34.80 46.00

11.15 0.40 10.61 L 60.00 21.29 32.30 50.00


한계값 [dBμV]


극성

준첨두치

한계값 [dBμV]

* 시험결과

적합 부적합

* 측정그래프

별첨



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7.2 전도성 방해 시험 (통신 포트)

7.2.1 측정설비


EMI Test Receiver &

IF Analysis ESCS30 Rohde & Schwarz 100302 2015.10.06

Software ESxS-K1 Rohde & Schwarz Version 2.12 -

LISN ESH3-Z5 Rohde & Schwarz 833874/006 2015.10.06

ESH2-Z5 Artificial

Mains Network ESH2-Z5 Rohde&Schwarz 100227 2015.04.03


Impedance

Stabilization Network ISN CAT 5 SCHWARZBECK

CAT5-8158-

0036 2016.01.15

7.2.2 시험장소 : SHIELDED ROOM

7.2.3 환경조건 : 온도 18.3 C, 습도 44.0 % R.H., 기압 99.1

7.2.4 시험방법


1) – 9) 7.1.4 시험방법과 동일

10) 통신포트에 한 시험방법 중 제품의 기능이 10 Mbps, 100 Mbps, 1 000 Mbps 등을 지원하는 다기

능 통신포트에 해서는 속도별로 각각 시험하여 그래프를 첨부하고 데이터 값은 최고 높은 값을

시험성적서에 기록함.



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7.2.5 전도성 방해 시험 (통신포트) 시험결과

측정일 : 2015년 03월 18일


[ITE mode_1 000 Mbps]


[MHz] V-Network 케이블 A급 기기 B급 기기 [dBμV] [dBμV] A급 기기 B급 기기 [dBμV] [dBμV]

0.96 9.59 0.05 74.00 46.96 56.60 64.00

1.92 9.51 0.09 74.00 45.61 55.20 64.00

2.88 9.48 0.07 74.00 42.75 52.30 64.00

7.52 9.44 0.21 74.00 30.15 39.80 64.00

14.77 9.45 0.37 74.00 28.58 38.40 64.00

27.46 9.49 0.57 74.00 36.84 46.90 64.00


한계값 [dBμV]


준첨두치

한계값 [dBμV]

* 시험결과

적합 부적합

* 측정그래프

별첨



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Figure 1 : 10 Mbps




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Figure 2 : 1 000 Mbps




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측정일 : 2015년 03월 18일


[2.4 GHz WiFi mode_10 Mbps]



0.96 9.59 0.05 74.00 46.96 56.60 64.00

1.52 9.53 0.04 74.00 39.23 48.80 64.00

1.92 9.51 0.09 74.00 46.01 55.60 64.00

2.88 9.48 0.07 74.00 43.25 52.80 64.00

3.74 9.47 0.04 74.00 34.19 43.70 64.00

8.74 9.44 0.23 74.00 44.53 54.20 64.00


한계값 [dBμV]


준첨두치

한계값 [dBμV]

* 시험결과

적합 부적합

* 측정그래프

별첨



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Figure 1 : 10 Mbps




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측정일 : 2015년 03월 18일


[2.4 GHz WiFi mode_10 Mbps]



0.96 9.59 0.05 74.00 46.96 56.60 64.00

1.52 9.53 0.04 74.00 39.23 48.80 64.00

1.92 9.51 0.09 74.00 46.01 55.60 64.00

2.88 9.48 0.07 74.00 43.25 52.80 64.00

3.74 9.47 0.04 74.00 34.19 43.70 64.00

8.74 9.44 0.23 74.00 44.53 54.20 64.00


한계값 [dBμV]


준첨두치

한계값 [dBμV]

* 시험결과

적합 부적합

* 측정그래프

별첨



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Figure 1 : 10 Mbps




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측정일 : 2015년 03월 18일


[5 GHz WiFi mode_10 Mbps]



0.96 9.59 0.05 74.00 47.46 57.10 64.00

1.52 9.53 0.04 74.00 39.43 49.00 64.00

1.92 9.51 0.09 74.00 46.31 55.90 64.00

2.88 9.48 0.07 74.00 43.15 52.70 64.00

6.41 9.44 0.14 74.00 37.62 47.20 64.00

9.83 9.44 0.26 74.00 37.90 47.60 64.00


한계값 [dBμV]


준첨두치

한계값 [dBμV]

* 시험결과

적합 부적합

* 측정그래프

별첨



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Figure 1 : 10 Mbps




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측정일 : 2015년 03월 18일


[Bluetooth mode_10 Mbps]



0.96 9.59 0.05 74.00 47.46 57.10 64.00

1.51 9.53 0.04 74.00 36.53 46.10 64.00

1.92 9.51 0.09 74.00 20.91 30.50 64.00

2.88 9.48 0.07 74.00 43.45 53.00 64.00

5.00 9.44 0.00 74.00 34.26 43.70 64.00

12.56 9.44 0.31 74.00 46.14 55.90 64.00


한계값 [dBμV]


준첨두치

한계값 [dBμV]

* 시험결과

적합 부적합

* 측정그래프

별첨



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Figure 1 : 10 Mbps




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7.3 1 이하 방사성 방해 시험

7.3.1 측정설비


EMI TEST

RECEIVER ESU 40 Rohde & Schwarz 100202 2015.04.03

Software EMC32 Rohde & Schwarz Version 8.53.0 -

TRILOG Broadband

Test Antenna VULB 9163 SCHWARZBECK 9163-454 2016.02.11

CONTROLLER CO2000-G innco systems GmbHCO2000/562/

23890210/L -

OPEN SWITCH AND

CONTROL UNIT OSP-120 Rohde & Schwarz 100015 -

ANTENNA MAST

(LEFT) MA4000-EP

innco systems

GmbH N/A -

Turn Table DT3000-3T innco systems

GmbH N/A -

Signal Conditioning

Unit SCU 01 Rohde & Schwarz 10030 2015.04.03


7.3.2 시험장소 : ANECHOIC CHAMBER (10 m)

7.3.3 환경조건 : 온도 21.9 C, 습도 31.0 % R.H., 기압 100.0

7.3.4 시험방법


1) 수검기기 및 시스템을 취급설명서 상에 기술된 상태로 구성함.

2) 수검기기가 특정설비와 함께 사용되어질 때에는 해당 설비를 함께 접속하며 어떤 시스템의 일부로

사용되는 부분품의 경우에는 그 시스템에 설치하여 정상동작 시킴.

3) 각 접속단자(인터페이스 포트)마다 해당 주변기기를 접속하고 시험함.

4) 수검기기에 접지단자가 있는 경우에는 접지하고 전원선 플러그를 통해 내부접지된 수검기기는

사용전원을 통해 접지하고 시험함.

5) 통상 테이블 위에 올려놓고 작동하는 수검기기는 접지면으로부터 0.8 m 높이의

시험 위에서 시험하고, 바닥에 설치하는 수검기기는 바닥면에서 시험함.

6) 수검기기는 동작모드, 전송속도 등이 다른 경우에는 각각 시험하여 가장 높은 측정값을 시험값으로

선택함.

7) 수검기기는 통상 사용 상태에서 각 주변기기 및 케이블 등을 최 방사가 일어나도록 배치함.



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8) 수검기기를 360도 회전시키고, 안테나 높이를 (1 - 4) m 높이로 가변하며, 수평 및 수직편파

각각의 최 방사점을 찾음.

9) 측정거리는 10 m로 함.

10) 잡음 전계강도는 다음식으로 산출하되, 보정요인이 자동 보정되는 경우에는 그때

측정치를 그 로 적용.

F1 [μ V/m] = F2 [μ V] + AF [/m] + CL [] + AMP GAIN []

F1 : 최종측정치 F2 : 계기지시치 AF : 안테나 보정계수 CL : 케이블손실

AMP GAIN : 수신 증폭기 이득



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7.3.5 방사성 방해 시험(1 이하) 시험결과

측정일 : 2015년 03월 20일


[ITE mode]

* 시험결과

적합 부적합



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측정일 : 2015년 03월 20일


[2.4 GHz WiFi mode]

* 시험결과

적합 부적합



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측정일 : 2015년 03월 20일


[5 GHz WiFi mode]

* 시험결과

적합 부적합



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측정일 : 2015년 03월 20일



* 시험결과

적합 부적합



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7.4 1 이상 방사성 방해 시험

7.4.1 측정설비


SIGNAL ANALYZER FSV ROHDE &

SCHWARZ 102302 2016.01.08

Software EMC32 Rohde & Schwarz 8.53.0 -

Preamplifier 8449B HP 3008A00107 2016.01.08

Double Ridged

Broadband Horn

Antenna

BBHA 9120 D Schwarzbeck 9120D-508 2015.02.28

OPEN SWITCH AND

CONTROL UNIT OSP-120 Rohde & Schwarz 100081 -

Turn Table DS 1200 S Innco systems

GmbH N/A -

Antenna Mast MA 4000 Rohde & Schwarz N/A -

7.4.2 시험장소 : Full Anechoic Chamber

7.4.3 환경조건 : 온도 19.4 C, 습도 40.0 % R.H., 기압 99.5

7.4.4 시험방법


1) – 6) 7.3.4 시험방법과 동일

7) 피시험기기는 통상 사용 상태에서 각 주변기기 및 케이블 등을 최 방사가 일어나도록 배치함.

8) 피시험기기를 방위각(0° - 360°) 상에서 회전시키고 수신안테나를 피시험기기 높이에 따라

이동시키면서, 수평 및 수직편파 각각의 최 방사점을 찾음.

9) 측정거리는 3 m 로 함.

10) 잡음 전계강도는 다음식으로 산출하되, 보정요인이 자동 보정되는 경우에는 그때

측정치를 그 로 적용.

F1 [μ V/m] = F2 [μ V] + AF [/m] + CL [] + AMP GAIN []

F1 : 최종측정치 F2 : 계기지시치 AF : 안테나 보정계수 CL : 케이블손실

AMP GAIN : 수신 증폭기 이득



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7.4.5 방사성 방해 시험(1 이상) 시험결과

측정일 : 2015년 03월 19일


[ITE mode]

* 시험결과

적합 부적합



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측정일 : 2015년 03월 19일


[2.4 GHz WiFi mode]

* 시험결과

적합 부적합



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측정일 : 2015년 03월 19일


[5 GHz WiFi mode]

* 시험결과

적합 부적합



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측정일 : 2015년 03월 19일



* 시험결과

적합 부적합



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7.5 정전기방전 내성시험

7.5.1 측정설비


ESD Simulator ESS-2000 Noiseken 0199CO2406 2015.10.13

ESD Gun TC-815P Noiseken 1199CO2485 2015.10.13

7.5.2 시험장소 : SHIELDED ROOM (EMS)

7.5.3 환경조건

기준치 측정치

온도(25 ± 10) C 19.6 C

습도(45 ± 15) % R.H. 36.0 % R.H.

기압(96 ± 10) 100.1

7.5.4 시험조건

방전간격: 1회 / 1초

방전임피던스: 330 / 150 pF

방전종류: 직접방전-공기중방전

간접방전-수평결합면, 수직결합면

극성: + / -

방전회수: 접촉방전-최소 4개의 시험지점(각 지점에서 최소한 50회의 방전)

에서 양극 및 음극으로 각 100회씩 적어도 200회

공기중방전-최소 10회의 단일 공기중 방전

성능 평가 기준: B

방전전압:

구분 직접방전 간접방전

접촉방전 공기중방전 수평결합면 수직결합면

인가전압

±2 ±2 ±2 ±2

±4 ±4 ±4 ±4

- ±8 - -

7.5.5 시험방법

※ 전자파 보호 시험방법 : 국립전파연구원 공고 제 2014-92 호

공통조건

1) 기준접지면(GRP)는 피시험기기 도는 수평 결합면(해당하는 경우)보다 모든 면엔서 적어도 0.5 m

커야하며, 보호 접지 계통에 연결되어야 한다.

2) 수검기기와 시험실 또는 기타 금속물 간의 거리는 1 m 이상 격리 하여야 한다.

3) 정전기 방전 발생기의 방전 회귀용 선로를 기준접지면에 연결하여야 한다. 이 선로의 전체 길이는

일반적으로 2 m 이다.

정전기 방전 발생기의 방전 귀환 케이블은 기준접지면에 연결되어야 한다. 선택된 지점에 방전을



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적용시키기 위해 필요로 하는 길이를 초과하는 경우의 케이블 길이에 해서는 가능한한 초과된

길이는 접지면으로부터 유도성이 없는 곳에 놓여져야 한다. 방전 귀환 케이블은 기준접지면을 제외

하고 시험 배치의 다른 도전부에서 0.2 m 이내에 있지 않아야 한다.

3) 탁상설치형기기

기준접지면에서 (0.8 ± 0.08) m 높이에 있는 목재 테이블 위에 시험배치를 하여야 한다.

(1.6 ± 0.02) m x (0.8 ± 0.02) m x (0.8 ± 0.02) m 크기의 수평결합면(HCP)을 테이블 위에 놓아야

한다. 피시험기기와 케이블들은 (0.5 ± 0.05) mm 두께의 절연 지지물로 결합면과 격리되어 있어야

한다. 주) 절연 특성을 유지하는 것이 바람직하다.

4) 시험결과의 재현성을 위하여 정전기방전발생기는 수검기기의 표면에 수직으로 시험전압을 인가한다.

공기중 방전시험

1) 방전 전극의 원형 방전 팁은 기계적인 손상이 없이 피시험기기와 맞닿기 위해 가능한 한 빨리 근접

해야 한다. 각각의 방전 후에 정전기방전 발생기(방전 전극)는 피시험기기로부터 제거되어야 한다.

그리고 나서 발생기는 새로운 단일 방전을 위해 재충전 되어야 한다.

접촉 방전시험

1) 접촉방전의 경우에는, 방전 전극의 팁이 방전 스위치가 작동되기 전에 피시험기기와 닿아야 한다.

2) 전도 물질을 덮고 있는 페인트칠이 된 표면의 경우에는 다음 과정을 적용하여야 한다.

코팅이 장비 제조업자에 의해 절연 코팅이라고 명시되어있지 않다면, 그 때는 발생기의 뽀족한 팁은

전도 물질과 닿도록 코팅을 통과해야 한다. 제조업자에 의해 절연으로 명시된 코팅은 기중 방전

시험하여야만 한다. 접촉방전 시험은 그러한 표면에 적용되어선 안 된다.



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7.5.6 정전기방전 인가부위

[수검기기 전면]

[수검기기 후면]

2

1

공기중

접촉

1

3

5 3

2

4

6

7



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7.5.7 시험결과 : 적합 부적합

시험일 : 2015년 03월 16일


인가방식 No. 인가부위 방전방법 기준 결과 비고

간접인가 수평결합면

접촉방전 B A -

수직결합면 B A -

직접인가

1 Enclosure

(Conductive surface) 접촉방전 B A -

2

Enclosure

(Non-conductive surface),

Adaptor

공기중방전 B A -

3 USB Port 공기중방전 B A -

4 Audio out port 공기중방전 B A -

5 Mini Display port 공기중방전 B A -

6 HDMI port 공기중방전 B A -

7 LAN port 공기중방전 B A -

7.5.8 시험자 의견

처음의 동작상태를 유지하고 성능평가 A를 만족함.



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7.6 방사성 RF 전자기장 내성시험

7.6.1 측정설비

사용장비 모델명 제조자 제조번호 차기교정일 사용여부

Power Meter E4419B HP GB39511164 2016.01.09

Power Sensor 8482A HP US37293322 2016.01.09

Power Sensor 8482A HP US37293323 2016.01.09

POWER AMPLIFIER NA25MF1G2010C Noiseken A00518 -

POWER AMPLIFIER NA1GF3G50 Noiseken A30748 -

SIGNAL GENERATOR SMP02 Rohde&Schwarz 833286/003 2015.07.16

System Controller PC MV10 삼성전자 N/A -

Emergency Stop Device NER-01A Noiseken 0199C02406 -

BICONICAL LOG

ANTENNA LPB-2520/A ARA 1209 2015.03.05

Horn Antenna BBHA 9120 A Schwarzbeck 349 2016.10.23

7.6.2 시험장소 : ANECHOIC CHAMBER (3 m)

7.6.3 환경조건 : 온도 18.8 C, 습도 35.0 % R.H., 기압 100.0

7.6.4 시험조건

안테나 위치: 수평 및 수직

안테나 거리: 3 m

전계강도: 3 V/m

주파수범위: 80 to 1 000 , 1 400 to 2 700

변조: AM, 80 %, 1 sine wave

체재시간: 0.5 s 이상(피시험기기의 최소 동작 반응 시간)

주파수 스텝: 1 % step

인가 부위: 4면

성능 평가 기준: 6.2 성능평가기준 참조

7.6.5 시험방법


1) 시험에 사용된 전자파 무반사실은 기준 접지면으로부터 0.8 m 이상 높이에서 정해진 1.5 m x 1.5 m

의 가상 수직면에 한 전자장의 강도가 규정치의 0 - +6 이내의 균일 전자장이 형성되었다.

2) 탁상용 기기는 0.8 m 높이의 비전도성 받침 위에 배치하고, 바닥설치형 기기는 지지면 위로

0.05 m 부터 0.15 m의 비전도성 지지물에 올려야 한다.



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3) 각각의 주파수에서의 체재시간은 수검기기가 동작하고 응답할 수 있는데 필요한 시간 이하가

되어서는 아니되며 클럭주파수와 같은 민감한 주파수는 별도로 분석 되어야 한다.

7.6.6 시험배치의 평면도

EUT

3 mComputer

Signal Generator

RF Output

Amplifier

Ant.



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시험일 : 2015년 03월 17일


80 to 1 000

인가부위 기 준 성능 평가 결과

수평 수직

전면 A A A

후면 A A A

우측면 A A A

좌측면 A A A

1 400 to 2 700

인가부위 기 준 성능평가결과

수평 수직

전면 A A A

후면 A A A

우측면 A A A

좌측면 A A A





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7.7 전기적 빠른 과도현상-버스트

7.7.1 측정설비


FAST TRANSIENT

SIMULATOR FNS-AXII B50 Noiseken 0199BO1147 2015.10.06

Capacitive

Coupling Clamp 15-00001A Noiseken - 2015.10.06


7.7.3 환경조건 : 온도 20.0 C, 습도 35.0 % R.H., 기압 100.5

7.7.4 시험조건

인가전압 및 극성: 입출력 교류전원 단자 1.0

입출력 직류전원 단자 0.5

신호선 및 통신 단자 0.5

임펄스 반복률: 5

임펄스 상승시간: 5 ns 30 %

임펄스 주기: 50 ns 30 %

버스트 지속시간: 15 ms 20 %

버스트 주기: 300 ms 20 %

인가 시간: 1분 이상

인가 방법: 입력 교류전원 단자 (결합/감결합 회로망)

입력 직류전원 단자 (결합/감결합 회로망)

신호선 및 통신 단자 (용량성 결합 클램프)

성능 평가 기준:

7.7.5 시험방법


1) 탁상형 기기의 경우에 피시험기기는 접지 기준면 위 0.1 m ± 0.01 m 두께 위에 놓여야 한다.

통상적으로 천정 또는 벽에 설치되는 피시험기기는 접지기준면 위 0.1 m ± 0.01 m 두께 위에

위치시킨 피시험기기인 탁상설치형 기기로 시험하여야 한다.

2) 수검기기는 수검기기 하단부의 위치에 기준접지면을 제외한 모든 다른 금속 구조물로부터 최소

0.5 m 이상 떨어져야 한다.

3) 수검기기는 취급설명서에 따라 접지 시스템에 연결시키고, 추가적인 접지는 연결하지 않는다.

4) 결합클램프의 결합판은 결합클램프 하단부에 위치한 기준 접지면을 제외한 모든 다른 금속 구조물로

부터 최소 0.5 m 이상 떨어져야 한다.

5) 피시험기기와 결합 장치 사이의 케이블 길이는 0.5 m - 3 m 범위에서 최 한 짧아야 한다. (KN 24)

수검기기와 결합소자 사이의 신호선 및 전원선의 길이는 0.5 m ± 0.05 m 이어야 한다.(KN 301 489-1)

제조자에 의해 제공된 비분리형 전원 공급 케이블이 제품의 길이와 함께 0.5 m ± 0.05 m를 초과하면

B



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접지 기준면 0.1 m 위에 위치시키고 평평한 코일을 피하기 위해 초과되는 케이블을 접어야 한다.


시험일 : 2015년 03월 16일


[입출력 교류전원단자]

적 용 부 분 기 준

성능평가결과

(+) 버스트 (-) 버스트

L1 B A A

L2 B A A

L1-L2 B A A

[신호선 및 통신 단자]

적 용 부 분 기 준 성능 평가 결과

(+) 버스트 (-) 버스트

LAN B A A





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7.8 서지 내성시험

7.8.1 측정설비


SURGE SIMULATOR LSS-6030 Noiseken 9099E00349 2015.10.15


7.8.3 환경조건 : 온도 19.1 C, 습도 33.0 % R.H., 기압 100.3

7.8.4 시험조건

서지전압: 입력 교류전원 단자 선-선: 0.5 , 1.0

선-접지: 0.5 , 1.0 , 2.0

교류(AC)전원포트(통신센터) 선-선 : 0.5

교류(AC)전원포트(통선-접지 : 1.0

입력 직류전원 단자 선-접지: 0.5

신호선 및 통신 단자 선-접지: 1.5 , 4.0 [4] 참조]

통신포트 옥외용 (통신센터) 선-접지: 0.5

통신포트 옥외용 (일반) 선-접지: 1.0

통신포트 옥내용 선-접지: 0.5

전원포트 통신포트

개방회로전압파형 1.2 / 50 μ s 1.2 / 50 μ s

10 / 700 μ s

단락회로전류파형 8 / 20 μ s 8 / 20 μ s

인가회수 각 5 회 각 5 회

위상 0, 90, 180, 270 (입력 교류전원 단자)

비동기

극성 +, - +, -

반복률 1 회 / 1 분 1 회 / 1 분

성능평가기준 6.2 성능평가기준 참조 6.2 성능평가기준 참조

자동차 환경 조건

자동차 환경에서의

전기적 빠른

과도현상/버스트

및 서지

직류(DC)

12 및 24

전원 포트

펄스 1,2a, 2b, 4

ISO 7637-2 에서

규정하는 시험레벨 Ⅲ

각 10 회 ISO 7637-1 B

펄스 3a, 3b

ISO 7637-2 에서

규정하는 시험레벨 Ⅲ

각 20 분 ISO 7637-1 A



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7.8.5 시험방법


1)특별히 명시되어 있지 않은 한, 서지는 제로크로싱과 교류전압파형(정 및 부)의 최 값에서 전압위상

에 동기되도록 인가한다.

2)서지는 선과 선간 및 선과 접지간에 인가되어야 한다. 선과 접지간 시험인 경우에 특별한 조건이 없

는 한, 시험전압은 각각의 선과 접지간에 연속적으로 인가되어야 한다.

3)시험절차는 시험품의 비선형 전류-전압특성을 고려하여 단계적으로 전압을 상승시키며 시험하여야 한

다.

4) 주요 안전장치가 의도된 포트에 해서는 서지는 주요 안전장치가 설치된 상태에서 최 4 전압

까지 적용되어야 한다. 주요 안전장치가 설치되지 않은 상태에서는 1.5 가 가장 적절한 레벨이다.



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시험일 : 2015년 03월 16일


[입출력 교류전원 단자]

[신호선 및 통신단자]

적 용 부 분 기 준 성능 평가 결과

(+) 서지 (-) 서지

- - - -

* 해당사항 없음.



적 용 부 분 인가전압 기준 성능평가결과

L1 – L2 +0.5 , +1.0

B A -0.5 , -1.0

L2 – L1 +0.5 , +1.0

B A -0.5 , -1.0



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7.9 전도성 RF 전자기장 내성시험

7.9.1 측정설비


Continuous

Wave Simulator CWS 500 C S1 emtest V0706102236 2015.04.03

CDN NCDN-M3-16A FCC 2020 2015.04.02

CDN NCDN-M3-16A FCC 2021 2015.04.02

CDN NCDN-M2-16A FCC 2012 2015.04.02

INJECTION PROBE NEM-32 FCC 411 2016.02.13

7.9.2 시험장소 : 시험실

7.9.3 환경조건 : 온도 17.1 C, 습도 35.0 % R.H., 기압 100.0

7.9.4 시험조건

주파수범위: 150 - 80

전계강도: 3 V

변조: AM, 80 %, 1 sine wave

체재시간: 0.5 s 이상(피시험기기의 최소 동작 반응 시간)

주파수스텝: 1 % step

성능 평가 기준: A

7.9.5 시험방법


1) 수검기기를 설치한후 내성 기준에 명시된 주파수 범위, 시험레벨을 설정하여 시험주파수 역을

스위프 시킨다.

2) 각각의 주파수에서 진폭 변조된 반송파의 체재시간은 피시험기기에 신호를 인가하여 응답하기까지

필요한 시간보다 작아서는 안 된다. 그러나 어떤 경우에도 0.5초 이하이여서는 안 된다. 민감한

주파수들(예를 들어, 클럭 주파수)에서는 개별적으로 분석해야 한다.

3) 시험은 각각의 결합 및 감결합 장치에 연결된 시험발생기를 가지고 수행되어야 하고 주입법으로

사용되지 않는 결합/감결합 회로망 중에서 오직 하나만이, 하나의 회귀 경로를 제공하도록 50 Ω

으로 종단되어야 한다.

4) 수검기기는 기준접지면 위로 0.1 m 높이의 절연 지지 위에 놓는다.

5) 결합 / 감결합 장치가 필요한 경우에는, 이 장치들은 피시험기기로부터 0.1 m - 0.3 m 사이에

위치하여야 한다. 이 거리는 기준접지면 상에 피시험기기의 투영부로부터 결합 / 감결합 장치까지

수평으로 측정된 거리이다.

6) 주파수 범위는 규정된 로 스캔한다. 그러나 몇몇 선택(통신 터미널 기기, 디지털 인터페이스를 포함하는

통신 터미널 장비, 팩시밀리)된 주파수들에 해서 추가적인 포괄적 기능 시험이 수행되어야 한다.



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시험일 : 2015년 03월 17일


[입출력 교류 전원단자]

인가부위 인가방법 기준 성능 평가 결과

주전원입력 CDN(M2) A A

[신호선 및 통신단자]

인가부위 인가방법 기준 성능평가결과

LAN Clamp A A





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7.10 전원 주파수 자기장 내성시험 (해당사항 없음.)

7.10.1 측정설비

사용장비 모델명 제조자 제조번호 차기교정일 사용여부

LOOP COIL INA2170 Schaffner 200012-008SC 2015.03.17

AC POWER SOURCE Profline 2115-400 Schaffner 35000361 2015.10.09


7.10.3 환경조건 : 온도 C, 습도 % R.H., 기압

7.10.4 시험조건

자기장세기: 1 A/m

주파수: 60

성능 평가 기준: A

7.10.5 시험방법


1) 수검기기를 설치한 후 1 m x 1 m 표준 정사각형 유도코일을 사용하여 장비가 시험자기장 하에

있도록 설치한다.

2) 각각의 방향으로 시험 자기장을 피시험기기에 노출시키기 위해서 유도코일의 면을 90˚ 회전시켜

시험한다. (X-Y-Z 방향)

3) 피시험기기 치수에 잘 들어맞는 적절한 크기의 유도코일은 절연 지지 를 사용하여 시험실 벽과

어떤 자성체로부터 최소 1 m 의 거리를 두고 위치하여야 한다.

4) 수검기기는 1 m x 1 m 이상 넓이의 기준 접지면 위에 놓인 0.1 m 높이의 절연지지물 위에 놓인다.



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시험일 : 2013년 07월 01일


유도코일 위상 / 편파 기 준 성능 평가 결과

X A -

Y A -

Z A -

7.10.7 시험자 의견

상기기가 아니므로 해당사항 없음.



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7.11 전압 강하 및 순간 정전 내성시험

7.11.1 측정설비


AC POWER SOURCE Profline 2115-400 Schaffner 35000361 2015.10.07

7.11.2 시험장소 : 시험실

7.11.3 환경조건 : 온도 19.9 C, 습도 36.0 % R.H., 기압 100.1

7.11.4 시험조건

전압의 오버슈트/언더슈트 : 전압변화의 5 % 이내

전압상승과 하강시간 : 1 – 5

시험전압의 주파수 편차 : ±2 % 이내

수검기기 인가전압 : a.c. 220 V, 60

시험회수 : 3회

시험간격 : 10초

성능 평가 기준 :

[KN 24]

감쇄량 주기 기 준

전압 강하 95 % 초과 0.5 B

30 % 30 C

순간 정전 95 % 초과 300 C

[KN 301 489-1]

감쇄량 주기 기 준

전압 강하

100 % 0.5 B

100 % 1 B

30 % 30 B

순간 정전 100 % 300 C

7.11.5 시험방법


1) 시험은 시험발생기에 피시험기기 제조자에 의해 규정된 가장 짧은 전원공급선으로 시험 신호발생기

에 연결된 피시험기기로 수행되어야 한다.



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2) 시험전압의 주파수는 정격 주파수의 ±2 % 이내 이어야 한다.

3) 시험중 시험용 주전원 전압은 2 %의 정확도 내에서 관측한다. 신호발생기의 영점교차 조절은

±10˚ 의 정확도를 가져야 한다.

4) 전원 공급전압의 급격한 변화는 전압의 영점 교차에서 발생해야 한다.


시험일 : 2015년 03월 16일


[KN 24]

감쇄량 주기 기 준 성능 평가 결과

전압 강하 95 % 초과 0.5 B A

30 % 30 C A

순간 정전 95 % 초과 300 C C

[KN 301 489-1]

감쇄량 주기 기 준 성능 평가 결과

전압 강하

100 % 0.5 B A

100 % 1 B A

30 % 30 B A

순간 정전 100 % 300 C C

7.11.7 시험자 의견

전압강하 시험은 처음의 동작상태를 유지하고 성능평가 A를 만족함.

순간정전 시험은 시험중 EUT의 전원이 OFF되나, 시험 종료후 시험자의 인위적인 조작에 의해

정상동작하므로 성능평가 C를 만족함.



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8.0 측정장면 사진

8.1 전자파 전도성 방해 시험(주전원 포트) [전면]

[측면]



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8.2 전자파 전도성 방해 시험(통신 포트) [전면]

[측면]



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8.3 방사성 방해 시험(1 이하)

[전면]

[후면]



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[EUT Port]



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8.4 방사성 방해 시험(1 이상)

[전면]

[후면]



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8.5 정전기방전 내성시험

8.6 방사성 RF 전자기장 내성시험



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8.7 전기적 빠른 과도현상

8.8 서지 내성시험



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8.9 전도성 RF 전자기장 내성시험

8.10 전압강하 및 순간 정전 내성시험



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9.0 수검기기사진 [전면]

[후면]



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[내부]

[라벨]

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