Scientific / Metrology Instruments走査電子顕微鏡

InTouchScope シリーズ

JSM-IT300HR

〒100-0004　東京都千代田区大手町 2 丁目 1 番 1 号　大手町野村ビル 13 階TEL：03-6262-3560　FAX：03-6262-3577　TEL : 03-6262-3567TEL : 03-6262-3568TEL : 03-6262-3570TEL : 03-6262-3571　〒100-0004　東京都千代田区大手町 2 丁目 1 番 1 号　大手町野村ビル 18 階TEL：03-6262-3580（代表）　FAX：03-6262-3588東京 SI1 グループ TEL : 03-6262-3581東京 SI2 グループ TEL : 03-6262-3582東京 SI3 グループ TEL : 03-6262-5586ME 営業グループ　TEL : 03-6262-3583　〒190-0012　東京都立川市曙町 2 丁目 8 番 3 号　新鈴春ビル 9 階SE 営業部 TEL : 042-528-3491ソリューションビジネス部 TEL : 042-526-5098　〒222-0033　神奈川県横浜市港北区新横浜 3 丁目 6 番 4 号　新横浜千歳観光ビル 6 階TEL：045-474-2181　FAX：045-474-2180　〒060-0809　北海道札幌市北区北 9 条西 3 丁目 19 番地　ノルテプラザ 5 階TEL：011-726-9680　FAX：011-717-7305　〒980-0021　宮城県仙台市青葉区中央 2 丁目 2 番 1 号　仙台三菱ビル 6 階TEL：022-222-3324　FAX：022-265-0202　〒305-0033　茨城県つくば市東新井 18 番 1TEL：029-856-3220　FAX：029-856-1639　〒450-0001　愛知県名古屋市中村区那古野 1 丁目 47 番 1 号　名古屋国際センタービル 14 階TEL：052-581-1406　FAX：052-581-2887　〒532-0011　大阪府大阪市淀川区西中島 5 丁目 14 番 5 号　ニッセイ新大阪南口ビル 11 階TEL：06-6304-3941　FAX：06-6304-7377

〒532-0011　大阪府大阪市淀川区西中島 5 丁目 14 番 5 号　ニッセイ新大阪南口ビル 1 階TEL：06-6305-0121　FAX：06-6305-0105　〒730-0015　広島県広島市中区橋本町 10 番 6 号　広島 NS ビル 5 階TEL：082-221-2500　FAX：082-221-3611　〒760-0023　香川県高松市寿町 1-1-12　パシフィックシティ高松 5 階TEL：087-821-0053　FAX：087-822-0709　〒812-0011　福岡市博多区博多駅前 2 丁目 1 番 1 号　福岡朝日ビル 5 階TEL：092-411-2381　FAX：092-473-1649

Boston, Paris, London, Amsterdam, Stockholm, Sydney, Milan, Singapore, Munich, Beijing, Moscow, Sao Paulo ほか

東京事務所営業企画室　EO 営業推進室AI 営業推進室産業機器営業部ME ソリューション販促室　東京支店

　東京第二事務所

　　　　横浜事務所

　札幌支店

　仙台支店

　筑波支店

　名古屋支店

　大阪支店

　西日本ソリューションセンター

　広島支店　　　　　高松支店

　福岡支店　　　　

海外事業所・営業所

このカタログに記載の情報、説明、製品仕様などは改良のため、予告なく変更されることがあります。

このカタログに記載した製品は、外国為替及び外国貿易法の安全輸出管理の規制品に該当する場合がありますので、輸出または日本国外へ持ち出すときは当社までお問い合わせ下さい。

本社・昭島製作所　〒196-8558　東京都昭島市武蔵野 3 丁目 1 番 2 号　TEL：042-543-1111（大代表）　FAX：042-546-3353 www.jeol.co.jp　　ISO9001・ISO14001　認証取得

低真空機能を利用する事で絶縁物を導電処理せずに観察できます。試料：ブルーライトカットグラス断面（集束イオンビーム加工観察装置JIB-4000：FIBによる断面加工）　加速電圧：3 kV倍率：×50,000　低真空モード　反射電子組成像

数10 nmの微細な構造を確認できます。試料：ガラス上のITO膜　加速電圧 ：15 kV倍率：×100,000　高真空モード　二次電子像

試料：セルロースナノファイバー（CNF）　導電処理なし加速電圧：1 kV　倍率：×2,500　高真空モード　二次電子像

組成像観察によりコーティングの欠損部分が確認できます。また低加速電圧を用いることで形状も鮮明に観察できます。試料：パール剤（化粧品）　加速電圧：3 kV倍率：×50,000　高真空モード　反射電子組成像

加速電圧1 kVを用いてビームダメージを軽減し繊維1本1本の太さが分かる高倍率で観察できます。加速電圧：1 kV　倍率：×30,000　高真空モード　二次電子像

試料ご提供：京都大学 生存圏研究所 生物機能材料分野（生存圏研究所／生存圏開発創成研究系）　矢野 浩之 様　　阿部 賢太郎 様

ブルーライトカットグラス表面異常部の断面を観察することで正常部（左写真）と違う構造を確認できます。

0.5 μm

正常部 異常部

カーボンデポジション

光学薄膜

カーボンデポジション

光学薄膜

新開発の電子銃とレンズ系により驚きの高画質観察を実現

驚きのパフォーマンス！　 観察

拡大

0.5 μm 0.5 μm

10 μm 0.5 μm

0.1 μm

30 nm

18 nm

02 ／ J S M - I T 3 0 0 H R

タブレット感覚で操作できる、まさに「スマート」なタッチパネル機能

試料に直接触れているような感覚で操作することのできるMulti Touch Operating Systemの優れた追従性は、高速で高精度な5軸モーターステージだからこそ実現しました。画面にタッチして、試料をあらゆる方向へ動かせます。

チャンバースコープ （Option）

SEM試料室内に入れた後はブラックボックスになっていた試料の状態を、チャンバースコープでモニターできます。凹凸の大きい試料も安心して観察する事が出来ます。

オペレーションパネル （Option）

つまみの操作に慣れた方でもこだわりの操作を手助けします。

JSM-IT300HRは試料交換時に操作手順が表示されるので、初めての方でも安心して作業が行えます。モーターステージとステージナビゲーションシステムを組み合わせれば視野探しが光学顕微鏡感覚で行えます。

快適な操作性

画面にタッチして視野移動や拡大縮小

ステージナビゲーションシステム （Option）

試料交換時にCCDカメラで試料全体像を撮影。取り込まれたカラー画像はステージナビゲーション画像としてステージ座標とリンクできます。GUI上でステージナビゲーション画像の１点をダブルクリックすると、その位置がステージ移動により画面中心に移動します。肉眼で観察位置を確認しているような感覚で視野探しが行えます。

CCDの画像でナビゲート※デジタルズーム可能※画素数120万

SEM像もスナップショットでナビゲート

最短距離で観察視野へ！！

J S M - I T 3 0 0 H R ／ 03

加速電圧 6 kV 加速電圧 15 kV

元素分析も驚きの高感度・高空間分解能を実現

驚きのパフォーマンス！　 元素分析

試料：HDD断面（クロスセクションポリッシャー：CPによる断面加工）

加速電圧：5 kV　照射電流：3 nA　倍率：×15,000

加速電圧6 kVで測定した結果です。試料内での入射電子の散乱が抑えられ各元素の分布が鮮明に確認できます。

加速電圧15 kVで測定した結果です。試料内での入射電子の散乱が大きいためエッジににじみが見られます。

JSM-IT300HRは各分析条件においても高い分解能が得られます。これによりサブミクロン領域のEDS分析が簡単に行なえます。

試料：鉛はんだ　反射電子組成像

試料内（Sn）の入射電子線散乱領域　※モンテカルロシミュレーション

加速電圧6 kV 加速電圧15 kV

3.0 μm 3.0 μm

3.0 μm

2.0 μm

◀ライン分折位置

3.0 μm

3.0 μm

Pb MIMG1(frame 1)

Sn L

Pb M

Sn L

HDD断面のNi-Al界面に対してライン分析を行いました。低加速電圧（5 kV）、大照射電流（3 nA）でも小さいプローブ径が得られているため、Ni-Al界面の特性X線の強度変化がシャープにとらえられています。

Al強度スペクトル Ni強度スペクトル

04 ／ J S M - I T 3 0 0 H R

開き角最適化レンズ（ACL）※

開き角最適化レンズ（ACL）は、対物レンズの上に置かれ、対物レンズの開き角を全電流範囲にわたり自動的に最適化します。これにより、試料照射電流が大きい場合も、従来方式に比べて小さい電子プローブ径が得られます。

※Aperture Angle Control Lens※日本電子特許　特許番号　第4146103

多目的試料室

計12個のポートを有するマルチパーパス チャンバー。観察と分析、各検出器のディメンションが最適化され、EDS、 EBSD、 WDSが同一作動距離（10 mm）で分析可能になりました。ふたつのEDSポートとEBSDポートが同軸になるように配置。EDSとEBSDの同時分析や、完全対向Twin EDSによる分析が可能になります。

ワンタップ分析

SEM操作画面から基本的な分析操作をワンタップで実行できます。JEOL製SEMとEDSのインテグレーションにより、操作性は抜群です。

EDS1 portExclusive LSED port

EBSD port

WDS port

Multi Purpose port × 2

EDS2 port

新光学系 従来形の光学系

大プローブ電流時、プローブ径が大きくなります。

大プローブ電流時、開き角最適化レンズにより

小さいプローブ径が得られます。

開き角最適化レンズ

対物レンズ絞り

　　　 対物レンズ

　　 　 試料

JEOLは走査電子顕微鏡（SEM）とエネルギー分散型X線分析装置（EDS）の両方を開発・製造・販売している世界唯一のメーカーです。ハードとソフト、性能とデザイン、全ての面で完全なインテグレーションを実現しています。1台のPCで制御可能で、観察中の画像上からワンタップで分析ができます。

軽快な分析操作

J S M - I T 3 0 0 H R ／ 05

JEOLグループのノウハウを詰め込んだ標準レシピ機能は様々な分野の観察条件を準備しています。標準レシピから条件設定する事で、あらゆる試料の観察・分析に対応します。

※カタログ写真は標準レシピから設定した条件を用いて取得しています。

レシピ機能

安全機構

試料高さを入力することで機能するステージ安全機構。複雑な形状の試料も安全に観察・分析出来ます。

高速・高精度モーターステージ & 高速排気システム

高速・高精度モーターステージ新駆動方式の5軸モーターステージは、従来機以上の精度と高速化を達成しました。さらに、JEOL製FE-SEMと共通のホルダーを使用することができます。

◎ 高速、高精度◎ 最大試料寸法 8 inchΦ × 80 mm H◎ 最大積載量 2 kg◎ JEOL製FE-SEM共通ホルダー

大型試料室でも高速排気試料室排気は約3分。新設計の真空排気システムにより排気速度を高速化しました。大容量チャンバーを短時間で排気可能。ターボ分子ポンプとフォアライントラップでクリーンな真空排気を実現しています。

ユーザビィリティを追求

06 ／ J S M - I T 3 0 0 H R

分解能

　 高真空モード 1.5 nm（加速電圧30 kV）4.0 nm（加速電圧1 kV）

　 分析時 3.0 nm（加速電圧15 kV、照射電流1 nA）

　 低真空モード 1.8 nm（加速電圧15 kV、反射電子像）

写真倍率 ×5～×600,000（128 mm × 96 mmを表示サイズとして倍率を規定）

表示倍率×14～×1,679,449

（表示倍率はモニタ上での画像倍率です。358 mm ×269 mmを表示サイズとして倍率を規定。表示サイズを小さく設定することもできます）

電子銃 高輝度電子銃

加速電圧 0.5 kV～ 30 kV

照射電流 1 pA～20 nA低真空圧力設定範囲 10～150 Pa

開き角最適化レンズ 組込み

対物レンズ絞り 4段

非点メモリー あり

イメージシフト ± 50 μm（WD10 mm）

自動機能 フォーカス、明るさ/コントラスト、非点補正

試料交換 試料室ドアを開けて交換

最大試料寸法 直径：200 mm　高さ：80 mm

試料ステージ大形ユーセントリック式　X：125 mm　Y：100 mm　Z：80 mm　傾斜：－10～90° 回転：360°

標準レシピ あり

画像モード 二次電子像、REF像、組成、凹凸像、立体像

OS Windows®10

観察モニター 23型タッチパネル

画素数 640 × 480　1,280 × 960　2,560 × 1920　5,120 × 3,840

計測機能 あり（2点間距離、平行線間隔、角度、直径等）

画像編集ソフト Smile View TM

言語切換 UI上で可能（日本語、英語）

排気系 完全自動TMP：1台　SIP：2台RP：2台

※ 外観・仕様は改良のため予告なく変更することがあります。※ Windows の正式名称は、Microsoft Windows Operating System です。※ Microsoft、Windows は、米国 Microsoft Corporation の米国及び　 その他の国における登録商標または商標です。

主な仕様 主なオプション● 低真空二次電子検出器（LSED）● エネルギー分散型X線分析装置（EDS）● 波長分散型X線分析装置（WDS)● 後方散乱電子回折検出器（EBSD）● ロードロックチャンバー（予備交換室）● ステージナビゲーションシステム● チャンバースコープ● オペレーションパネル● 3D 計測ソフト● 操作テーブル

設置条件

幅（mm） 奥行（mm） 高さ（mm） 質量（kg）

鏡筒系ユニット 780 1,000 約 1,800 約 500

操作テーブル（小） 800 800 670～890昇降 約 40

操作テーブル（大） 1,200 800 670～890昇降 約 50

油回転ポンプ 522 221 316 約 23

除振ウェイト 243 146 317 約 14

電源単相AC100 V、 50/60 Hz、3.0 kVA、電圧変動± 10%以内

（3.0 kVA時の電圧降下3 %以内）

接地端子 D種接地以上

設置室　 室温 性能保証温度 20±5℃

　 湿度 60 ％以下

　 高度 2,000 m以下

　 浮遊交流磁場 0.3 μT以下

設置室の寸法 3,000 mm（幅） × 2,800 mm（奥行） ×2,300 mm（高さ）以上

ドアの大きさ 850 mm（幅） × 2,000 mm（高さ） 以上

設置室例

3,000

配電盤ロータリーポンプ除振ウェイト

2,800

1,00

0

1,200

800

780

出入口850 以上

単位：mm

液晶ディスプレー

オペレーションユニット

J S M - I T 3 0 0 H R ／ 07

毎月開催される定期講習

お客様の環境で講習

定期講習

出張講習

環境調査

対策工事

温度対策

騒音対策

磁場対策

振動対策

オーバーホール/整備劣化・消耗した部品の交換や経時変化による整備及び点検を行います。

保守契約装置性能を定常的に維持し信頼性を確保致します。（定期点検/故障時は優先対応/計画的な予算運用）

部品販売試料作製用材料・備品や装置稼働に欠かせない消耗品のほか、工具類・手袋・一般的な実験用消耗品も豊富に取り揃えております。

講習装置性能をフルに引き出していただけるよう豊富なコースで各種講習を行っております。

受託分析JEOL最新装置のノウハウを駆使して、最良のデータを提供致します。

パーコール装置の故障・不具合が発生した場合、お客様からのご依頼によりすみやかに、技術者を派遣、または部品交換を手配致します。

周辺機器販売装置をさらに使いやすく、分析・計測の幅を広げる周辺機器の販売。

設置室環境対策最高の分析結果を得るために、最新鋭の測定機器で装置の設置場所の環境を調査致します。JEOL独自のノウハウを活かして、最適な設置室をご提案致します。

お客様により良い快適をお届けするために様々なサポート体制を備えています。

弊社の装置をご使用のお客様に装置の性能をフルに引き出していただけるよう、昭島本社にて定期講習会を開催しております。

お客様の多様なニーズに合うように豊富なコースが準備されており、効果的に必要な知識・技能を習得していただくことができます。

受託分析 立会い分析 試料作製

お客様の試料をお預かりして、分析・測定いたします。

お客様とご一緒に分析・測定いたします。

最新機器を用いて試料作製をいたします。

試料作製から分析までトータルでサポート、各種分析手法のご相談にも応じます。分析・測定のみでもお受けします。

専任のオペレーターがお客様のご希望に沿って分析します。分析結果を確認しながらリアルタイムに分析箇所や条件の指定ができ、時間内での試料数に制限はありません。

試料作製の問題（設備がない、難しい、時間がない）を解決します。良いデータを得るためには、良い試料が必要です。経験豊かなスタッフが試料と分析機器に合った試料作製をいたします。

JEOL が誇る強力なサービス体制　お客様の良きパートナーを目指します・・・・それが私たちの原点です

サービス＆ソリューションのご案内

私たちのサービスは、お客様の装置を常に最良な状態に維持すること。

いつでも安心してお使いいただけるように装置をきめ細かくサポート致します。

私たちにできることを常に実践致します。

設置室環境対策・コンサルティング

日本電子にしかできない、お客様の装置に最適な設置室環境のトータルソリューションをご提案いたします。

最高の分析結果を得るために‥‥

TEL. 042-542-1193

TEL. 042-542-1106お問い合わせ

TEL. 042-544-8565お問い合わせお問い合わせ

受託分析

分析にお困りのときは、まずはお問い合わせください。

講習

こんなときは？

■■■■■■■■■■■■■■■

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受託分析 立会い分析 試料作製 講 座

データが欲しいレベルアップしたい装置の取扱いに自信がない最新装置でデータを取りたい自分の試料に合った前処理条件を作りたい自分の試料に合った観察条件を作りたい難しい試料作製を依頼したい試料作製～観察まで一連の流れを学びたい一緒に見ながら分析したい他に良い分析・測定方法ってないの？専門家に任せたい時間がない分析装置がない装置が混んでいて使えない前処理装置がない

JEOL Field Solution Serviceサービス＆ソリューションのご案内

アクティブ磁場キャンセラー設置例　

電子顕微鏡室　木質吸音板施工例

08 ／ J S M - I T 3 0 0 H R

毎月開催される定期講習

お客様の環境で講習

定期講習

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環境調査

対策工事

温度対策

騒音対策

磁場対策

振動対策

オーバーホール/整備劣化・消耗した部品の交換や経時変化による整備及び点検を行います。

保守契約装置性能を定常的に維持し信頼性を確保致します。（定期点検/故障時は優先対応/計画的な予算運用）

部品販売試料作製用材料・備品や装置稼働に欠かせない消耗品のほか、工具類・手袋・一般的な実験用消耗品も豊富に取り揃えております。

講習装置性能をフルに引き出していただけるよう豊富なコースで各種講習を行っております。

受託分析JEOL最新装置のノウハウを駆使して、最良のデータを提供致します。

パーコール装置の故障・不具合が発生した場合、お客様からのご依頼によりすみやかに、技術者を派遣、または部品交換を手配致します。

周辺機器販売装置をさらに使いやすく、分析・計測の幅を広げる周辺機器の販売。

設置室環境対策最高の分析結果を得るために、最新鋭の測定機器で装置の設置場所の環境を調査致します。JEOL独自のノウハウを活かして、最適な設置室をご提案致します。

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お客様の多様なニーズに合うように豊富なコースが準備されており、効果的に必要な知識・技能を習得していただくことができます。

受託分析 立会い分析 試料作製

お客様の試料をお預かりして、分析・測定いたします。

お客様とご一緒に分析・測定いたします。

最新機器を用いて試料作製をいたします。

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試料作製の問題（設備がない、難しい、時間がない）を解決します。良いデータを得るためには、良い試料が必要です。経験豊かなスタッフが試料と分析機器に合った試料作製をいたします。

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設置室環境対策・コンサルティング

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受託分析

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講習

こんなときは？

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受託分析 立会い分析 試料作製 講 座

データが欲しいレベルアップしたい装置の取扱いに自信がない最新装置でデータを取りたい自分の試料に合った前処理条件を作りたい自分の試料に合った観察条件を作りたい難しい試料作製を依頼したい試料作製～観察まで一連の流れを学びたい一緒に見ながら分析したい他に良い分析・測定方法ってないの？専門家に任せたい時間がない分析装置がない装置が混んでいて使えない前処理装置がない

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J S M - I T 3 0 0 H R ／ 09

広島サービスサポート

名古屋サービスサポート

仙台サービスサポート

福岡サービスサポート

筑波サービスサポート

本社

横浜サービスサポート

大阪サービスサポート

東京サービスサポート

高松サービスサポート

札幌サービスサポート

クロスセクションポリッシャー 断面試料作製装置ウルトラミクローム 精密イオンポリシングシステム 熱分解総合システム多機能オートサンプラー

パーツカタログ ダイヤモンドナイフフィラメント

（質量分析計）K型フィラメント

（透過／走査電子顕微鏡）

JEOL Maintenance Programには各種プランをご用意しています。

3年間サポート契約を特別割引価格でご用意しています。

年2回

全て保証

全て保証

定期点検

随時保守

交換部品

年1回

全て保証

全て保証

年1回

全て保証

単価10万円以上は有償※2

年1回

基本契約Ⅰ 基本契約ⅠⅠ 限定契約 3年間サポート契約※1

全て保証

全て保証

※1 ： 対象機種限定となります。　※2 ： 限定契約の交換部品については機種により条件が異なります。

電子顕微鏡（TEM/SEM/EPMAその他）、分析機器における試料作製用材料、備品、消耗品（遮蔽板、ダイヤモンドナイフ、スミナイフ、コーティング用材料、その他）、装置稼働に欠かせない消耗品（フィラメント、試料載台、キャピラリーカラム、カンチレバー、フィルムその他）また工具類、手袋、一般的な実験室用消耗品も豊富なラインアップでご提供しております。パーツカタログのご用命につきましては総合コールセンターまでお願いします。

装置の故障・不具合が発生した場合、お客様からのご依頼によりすみやかに、技術者を派遣、または部品交換を手配致します。

劣化・消耗した部品の交換や経時変化による整備及び点検を行います。

定期的な装置メンテナンスと緊急時は迅速な装置復旧を行います。お客様に最適なトータルソリューションをご提案するため、年間保守サービスをご用意しています。年間契約により、一定料金でご満足いただけるサービスをご提供いたします。

日本電子では、電子顕微鏡、分析機器などに関連する周辺機器を取り扱っております。

電子顕微鏡での観察や分析に成果をあげる試料作製装置をはじめ、画像処理装置、分析関連の付属装置やデータ処理ソフトウェアなど多くの関連製品を用意しています。

■電話、E-Mailでのタイムリーなコンサルタントサービス員による的確なアドバイスと技術サポートを提供します。装置オペレーターの方が代わられた際、装置取り扱い説明に関するご相談をお受けいたします。

■JEOL主催の定期講習会に年１回1名様に限り無料での受講をいただけます。（機種により、定期講習会が開催されない場合がございます）

■JEOL主催の各種セミナーへ年1回1名様に限り無料でご招待をいたします。（MSセミナー、SEM・EDSセミナー、その他）

■装置移設工事、設置室調査、その他契約工事につきましては、特別価格にてお受けいたします。

■PCのオペレーションシステム、PCのアップグレードについて特別価格にてご提供いたします。

■装置周辺機器、環境対策を含めたトータルソリューションをご提案します。

■トータルアプリケーションのご相談をお受けします。

■お客様の装置をリモートサポートで支援します。（対象機種限定となります。）■コールセンターシステムにより集中受付を行い、全国サービスネットワークにて迅速なお客様対応を行います。 弊社コールセンターシステムでは

保守契約のお客様を自動的に判断する事ができ、緊急に発生しました装置故障に対しては、最優先でのサポートをいたします。

■トラブル解決時間短縮のため、トラブル対応エスカレーションシステムを構築しています。

■弊社保守点検作業はISO9001、ISO14001の統合マネジメントシステムの認証を受けています。

■定期点検整備（予防保全）により、安定した装置性能（分解能、分析感度）を維持し、装置故障を未然に予防する事ができ、装置の稼働率向上、装置延命となります。適正な定期点検整備の証明として「定期保守点検表/完了報告書」をご提出いたします。

■本社研修機関にて総合トレーニングを受けた、認定技術者よるサービス対応を実施いたします。

■保守契約料金には定期保守点検費用、緊急対応費用、故障部品費用が含まれており、突然の故障による高額なSWAP部品費用、修理費用が発生せず、計画的な予算運用が可能となります。

■装置の稼働率向上が図られ、お客様の研究の遅延、検査工程の遅延による、損失コストの増加を防止する事ができます。

お客様のニーズに応じた、高品質な消耗品、本体部品の提供。

パーコール

オーバーホール/整備

装置の性能をさらに発揮するさまざまな機器。

01　スピード

02　サービス品質

04　年間保守契約の特典

03　予算計画JEOL製品サポートプラン

年間保守契約

物品販売

周辺機器販売

TEL. 0120-134-788（フリーダイヤル） FAX. 0120-734-788総合コールセンター

JEOL Field Solution Serviceサービス＆ソリューションのご案内

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広島サービスサポート

名古屋サービスサポート

仙台サービスサポート

福岡サービスサポート

筑波サービスサポート

本社

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クロスセクションポリッシャー 断面試料作製装置ウルトラミクローム 精密イオンポリシングシステム 熱分解総合システム多機能オートサンプラー

パーツカタログ ダイヤモンドナイフフィラメント

（質量分析計）K型フィラメント

（透過／走査電子顕微鏡）

JEOL Maintenance Programには各種プランをご用意しています。

3年間サポート契約を特別割引価格でご用意しています。

年2回

全て保証

全て保証

定期点検

随時保守

交換部品

年1回

全て保証

全て保証

年1回

全て保証

単価10万円以上は有償※2

年1回

基本契約Ⅰ 基本契約ⅠⅠ 限定契約 3年間サポート契約※1

全て保証

全て保証

※1 ： 対象機種限定となります。　※2 ： 限定契約の交換部品については機種により条件が異なります。

電子顕微鏡（TEM/SEM/EPMAその他）、分析機器における試料作製用材料、備品、消耗品（遮蔽板、ダイヤモンドナイフ、スミナイフ、コーティング用材料、その他）、装置稼働に欠かせない消耗品（フィラメント、試料載台、キャピラリーカラム、カンチレバー、フィルムその他）また工具類、手袋、一般的な実験室用消耗品も豊富なラインアップでご提供しております。パーツカタログのご用命につきましては総合コールセンターまでお願いします。

装置の故障・不具合が発生した場合、お客様からのご依頼によりすみやかに、技術者を派遣、または部品交換を手配致します。

劣化・消耗した部品の交換や経時変化による整備及び点検を行います。

定期的な装置メンテナンスと緊急時は迅速な装置復旧を行います。お客様に最適なトータルソリューションをご提案するため、年間保守サービスをご用意しています。年間契約により、一定料金でご満足いただけるサービスをご提供いたします。

日本電子では、電子顕微鏡、分析機器などに関連する周辺機器を取り扱っております。

電子顕微鏡での観察や分析に成果をあげる試料作製装置をはじめ、画像処理装置、分析関連の付属装置やデータ処理ソフトウェアなど多くの関連製品を用意しています。

■電話、E-Mailでのタイムリーなコンサルタントサービス員による的確なアドバイスと技術サポートを提供します。装置オペレーターの方が代わられた際、装置取り扱い説明に関するご相談をお受けいたします。

■JEOL主催の定期講習会に年１回1名様に限り無料での受講をいただけます。（機種により、定期講習会が開催されない場合がございます）

■JEOL主催の各種セミナーへ年1回1名様に限り無料でご招待をいたします。（MSセミナー、SEM・EDSセミナー、その他）

■装置移設工事、設置室調査、その他契約工事につきましては、特別価格にてお受けいたします。

■PCのオペレーションシステム、PCのアップグレードについて特別価格にてご提供いたします。

■装置周辺機器、環境対策を含めたトータルソリューションをご提案します。

■トータルアプリケーションのご相談をお受けします。

■お客様の装置をリモートサポートで支援します。（対象機種限定となります。）■コールセンターシステムにより集中受付を行い、全国サービスネットワークにて迅速なお客様対応を行います。 弊社コールセンターシステムでは

保守契約のお客様を自動的に判断する事ができ、緊急に発生しました装置故障に対しては、最優先でのサポートをいたします。

■トラブル解決時間短縮のため、トラブル対応エスカレーションシステムを構築しています。

■弊社保守点検作業はISO9001、ISO14001の統合マネジメントシステムの認証を受けています。

■定期点検整備（予防保全）により、安定した装置性能（分解能、分析感度）を維持し、装置故障を未然に予防する事ができ、装置の稼働率向上、装置延命となります。適正な定期点検整備の証明として「定期保守点検表/完了報告書」をご提出いたします。

■本社研修機関にて総合トレーニングを受けた、認定技術者よるサービス対応を実施いたします。

■保守契約料金には定期保守点検費用、緊急対応費用、故障部品費用が含まれており、突然の故障による高額なSWAP部品費用、修理費用が発生せず、計画的な予算運用が可能となります。

■装置の稼働率向上が図られ、お客様の研究の遅延、検査工程の遅延による、損失コストの増加を防止する事ができます。

お客様のニーズに応じた、高品質な消耗品、本体部品の提供。

パーコール

オーバーホール/整備

装置の性能をさらに発揮するさまざまな機器。

01　スピード

02　サービス品質

04　年間保守契約の特典

03　予算計画JEOL製品サポートプラン

年間保守契約

物品販売

周辺機器販売

TEL. 0120-134-788（フリーダイヤル） FAX. 0120-734-788総合コールセンター

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