II. IR Spectroscopy II. IR Spectroscopy

적외선 흡수를 측정하기 위한 기기적외선 흡수를 측정하기 위한 기기

분산형 적외선 분광광도계 분산형 적외선 분광광도계 (Dispersive Infraed Spectrometer)(Dispersive Infraed Spectrometer)

FT/IR (Fourier Transform Infraed spectrometer)FT/IR (Fourier Transform Infraed spectrometer)

적외선 분광광도계의 역사적외선 분광광도계의 역사

18001800 년 영국의 년 영국의 F. W. Hershel : F. W. Hershel : 분산형 적외선 분광광도계 개발 분산형 적외선 분광광도계 개발 (Prism type)(Prism type)

이후 이후 Prism Prism 대신 대신 grating grating 사용 사용

19701970 년대 초반 년대 초반 : NMR, GC, HPLC : NMR, GC, HPLC 등의 개발에 의해 퇴보되어짐등의 개발에 의해 퇴보되어짐

19701970 년대 중반 년대 중반 : FT-IR : FT-IR 개발 개발 (( 미국미국 ))

19901990 년대 년대 : Software, Data system, High resolution, High : Software, Data system, High resolution, High

sensitivity sensitivity 연구를 연구를

통해 저렴한 가격으로 공급이 가능통해 저렴한 가격으로 공급이 가능

: : 구조 및 정량 분석에 매우 유용하게 사용되어짐구조 및 정량 분석에 매우 유용하게 사용되어짐

적외선 분광학적외선 분광학- 780 nm780 nm 에서 에서 1,000 μm1,000 μm 까지의 영역을 적외선 영역이라 함까지의 영역을 적외선 영역이라 함

- 근적외선 근적외선 (NIR), (NIR), 중적외선중적외선 (Mid IR) (Mid IR) 및 원적외선 및 원적외선 (Par IR)(Par IR) 로 구분로 구분

- 초기에는 중적외선 영역을 이용한 연구가 주를 이룸초기에는 중적외선 영역을 이용한 연구가 주를 이룸 , , 그러나 최근에는 그러나 최근에는

근적외선을 많이 이용근적외선을 많이 이용

- 적외선은 시료 내에 존재하는 진동운동이나 회전운동에 의해서 흡수적외선은 시료 내에 존재하는 진동운동이나 회전운동에 의해서 흡수

- 스펙트럼은 분자내에 존재하는 기능기에 관한 정보를 줌스펙트럼은 분자내에 존재하는 기능기에 관한 정보를 줌

(( 유기화합물의 확인유기화합물의 확인 , , 정량과 정성분석의 중요한 정보를 제공정량과 정성분석의 중요한 정보를 제공 ) )

적외선 분광학의 원리 적외선 분광학의 원리 (1)(1)

분자의 진동 방식과 진동 모드의 수분자의 진동 방식과 진동 모드의 수

- - 진동원리진동원리

:: 분자의 진동운동은 분자를 구성하는 원자의 수와 결합상태에 의해 결정분자의 진동운동은 분자를 구성하는 원자의 수와 결합상태에 의해 결정

되며 대칭운동과 비대칭운동으로 구분되며 대칭운동과 비대칭운동으로 구분

- - 진동운동의 종류진동운동의 종류

- - 신축운동신축운동 (stretching) : (stretching) : 두 원자 사이의 결합축에 따라 원자간의 거리가두 원자 사이의 결합축에 따라 원자간의 거리가

계속하여 변화하는 진동계속하여 변화하는 진동

- - 굽힘운동굽힘운동 (bending) : (bending) : 두 결합사이의 각도가 변화하는 진동두 결합사이의 각도가 변화하는 진동

1) 1) 가위질 진동가위질 진동 (scissoring), (scissoring), 좌우흔듦 진동좌우흔듦 진동 (rocking)(rocking)

2) 2) 앞뒤흔듦 진동앞뒤흔듦 진동 (wagging), (wagging), 꼬임 진동꼬임 진동 (twisting)(twisting)

Types of molecular vibrations

기준 진동 방식의 수기준 진동 방식의 수

- - 분자 내에 가능한 진동 방식의 예측은 피크 수를 대략 짐작할 수 있게 해줌분자 내에 가능한 진동 방식의 예측은 피크 수를 대략 짐작할 수 있게 해줌

-- 기준 진동 방식 기준 진동 방식 : : 다른 진동 방식에 영향을 받지 않는 진동 방식다른 진동 방식에 영향을 받지 않는 진동 방식

- - 다음의 식을 이용하여 기준 진동 방식 수를 예측할 수 있음다음의 식을 이용하여 기준 진동 방식 수를 예측할 수 있음

선형 분자 선형 분자 : 3N-5: 3N-5

비선형 분자 비선형 분자 : 3N-6 (N : : 3N-6 (N : 원자의 수원자의 수 ))

기준진동방식의 수보다 흡수 스펙트럼이 적게 나타나는 이유기준진동방식의 수보다 흡수 스펙트럼이 적게 나타나는 이유

- - 대칭분자의 대칭 신축진동에서 쌍극자 모멘트의 알짜변화가 없다대칭분자의 대칭 신축진동에서 쌍극자 모멘트의 알짜변화가 없다 ..

-- 둘 또는 그 이상의 진동에너지가 거의 같다둘 또는 그 이상의 진동에너지가 거의 같다 ..

-- 흡수세기가 대단히 낮기 때문에 보통 방법으로 검출하기 어렵다흡수세기가 대단히 낮기 때문에 보통 방법으로 검출하기 어렵다 ..

-- 진동에너지가 기계의 측정 파장범위를 벗어난다진동에너지가 기계의 측정 파장범위를 벗어난다 ..

적외선 분광학의 원리 적외선 분광학의 원리 (2)(2)

선택규칙 선택규칙 1 : 1 : 시간에 따라 쌍극자 모멘트가 변하는 진동 모드만 전이 발생시간에 따라 쌍극자 모멘트가 변하는 진동 모드만 전이 발생

A. 3N-6 (A. 3N-6 ( 선형분자인 경우 선형분자인 경우 3N-5)3N-5) 개의 기준 진동 모드 중 쌍극자 모멘트가 개의 기준 진동 모드 중 쌍극자 모멘트가

변하는 진동만 적외선 흡수함변하는 진동만 적외선 흡수함

B. B. 쌍극자 모멘트의 변화를 발생할 수 없는 쌍극자 모멘트의 변화를 발생할 수 없는 NN22, O, O22, Cl, Cl22 와 같은 동일 이핵종 와 같은 동일 이핵종

분자는 적외선 분광법을 이용하여 측정하는 것이 불가능분자는 적외선 분광법을 이용하여 측정하는 것이 불가능

선택규칙 선택규칙 2 : 2 : 진동수 변화진동수 변화 (( 진동양자수진동양자수 )) 가 가 ±1±1 인 전이만 발생인 전이만 발생

실제로는 복잡한 양상의 스펙트럼이 발생실제로는 복잡한 양상의 스펙트럼이 발생

적외선 분광학의 원리 적외선 분광학의 원리 (3)(3)

진동전이에 필요한 에너지진동전이에 필요한 에너지

적외선 분광학의 원리 적외선 분광학의 원리 (4)(4)

적외선 분광법의 장점적외선 분광법의 장점

특정 작용기의 흡수피크가 화합물의 종류에 관계없이 같은 주파수에서 특정 작용기의 흡수피크가 화합물의 종류에 관계없이 같은 주파수에서 나타나므로 정성 및 정량에 이용할 수 있다나타나므로 정성 및 정량에 이용할 수 있다 . (Group frequency region). (Group frequency region)

기기의 조작이 쉽고 간편하며 측정시간이 짧다기기의 조작이 쉽고 간편하며 측정시간이 짧다 ..

상온 상압에서 비파괴 분석이 가능하다상온 상압에서 비파괴 분석이 가능하다 ..

다양한 액세서리를 사용함으로써 복잡한 전처리 과정이 필요없다다양한 액세서리를 사용함으로써 복잡한 전처리 과정이 필요없다 ..

FT/IR (Fourier Transform Infrared) SpectroscopyFT/IR (Fourier Transform Infrared) Spectroscopy

FT-IR FT-IR 분광법과 분산형 적외선 분광광도계의 차이 분광법과 분산형 적외선 분광광도계의 차이 - - 단색화 장치를 사용하지 않고 복사선을 변조시키고 수학적 공식을 사용하여단색화 장치를 사용하지 않고 복사선을 변조시키고 수학적 공식을 사용하여 시료의 스펙트럼을 얻음시료의 스펙트럼을 얻음 - - 변조장치 변조장치 : Interferometer: Interferometer

- - 변조된 빛 변조된 빛 : Interferogram Fourier Transform (: Interferogram Fourier Transform ( 수학적 수학적 공식공식 ))

FT/IR (Fourier Transform Infrared) SpectroscopyFT/IR (Fourier Transform Infrared) Spectroscopy

- - 광원의 빛살을 이등분한 후 한쪽 빛살의 광로의 길이를 주기적으로 변환시켜광원의 빛살을 이등분한 후 한쪽 빛살의 광로의 길이를 주기적으로 변환시켜

간섭무늬가 생기게 한 후 간섭무늬가 생기게 한 후 Fourier Fourier 변환법을 사용하여 테이터를 처리변환법을 사용하여 테이터를 처리

FT-IR FT-IR 분광기의 구조분광기의 구조

- 이때이때 , , 만족할만한 간섭도를 얻기 위해 움직이는 거울의 속도가 일정하고만족할만한 간섭도를 얻기 위해 움직이는 거울의 속도가 일정하고 , ,

움직이는 거울의 위치를 매순간 확실하게 알 수 있어야 함움직이는 거울의 위치를 매순간 확실하게 알 수 있어야 함

- 거울의 움직이는 거리 거울의 움직이는 거리 : 1~20 cm : 1~20 cm

- 주사 속도 주사 속도 : 0.01~10 cm/sec.: 0.01~10 cm/sec.

- 정확한 데이터 측정을 위해정확한 데이터 측정을 위해

1) 1) 동일 시간에 신호를 측정동일 시간에 신호를 측정

2) 2) 정확한 이동거울과 고정거울의 정확한 이동거울과 고정거울의

위치 파악 위치 파악

Interferometer & Interferogram (1)Interferometer & Interferogram (1)

- Interferometer : Interferometer :

다음의 다음의 33 가지로 구성 가지로 구성

1) Beam Splitter : 1) Beam Splitter :

빛의 반은 투과하고 반은 반사빛의 반은 투과하고 반은 반사

2) Fixed Mirror2) Fixed Mirror

3) Moving Mirror : 3) Moving Mirror :

일정속도로 움직임 일정속도로 움직임

단색광을 이용한 단색광을 이용한 Micelson InterferometerMicelson Interferometer 와 와 interferograminterferogram

- 복사선은 복사선은 Beam splitterBeam splitter 에서 에서

반으로 나뉘어져 두 종류의 반으로 나뉘어져 두 종류의

거울을 거쳐 다시 합쳐짐거울을 거쳐 다시 합쳐짐

Interferometer & Interferogram (2)Interferometer & Interferogram (2)

- Interferogram : Interferogram :

1) Moving Mirror1) Moving Mirror 와 와 Fixed MirrorFixed Mirror 의의

거리차가 거리차가 ¼ λ : ¼ λ : 각 거울에서 각 거울에서

반사된 후 합쳐지는 빛의 광로차는반사된 후 합쳐지는 빛의 광로차는

½ λ½ λ 로 상쇄 간섭이 발생되어 빛의 로 상쇄 간섭이 발생되어 빛의

세기가 세기가 00 이 됨이 됨

2) Moving Mirror2) Moving Mirror 와 와 Fixed MirrorFixed Mirror 의의

거리차가 거리차가 ½ λ ½ λ 또는 또는 00 일 경우 일 경우 ::

광로차는 광로차는 1 λ, 2 λ…1 λ, 2 λ… 로 서로 보강 로 서로 보강

간섭이 빛의 세기가 최고가 됨간섭이 빛의 세기가 최고가 됨

빛의 세기의 변화 빛의 세기의 변화 : Interferogram: Interferogram

다파장 복사선의 다파장 복사선의 InterferogramInterferogram

- - 적외선 광선은 넓은 파장 적외선 광선은 넓은 파장 영역의 경우 빛 방출영역의 경우 빛 방출- 거울의 거리차가 거울의 거리차가 00

: : 보상간섭 일어남보상간섭 일어남- 나머지 경우나머지 경우 :: 상쇄 간섭 일어남상쇄 간섭 일어남

F = 2VMυ/cF = 2VMυ/c

VM : Moving mirrorVM : Moving mirror 이동 이동

속도속도

υ : υ : 복사선의 주파수 복사선의 주파수

c : c : 빛의 속도 빛의 속도

Fourier TransformFourier Transform

- - 시간 지배 함수인시간 지배 함수인 InterferogramInterferogram

을을

분석에 사용되는 스펙트럼으로 분석에 사용되는 스펙트럼으로

변환변환

1)1) 시료를 통과한 시료를 통과한 InterferogramInterferogram

은은

시료에 의해 특정 파장의 빛이 시료에 의해 특정 파장의 빛이

흡수되 그 모양이 원해의 것과흡수되 그 모양이 원해의 것과

달라짐달라짐

2)FT2)FT 를 사용하여 스펙트럼으로 를 사용하여 스펙트럼으로

변환변환

하면 흡수가 일어난 파장의 빛의하면 흡수가 일어난 파장의 빛의

세기는 약함세기는 약함

Sampling of Data(1)Sampling of Data(1)

- - 정확한 데이터를 얻기 위해서는정확한 데이터를 얻기 위해서는 ,,

1)1) 정확한 간격정확한 간격 (( 지연 간격지연 간격 , , 시간시간 )) 을 을

두고두고

신호를 측정신호를 측정

2)2) 지연이 지연이 00 인 지점인 지점 (( 고정 거울과 이동 고정 거울과 이동

거울의 위치가 같은점거울의 위치가 같은점 )) 을 정확히 을 정확히

결정 결정

:: 그렇지 않으면 측정된 신호들 사이의 그렇지 않으면 측정된 신호들 사이의

위상이 같지 않아 스팩트럼을 여러 위상이 같지 않아 스팩트럼을 여러

번번

측정할 수록 질은 더욱 나빠짐측정할 수록 질은 더욱 나빠짐

스펙트럼의 측정 과정스펙트럼의 측정 과정

FTIR FTIR 분광기는 분광기는 single- beam single- beam 이므로 시료의 이므로 시료의

스펙트럼에서 스펙트럼에서 background background 스펙트럼을 보정해 주어야 한다스펙트럼을 보정해 주어야 한다

Apodization(1)Apodization(1)

-

- - 적외선 광선은 넓은 파장 적외선 광선은 넓은 파장 영역의 경우 빛 방출영역의 경우 빛 방출- 거울의 거리차가 거울의 거리차가 00

: : 보상간섭 일어남보상간섭 일어남- 나머지 경우나머지 경우 :: 상쇄 간섭 일어남상쇄 간섭 일어남

반드시 이런 것은 아니다반드시 이런 것은 아니다 1) 1) 실제로는 실제로는 00 에 가까워질 뿐 에 가까워질 뿐 완전히 상쇄 간섭이 일어나지완전히 상쇄 간섭이 일어나지 않는다않는다 2) 2) 이론상 이론상 moving mirrormoving mirror가 가 무한한 거리로 움직일 때 영점무한한 거리로 움직일 때 영점 지원을 제외한 모든 지점에서지원을 제외한 모든 지점에서 상쇄 간섭이 일어난다상쇄 간섭이 일어난다

Apodization(2)Apodization(2)

- Apodization : Apodization : 상쇄되지 않고 상쇄되지 않고

interferograminterferogram 에 남아 있는 부분은에 남아 있는 부분은

스펙트럼의 노이즈로 작용하기스펙트럼의 노이즈로 작용하기

때문에 인위적으로 함수를 곱하여때문에 인위적으로 함수를 곱하여

intensityintensity 를 를 00 으로 만들어 노이즈를으로 만들어 노이즈를

줄이는 방법줄이는 방법

1)1) 어떤 함수를 사용하는 가에 따라어떤 함수를 사용하는 가에 따라

스펙트럼의 분해능과 피크의 높이스펙트럼의 분해능과 피크의 높이 ,,

두께가 변함 두께가 변함 목적에 맞는 함수목적에 맞는 함수

선택 선택

2)2) 보통 보통 cosine cosine 함수를 사용함수를 사용

FTIR FTIR 분광기에 사용되는 광학 소재분광기에 사용되는 광학 소재 (1)(1)

- - 적외선 광원은 적외선 광원은 1500~2200K 1500~2200K 사이의 온도까지 전기적으로 가열되는 불활성사이의 온도까지 전기적으로 가열되는 불활성

고체로 구성고체로 구성

- - 흑체의 복사선과 비슷한 연속 복사선이 방출흑체의 복사선과 비슷한 연속 복사선이 방출

SiC SiC 세라믹 광원세라믹 광원

- FTIR - FTIR 에서는 에서는 Globar Globar 라고 불리는 라고 불리는 50mm 50mm 정도의 길이와 정도의 길이와 5mm 5mm 의 직경을 갖는의 직경을 갖는

탄화수소 막대기를 광원으로 사용탄화수소 막대기를 광원으로 사용

- - 전기적으로 가열하고 저항은 양의 계수를 갖음전기적으로 가열하고 저항은 양의 계수를 갖음

- Globar - Globar 와 와 Nernst Nernst 백열등의 스펙트럼 에너지는 백열등의 스펙트럼 에너지는 Globar Globar 가 훨씬 큰 출력을 가 훨씬 큰 출력을

제공하는데 제공하는데 5um 5um 이하의 영역을 제외하곤 거의 비슷 이하의 영역을 제외하곤 거의 비슷

- - 복사선을 나누는 역할복사선을 나누는 역할 , 50%, 50% 는 투과 는 투과 50%50% 는 반사는 반사

- KBr, NaCl, Csl - KBr, NaCl, Csl 과 같이 습기에 약한 과 같이 습기에 약한 WindowsWindows 에 에 GeGe 등을 증착시키기 등을 증착시키기

때문에때문에

습기에 노출될 경우는 습기에 노출될 경우는 WindowsWindows 가 쉽게 오염되어 가 쉽게 오염되어 BeamsplitterBeamsplitter 의 효율이 의 효율이

떨어짐떨어짐

- - 문제점 보완을 위해 문제점 보완을 위해 Purge system, Sealing, Purge system, Sealing,

제습제를 사용제습제를 사용

- - 원적외선 영역에서는 원적외선 영역에서는 Mylar Film Mylar Film 이 이용이 이용

: Film : Film 의 두께에 따라 측정가능 영역 결정의 두께에 따라 측정가능 영역 결정

FTIR FTIR 분광기에 사용되는 광학 소재분광기에 사용되는 광학 소재 (2)(2)

BeamsplitterBeamsplitter

Jasco FTIR 600 beamsplitterJasco FTIR 600 beamsplitter

FTIRFTIR 분광기에 사용되는 광학 소재분광기에 사용되는 광학 소재 (3)(3)

MirrorMirror

1) 1) 좋은 좋은 InterferogramInterferogram 을 얻기 위해서는 을 얻기 위해서는 BeamsplitterBeamsplitter 에의해서갈라진 에의해서갈라진 빛이 빛이 Moving mirrorMoving mirror 와 와 Fixed mirrorFixed mirror 에의해 반사된 후 평행선에서에의해 반사된 후 평행선에서 만나야함만나야함 기계적 진동시 간섭이 일어남기계적 진동시 간섭이 일어남

2) 2) 일반적인 평면 거울의 경우 일반적인 평면 거울의 경우 Moving mirrorMoving mirror 와 와 Fixed mirrorFixed mirror 가 틀어질 수 가 틀어질 수 있기 때문에 있기 때문에 alignmentalignment 가 필요가 필요

수평거울의 단점을 수평거울의 단점을 보완할수 있는 보완할수 있는 corner cube mirrorcorner cube mirror

FTIR FTIR 분광기에 사용되는 광학 소재분광기에 사용되는 광학 소재 (4)(4)

검출기검출기

- Interferometer- Interferometer 에서 변조된 복사선은 약 에서 변조된 복사선은 약 5~10KHz5~10KHz 의 의 Audio Frequency Audio Frequency 의 파형을 가짐의 파형을 가짐

이러한 이유로 이러한 이유로 Thermocouples Thermocouples 검출기를 사용할 수 없음검출기를 사용할 수 없음

- FTIRFTIR 검출기로는 빠른 감응시간을 갖는 검출기로는 빠른 감응시간을 갖는 DTGS DTGS 검출기와 검출기와 높은 감도의 높은 감도의 MCT MCT 검출기가 주로 사용됨검출기가 주로 사용됨

- 검출기의 종류에는 크게 검출기의 종류에는 크게 Pyroelectric Pyroelectric 검출기와 광전도 검출기와 광전도 검출기로 나뉘어짐검출기로 나뉘어짐

1) Pyroelectric 1) Pyroelectric 검출기검출기

▶ ▶ 특별한 열적 및 전기적 성질을 갖는 절연체특별한 열적 및 전기적 성질을 갖는 절연체 (( 유전물질유전물질 )) 인 인 파이로전기 물질의 단결정 웨이퍼로 구성파이로전기 물질의 단결정 웨이퍼로 구성

▶ ▶ 장의 제거 후 강한 온도 의존 편극을 유지하여 온도 의존성 장의 제거 후 강한 온도 의존 편극을 유지하여 온도 의존성 케퍼시티를 형성케퍼시티를 형성

▶ ▶ 파이로 전기 결정은 파이로 전기 결정은 CurieCurie 점 이라고 불리는 온도까지 가열될 때점 이라고 불리는 온도까지 가열될 때 나머지 편극을 잃음 나머지 편극을 잃음 (DTGS(DTGS 의 의 CurieCurie 점은 점은 47℃47℃ 임임 ))

2) 2) 광전도 검출기광전도 검출기

▶ ▶ MCTMCT 검출기는 비전도성 유리 표면에 장착되어 있는 황화납검출기는 비전도성 유리 표면에 장착되어 있는 황화납 , ,

텔루르화 카드뮴의 수은 광전도체 혹은 안티몬화인듐과 같은텔루르화 카드뮴의 수은 광전도체 혹은 안티몬화인듐과 같은 반도체 물질의 얇은 필름으로 구성되어 있고 대기로부터 반도체 물질의 얇은 필름으로 구성되어 있고 대기로부터 반도체 보호를 위하여 진공관 속에 밀봉 되어 있음반도체 보호를 위하여 진공관 속에 밀봉 되어 있음

▶ ▶ MCTMCT 검출기는 액체 질소로 냉각시켜 열적 잡음을 최소화 함검출기는 액체 질소로 냉각시켜 열적 잡음을 최소화 함

▶ ▶ MCTMCT 검출기의 측정 영역은 수은검출기의 측정 영역은 수은 //카드뮴의 비에 비례함 카드뮴의 비에 비례함

FTIRFTIR 분광기에 사용되는 광학 소재분광기에 사용되는 광학 소재 (5)(5)

FTIRFTIR 의 장점의 장점

광학적 광학적 Throughput(Jaquiot Advantage)Throughput(Jaquiot Advantage)

: : FT/IRFT/IR 은 은 GratingGrating 과 과 sitesite 를 사용하지 않아 검출기에 이르는 복사선의를 사용하지 않아 검출기에 이르는 복사선의 양이 많기 때문에 좋은 양이 많기 때문에 좋은 S/N ratioS/N ratio 를 나타냄를 나타냄

광학적 광학적 Throughput(Jaquiot Advantage)Throughput(Jaquiot Advantage)

: : FT/IRFT/IR 은 은 전파장의 적외선 영역을 동시에 측정하여 전파장의 적외선 영역을 동시에 측정하여 11 회의 측정에 회의 측정에 소비되는 시간이 짧기 때문에 측정 횟수를 증가시킬 수 있음소비되는 시간이 짧기 때문에 측정 횟수를 증가시킬 수 있음

파장의 정확성파장의 정확성

: : FT/IRFT/IR 은 은 광로차와 복사선의 세기로부터 광로차와 복사선의 세기로부터 InterferogramInterferogram 을 얻어내고을 얻어내고 ,, InterferogramInterferogram 을 을 Fourier TransformFourier Transform 을 실행하여 스펙트럼의을 실행하여 스펙트럼의 주파수와 세기를 얻음주파수와 세기를 얻음

Stray LightStray Light

: FT/IR: FT/IR 에서 사용되는 에서 사용되는 SignalSignal 은 간섭계에서 변조된 은 간섭계에서 변조된 SignalSignal 을 을 사용하기 때문에 사용하기 때문에 Stray LightStray Light 의 영향을 받지 않음의 영향을 받지 않음

일정한 분해능일정한 분해능

: : 분해능이 단지 분해능이 단지 InterferometerInterferometer 내에 있는 내에 있는 Moving mirrorMoving mirror 의 거리에 의 거리에 의존하기 때문에 의존하기 때문에 Moving mirror Moving mirror 의 속도가 일정하게 유지 된다면의 속도가 일정하게 유지 된다면 일정한 분해능을 가짐일정한 분해능을 가짐

Tracking errorTracking error 의 제거의 제거

: Data: Data 를 를 DigitalDigital 로 만든 다음 처리하기 때문에 로 만든 다음 처리하기 때문에 PeakPeak 의 위치나 강도에 의 위치나 강도에 변형을 가져오지 않음변형을 가져오지 않음

High ResolutionHigh Resolution

:FT/IR:FT/IR 의 의 ResolutionResolution 은 은 (L : Moving Mirror(L : Moving Mirror 의 이동거리의 이동거리 )) 에 비례한다 그러므로 에 비례한다 그러므로 일반적인 이동거리인 일반적인 이동거리인 5~20cm5~20cm 를 사용하는 를 사용하는 InterferometerInterferometer 일 경우 일 경우 0.1~0.08/0.1~0.08/츠츠 의 의 ResolutionResolution 을 만들어 낼 수 있다을 만들어 낼 수 있다

측정영역의 확장 측정영역의 확장 : : FT/IRFT/IR 은 은 Beamsplitter, Windows, Beamsplitter, Windows, 검출기검출기 , Light Source, Light Source 등의 교체로 등의 교체로 2500~10/cm2500~10/cm 까지 측정영역의 확장이 가능하다 까지 측정영역의 확장이 가능하다

Data Data 처리의 이점처리의 이점: : FT/IRFT/IR 은 은 ComputerComputer 를 사용하여 를 사용하여 datadata 를 처리하므로 얻어진 를 처리하므로 얻어진 datadata 를 사용자의를 사용자의 요구에 따라 자유롭게 변형하거나 출력할 수 있으며요구에 따라 자유롭게 변형하거나 출력할 수 있으며 , IR , IR 스펙트럼을로 이용할스펙트럼을로 이용할 수 있는 여러 가지 프로그램이 개발되어 응용범위가 무척 넓다수 있는 여러 가지 프로그램이 개발되어 응용범위가 무척 넓다

자가진단 자가진단 SystemSystem: : FT/IRFT/IR 은 은 ComputerComputer 에 의해서 제어되기 때문에 고장이 발생했을 경우에 의해서 제어되기 때문에 고장이 발생했을 경우 computercomputer 가 진단하여 가 진단하여 MessageMessage 를 나타내므로 고장원인을 찾기 용이하고를 나타내므로 고장원인을 찾기 용이하고 신속한 처리를 할 수 있다신속한 처리를 할 수 있다

IR Functional Groups(1)IR Functional Groups(1)

IR Functional Groups(2)IR Functional Groups(2)

IR Functional Groups(3)IR Functional Groups(3)

IR Functional Groups(4)IR Functional Groups(4)

IR Functional Groups(5)IR Functional Groups(5)

IR Functional Groups(6)IR Functional Groups(6)

IR Functional Groups(7)IR Functional Groups(7)

IR Functional Groups(8)IR Functional Groups(8)

Raman Functional Groups(1)Raman Functional Groups(1)

Raman Functional Groups(2)Raman Functional Groups(2)