Post on 03-Nov-2020
X线头影测量分析Cephalometrics
四川大学华西口腔医学院
正畸学系 李宇
Beauty is only skin deep ?
X线头影测量分析
概念、应用、拍摄及描图 1
常用头影测量标志点及平面 2
常用硬组织、软组织测量项目 3
常用X线头影测量分析法 4
临床实例
什么是X线头影测量?
X线头影测量, 主要是测量X线头颅定位照像所得的影像, 对牙颌, 颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析, 从而了解牙颌、 颅面软硬组织的结构,使对牙颌、颅面的检查、诊断, 由表面形态深入到内部的骨骼结构中去。
发 展 历 史 * 1780年 解剖学家Camper
* 1884年 人类学国际会议在德国 Frankfurt举行—眼耳平面(FH)的诞生
* 1916年 正畸学家Van Loon第一个将人类学方法应用到正畸学中
* 1923年 Meconer将X射线引入正畸学中
* 1931年 Brondbent(美)及Hofrath(德)首次使用头颅定位器及摄片技术
1.研究颅面生长发育
X线头影测量的主要应用
2.牙颌、颅面畸形的诊断分析
X线头影测量的主要应用
3.确定错 畸形的矫治设计
X线头影测量的主要应用
4.研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化
X线头影测量的主要应用
X线头影测量的主要应用
4.研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化
5.外科正畸的诊断和矫治设计
X线头影测量的主要应用
6.下颌功能分析
X线头影测量的主要应用
头颅定位X线片的种类
按拍摄时不同头位分为
头颅侧位片
正位片
颏顶位片
仪器:X线头颅定位仪
X线头颅侧位片的获得
X线照相要求: 左右耳塞与眶针三者构成一与地平面平行的恒定平面
X线的中心点通过外耳道
X线球管至头部矢状面的距离不小于150cm
尽量减少头至胶片或感光板的距离
X线头颅侧位片的获得
被摄者要求:
1. 立位,两足自然平行分开,平视前方
2. 最大牙尖交错位(ICP)或根据需要
3. 面肌自然放松
良好X线头影片
软、硬组织清晰
头位正常
左右重叠度好
不好的X线头影片
A B
C D
X线头影测量片的描图
传统胶片手绘描图
在X线观片灯或专用描图桌上进行
工具:透明硫酸纸、刻度尺、三角板、圆规、3H铅笔等
描图顺序
软组织描记,可用强光局部观察
使用头影测量软件(如WinCeph)定点测量
使用绘图软件(如Coreldraw)描图
X线头影测量片的描图
头颅侧位片描绘内容
颅底、蝶鞍轮廓
眶侧缘、下缘
翼上颌裂
上下颌骨
上下1、上下6
软组织侧貌
常用X线头影测量 的标志点
标 志 点
• 定义: 用来构成一些平面及测量内容的点
• 特点: – 影片上易于定位
– 生长发育过程中相对稳定
标 志 点
•部位:
–颅部
–上颌
–下颌
–软组织侧面
颅部标志点
• 蝶鞍点(S):
蝶鞍影像的中心
常用作描图重叠的参考点
颅部标志点 • 鼻根点(N):
鼻额缝之最前点
前颅部的标志点
代表颅、面部的结合处
颅部标志点 • 耳点(P):
外耳道的最上点(解剖耳点)
常以定位仪耳塞影像之最上点代表(机械耳点)
颅部标志点 • 颅底点(Ba):
枕骨大孔前缘之中点
后颅底的
标志
颅部标志点
• Bolton点:枕骨髁突后切迹的最凹点
颅部标志点(5个)
蝶鞍点(S) 鼻根点(N) 耳点(P) 颅底点(Ba) Bolton点(Bo)
S N
P
Ba
Bo
• 眶点(O):眶下
缘之最低点
上颌标志点
• 翼上颌裂点(Ptm):
翼上颌裂轮廓(倒泪滴状)之最下点
常作上颌后界的参考点
上颌标志点
• 前鼻棘(ANS):前鼻棘之尖
• 后鼻棘(PNS):硬腭后部骨棘之尖
上颌标志点
• 上齿槽缘点(SPr):
上齿槽突之最前下点
常在上中切牙
釉牙骨质界处
上颌标志点
• 上齿槽座点(A):
ANS与SPr间骨部的最凹点
用于评价上颌基骨前后位置
的重要标志点!
上颌标志点
• 上中切牙点(UI):上中切牙切缘之最前下点
• 上磨牙点(U6): 上颌第一磨牙的 近中颊尖点或颊沟点
上颌标志点
上颌标志点(6个)
•眶点(O) •翼上颌裂点(Ptm)
• 前鼻棘( ANS)
• 后鼻棘(PNS)
• 上齿槽座点(A)
• 上中切牙点(UI)
O
ANS
UI
A PNS
Ptm
下颌标志点 • 髁顶点(Co):髁突的最上点
• 关节点(Ar):颅底下缘与下颌髁突颈后缘之交点
• 下颌角点(Go): 下颌角的后下点
下颌标志点 • 颏前点(Po):颏部之最突点
• 颏下点(Me):颏部之最下点
• 颏顶点(Gn): Po与Me之中点
• D点:下颌体骨性联合部之中心点
下颌标志点
• 下齿槽缘点(Id) :下齿槽突之最前上点
• 下齿槽座点(B): Id与Po间之骨部最凹点
用于评价下颌基骨前后位置的重要标志点!
下颌标志点
• 下切牙点(Li):下中切牙切缘之 最前点
• 下磨牙点(L6):下颌第一磨牙的近中颊尖点
下颌标志点(7个)
•髁顶点(Co) •下颌角点(Go)
• 颏前点(Po)
• 颏下点(Me)
• 颏顶点(Gn)
• 下齿槽座点(B)
• 下切牙点(Li)
Co
Gn Po
Li
Me
B Go
软组织侧面标志点(9个) • 软组织鼻根点(Ns)
• 鼻顶点(Prn):鼻部最突点
• 鼻下点(Sn)
• 上唇突点(UL)
• 下唇突点(LL)
• 软组织颏前点(Pos)
• 软组织颏下点(Mes) UL
Ns
Sn
Prn
LL
Pos
Mes
Me Po
N
注 意
正中矢状面上的参考点(如S点)较矢状面两侧的参考点(如Co点)准确
双侧影像未完全重叠时取其中点(如Go点)
较难准确定位的点:O点、A点、ANS点、PNS点
• 在颅面生长过程中,参考点的稳定性是有变化的,所谓“固定的标志点”是不存在的
• 但靠近颅底的一些点(如S点,N点,Ba点)在出生后随生长变化很小,故由它们构成的平面被用作头影测量的“基准平面”
常用X线头影测量 的平面
前颅底平面(SN): 代表前颅底前后范围 常作为面部结构对颅底关系的定位平面 眼耳平面(FH): P点和O点连线组成 , 与地面平行 Bolton平面: 由Bo点与N点连线组成
S N
P O
Bo
基准平面 ——头影测量中相对稳定的平面
腭 平 面 (PP.palatal
plane):ANS与PNS的连
线,用于评价上颌骨的
长度、位置及生长方向
全颅底平面(Ba-N):可
视为颅部与颌面部的分
界线
ANS
PNS
测量平面
Ba
N
测量平面
下颌平面(MP. mandibular plane):评价下颌骨的长度、位置及生长方向
三种确定方法
A. 通过颏下点(Me)与下颌角下缘相切的线
B. 下颌下缘最低部的切线
C. 下颌角点(Go)与颏顶点(Gn)的连线。
测量平面
平面(OP. occlusal plane):
• a:解剖 平面——上下6的咬合中点与上下1切缘中点的连线
• b:功能 平面——均分后牙 接触点获得
• c:上颌 平面——用得较少
N
Po
Gn
S
面平面(N-P):由鼻根
点与颏前点连线组成
Y轴(Y axis):S与Gn的
连线,代表面部生长发
育方向
测量平面
常用硬组织测量项目
1.上下颌骨的常用测量项目
A
B
S N SNA 角:反映上颌相对
于颅部的前后位置关系
SNB 角:反映下颌相对于颅部的前后位置关系
ANB 角=SNA-SNB,反映上下颌骨对颅部的相互位置关系
面角(NP-FH):面平面与眼耳平面之后下交角
Y轴角:Y轴与眼耳平面之前下交角
下颌平面角(MP-FH): 下颌平面与眼耳平面(或SN平面)的交角
上颌长(ANS-Ptm):上颌长度
上颌位置(S- Ptm):上颌骨后缘相对于颅底的前后向关系
下颌位置(S-Co):下颌髁突的前后位置
下颌长(Co-Po): 下颌骨的综合长度
FH
MP
(1)U1-SN角
(2)L1-MP角
(3)U1-NA角
(4)U1-NA距
(5)L1-NB角
(6)L1-NB距
(7)U1-L1角
2.上下前牙的常用测量项目
(1)U1-SN角
(2)L1-MP角
(3)U1-NA角
(4)U1-NA距
(5)L1-NB角
(6)L1-NB距
(7)U1-L1角
2.上下前牙的常用测量项目
(1)U1-SN角
(2)L1-MP角
(3)U1-NA角
(4)U1-NA距
(5)L1-NB角
(6)L1-NB距
(7)U1-L1角
2.上下前牙的常用测量项目
全面高:N’-Me’
上面高:N’-ANS’
下面高:ANS’-Me’
3.面部高度的常用测量项目
N’
ANS’
Me’
为各点在FH平面垂线上投影之距离(与教材不同)
线距的比例较其绝对长度更有意义
N
ANS
Me
P O
前面高:N’-Me’
后面高:S’-Go’
后前面高比:
S’-Go’/N’-Me’
N’
N
ANS
ME
P O
Me’
ANS’
S
Go
Go’
S’
全面高:N’-Me’
上面高:N’-ANS’
下面高:ANS’-Me’
后前面高比
S’-Go’/N’-Me’×100%
用于判断面部生长型
>65% 水平生长型
62-65% 平均生长型
<62% 垂直生长型
下颌平面角
MP-FH
用于判断高低角
< 25° 低角
25-35°均角
> 35° 高角
常用软组织测量内容
面型角(FCA)
FCA:额点-鼻下点-软组织颏前点 所成的角
代表软组织面型突度
区别硬组织面角(NP-FH)
G
Sn
Pos
Po
N
鼻唇角(NLA)
鼻小柱-鼻下点-上唇突点 所成的角
代表上唇与鼻底位置关系:正常均值为100°左右
UL
Ns
Sn
LL
Pos
Mes
Holdaway线 (H线)
H线:软组织颏前点与上唇突点连线
H角:H线与NB线的交角 UL
Ns
Pos
B
N
Ricketts: 审美平面(E线)
侧面软组织鼻尖点和颏前点连线
东方人上下唇位于E线前后2mm所表现的侧面较好
Prn
Pos
UL
Prn
LL
Pos
Merrifield: Z角
软组织颏前点与较前的唇突点连线与FH平面构成的内下交角
评价唇前突的程度: 正常均值为80°左右
UL LL
Pos
常用X线头影测量分析法
经典头影测量分析方法
Downs分析法—角度为主的分析(如MP-FH)
Wylie分析法—线距为主的分析(如前面高)
Steiner分析法—臂章图分析,确定治疗目标
Tweed分析法—Tweed三角,下前牙倾斜度决定侧貌
Ricketts分析法—直观治疗目标(VTO)描图预测
功能分析法—辅助鉴别功能性错
高)
图
经典头影测量分析方法 Wits分析法—排除N点变异,基于功能OP进行矢状向不调分析
Kim分析法—MEAW技术诊断体系,评价垂直向、矢状向骨性不调趋势
McNamara分析法—以鼻根点垂线为主要基准平面,线距为主的分析
四边形分析法—适用于正颌外科病例的个体估计
……
华西分析法—博采众长
Tweed分析法 Tweed三角:
由眼耳平面(FH)、下颌平面(MP)、下中切牙长轴所组成的代表面部形态结构的颌面三角形
Tweed认为:
FMA主要由遗传决定,正畸治疗主要依靠改变下中切牙的位置和倾斜度来达到FMIA目标
FMIA为65°是美国白人儿童建立良好面形的重要条件
Tweed 三角 正 常 值
白人 北京 成都
下中切牙-FH平面(FMIA) 65° 56° 54°
FH平面-MP平面角(FMA) 25° 31° 28°
下中切牙-MP平面(IMPA) 90° 94° 98°
不同人群的FMIA目标有差异
下前牙再定位—计算法
绘出Tweed三角
测量FMIA=55 °
标准值(65°)-测量值(55 °)=10°即为下中切牙需要舌倾的度数
10×0.8=8(mm)即为
下中切牙舌倾所需的间隙量
Tweed三角的意义
着重分析下前牙的位置和倾斜度(FMIA)
以建立良好侧貌为目标进行下前牙再定位
根据FMA角的大小判断矫治预后:
FMA : 16°~28°预后良好
FMA : 28°~35°预后一般
FMA : >35° 预后不佳
不是对面部总的分析,有一定局限性
X线头影测量华西分析法
X线头影测量分析
概念、应用、拍摄及描图 1
常用头影测量标志点及平面 2
常用硬组织、软组织测量项目 3
常用X线头影测量分析法 4
X线头影测量学的发展方向
Text
二维头颅侧位片 CT及三维重建
Text Text
传统x线头颅侧位片 CBCT重建头颅侧位片
激光扫描面部三维图片测量
YuLi@scu.edu.cn
李宇_华西口腔V