X线头影测量分析 -...
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X线头影测量分析 Cephalometrics 四川大学华西口腔医学院 正畸学系 李宇
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X线头影测量分析Cephalometrics
四川大学华西口腔医学院
正畸学系 李宇
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X线头影测量分析
概念、应用、拍摄及描图 1
常用头影测量标志点及平面 2
常用硬组织、软组织测量项目 3
常用X线头影测量分析法 4
临床实例
什么是X线头影测量？
X线头影测量, 主要是测量X线头颅定位照像所得的影像, 对牙颌, 颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析, 从而了解牙颌、 颅面软硬组织的结构，使对牙颌、颅面的检查、诊断, 由表面形态深入到内部的骨骼结构中去。
发 展 历 史 * 1780年 解剖学家Camper
* 1884年 人类学国际会议在德国 Frankfurt举行—眼耳平面（FH）的诞生
* 1916年 正畸学家Van Loon第一个将人类学方法应用到正畸学中
* 1923年 Meconer将X射线引入正畸学中
* 1931年 Brondbent(美)及Hofrath(德)首次使用头颅定位器及摄片技术
１.研究颅面生长发育
X线头影测量的主要应用
２.牙颌、颅面畸形的诊断分析
X线头影测量的主要应用
3.确定错 畸形的矫治设计
X线头影测量的主要应用
4.研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化
X线头影测量的主要应用
X线头影测量的主要应用
4.研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化
5.外科正畸的诊断和矫治设计
X线头影测量的主要应用
6.下颌功能分析
X线头影测量的主要应用
头颅定位X线片的种类
按拍摄时不同头位分为
头颅侧位片
正位片
颏顶位片
仪器：X线头颅定位仪
X线头颅侧位片的获得
X线照相要求： 左右耳塞与眶针三者构成一与地平面平行的恒定平面
X线的中心点通过外耳道
X线球管至头部矢状面的距离不小于150cm
尽量减少头至胶片或感光板的距离
X线头颅侧位片的获得
被摄者要求：
1. 立位，两足自然平行分开，平视前方
2. 最大牙尖交错位（ICP）或根据需要
3. 面肌自然放松
良好X线头影片
软、硬组织清晰
头位正常
左右重叠度好
不好的X线头影片
A B
C D
X线头影测量片的描图
传统胶片手绘描图
在X线观片灯或专用描图桌上进行
工具：透明硫酸纸、刻度尺、三角板、圆规、3H铅笔等
描图顺序
软组织描记,可用强光局部观察
使用头影测量软件（如WinCeph）定点测量
使用绘图软件（如Coreldraw)描图
X线头影测量片的描图
头颅侧位片描绘内容
颅底、蝶鞍轮廓
眶侧缘、下缘
翼上颌裂
上下颌骨
上下1、上下6
软组织侧貌
常用X线头影测量 的标志点
标 志 点
• 定义: 用来构成一些平面及测量内容的点
• 特点： – 影片上易于定位
– 生长发育过程中相对稳定
标 志 点
•部位:
–颅部
–上颌
–下颌
–软组织侧面
颅部标志点
• 蝶鞍点(S):
蝶鞍影像的中心
常用作描图重叠的参考点
颅部标志点 • 鼻根点(N):
鼻额缝之最前点
前颅部的标志点
代表颅、面部的结合处
颅部标志点 • 耳点(P):
外耳道的最上点(解剖耳点)
常以定位仪耳塞影像之最上点代表（机械耳点）
颅部标志点 • 颅底点(Ba):
枕骨大孔前缘之中点
后颅底的
标志
颅部标志点
• Bolton点:枕骨髁突后切迹的最凹点
颅部标志点（5个）
蝶鞍点（S） 鼻根点(N） 耳点（P） 颅底点（Ba） Bolton点（Bo）
S N
P
Ba
Bo
• 眶点(O):眶下
缘之最低点
上颌标志点
• 翼上颌裂点(Ptm):
翼上颌裂轮廓(倒泪滴状）之最下点
常作上颌后界的参考点
上颌标志点
• 前鼻棘(ANS):前鼻棘之尖
• 后鼻棘(PNS):硬腭后部骨棘之尖
上颌标志点
• 上齿槽缘点(SPr):
上齿槽突之最前下点
常在上中切牙
釉牙骨质界处
上颌标志点
• 上齿槽座点(A):
ANS与SPr间骨部的最凹点
用于评价上颌基骨前后位置
的重要标志点！
上颌标志点
• 上中切牙点（UI）：上中切牙切缘之最前下点
• 上磨牙点（U6）: 上颌第一磨牙的 近中颊尖点或颊沟点
上颌标志点
上颌标志点（6个）
•眶点（O） •翼上颌裂点（Ptm）
• 前鼻棘（ ANS）
• 后鼻棘（PNS）
• 上齿槽座点（A）
• 上中切牙点（UI）
O
ANS
UI
A PNS
Ptm
下颌标志点 • 髁顶点(Co):髁突的最上点
• 关节点(Ar):颅底下缘与下颌髁突颈后缘之交点
• 下颌角点(Go): 下颌角的后下点
下颌标志点 • 颏前点(Po):颏部之最突点
• 颏下点(Me):颏部之最下点
• 颏顶点(Gn): Po与Me之中点
• D点:下颌体骨性联合部之中心点
下颌标志点
• 下齿槽缘点(Id) :下齿槽突之最前上点
• 下齿槽座点(B): Id与Po间之骨部最凹点
用于评价下颌基骨前后位置的重要标志点！
下颌标志点
• 下切牙点（Li）:下中切牙切缘之 最前点
• 下磨牙点（L6）:下颌第一磨牙的近中颊尖点
下颌标志点（7个）
•髁顶点（Co） •下颌角点（Go）
• 颏前点（Po）
• 颏下点（Me）
• 颏顶点（Gn）
• 下齿槽座点（B）
• 下切牙点（Li）
Co
Gn Po
Li
Me
B Go
软组织侧面标志点（9个） • 软组织鼻根点(Ns)
• 鼻顶点(Prn)：鼻部最突点
• 鼻下点(Sn）
• 上唇突点(UL)
• 下唇突点(LL)
• 软组织颏前点(Pos)
• 软组织颏下点(Mes) UL
Ns
Sn
Prn
LL
Pos
Mes
Me Po
N
注 意
正中矢状面上的参考点（如S点）较矢状面两侧的参考点（如Co点）准确
双侧影像未完全重叠时取其中点（如Go点）
较难准确定位的点：O点、A点、ANS点、PNS点
• 在颅面生长过程中，参考点的稳定性是有变化的，所谓“固定的标志点”是不存在的
• 但靠近颅底的一些点（如S点，N点，Ba点）在出生后随生长变化很小，故由它们构成的平面被用作头影测量的“基准平面”
常用X线头影测量 的平面
前颅底平面（SN）： 代表前颅底前后范围 常作为面部结构对颅底关系的定位平面 眼耳平面（FH）： P点和O点连线组成 , 与地面平行 Bolton平面: 由Bo点与N点连线组成
S N
P O
Bo
基准平面 ——头影测量中相对稳定的平面
腭 平 面 (PP.palatal
plane）:ANS与PNS的连
线,用于评价上颌骨的
长度、位置及生长方向
全颅底平面(Ba-N):可
视为颅部与颌面部的分
界线
ANS
PNS
测量平面
Ba
N
测量平面
下颌平面(MP. mandibular plane）:评价下颌骨的长度、位置及生长方向
三种确定方法
A. 通过颏下点（Me）与下颌角下缘相切的线
B. 下颌下缘最低部的切线
C. 下颌角点（Go）与颏顶点（Gn）的连线。
测量平面
平面（OP. occlusal plane)：
• a:解剖 平面——上下6的咬合中点与上下1切缘中点的连线
• b:功能 平面——均分后牙 接触点获得
• c:上颌 平面——用得较少
N
Po
Gn
S
面平面（N-P）:由鼻根
点与颏前点连线组成
Y轴(Y axis):S与Gn的
连线，代表面部生长发
育方向
测量平面
常用硬组织测量项目
1.上下颌骨的常用测量项目
A
B
S N SNA 角：反映上颌相对
于颅部的前后位置关系
SNB 角：反映下颌相对于颅部的前后位置关系
ANB 角=SNA-SNB，反映上下颌骨对颅部的相互位置关系
面角（NP-FH）：面平面与眼耳平面之后下交角
Y轴角：Y轴与眼耳平面之前下交角
下颌平面角（MP-FH）: 下颌平面与眼耳平面（或SN平面）的交角
上颌长（ANS-Ptm）：上颌长度
上颌位置（S- Ptm）：上颌骨后缘相对于颅底的前后向关系
下颌位置（S-Co）：下颌髁突的前后位置
下颌长（Co-Po）： 下颌骨的综合长度
FH
MP
(1)U1-SN角
(2)L1-MP角
(3)U1-NA角
(4)U1-NA距
(5)L1-NB角
(6)L1-NB距
(7)U1-L1角
2.上下前牙的常用测量项目
(1)U1-SN角
(2)L1-MP角
(3)U1-NA角
(4)U1-NA距
(5)L1-NB角
(6)L1-NB距
(7)U1-L1角
2.上下前牙的常用测量项目
(1)U1-SN角
(2)L1-MP角
(3)U1-NA角
(4)U1-NA距
(5)L1-NB角
(6)L1-NB距
(7)U1-L1角
2.上下前牙的常用测量项目
全面高:N’-Me’
上面高:N’-ANS’
下面高:ANS’-Me’
3.面部高度的常用测量项目
N’
ANS’
Me’
为各点在FH平面垂线上投影之距离（与教材不同）
线距的比例较其绝对长度更有意义
N
ANS
Me
P O
前面高：N’-Me’
后面高：S’-Go’
后前面高比：
S’-Go’/N’-Me’
N’
N
ANS
ME
P O
Me’
ANS’
S
Go
Go’
S’
全面高:N’-Me’
上面高:N’-ANS’
下面高:ANS’-Me’
后前面高比
S’-Go’/N’-Me’×100%
用于判断面部生长型
＞65% 水平生长型
62-65% 平均生长型
＜62% 垂直生长型
下颌平面角
MP-FH
用于判断高低角
＜ 25° 低角
25-35°均角
＞ 35° 高角
常用软组织测量内容
面型角（FCA)
FCA：额点-鼻下点-软组织颏前点 所成的角
代表软组织面型突度
区别硬组织面角（NP-FH)
G
Sn
Pos
Po
N
鼻唇角（NLA)
鼻小柱-鼻下点-上唇突点 所成的角
代表上唇与鼻底位置关系：正常均值为100°左右
UL
Ns
Sn
LL
Pos
Mes
Holdaway线 （H线）
H线：软组织颏前点与上唇突点连线
H角：H线与NB线的交角 UL
Ns
Pos
B
N
Ricketts： 审美平面（E线）
侧面软组织鼻尖点和颏前点连线
东方人上下唇位于E线前后2mm所表现的侧面较好
Prn
Pos
UL
Prn
LL
Pos
Merrifield： Z角
软组织颏前点与较前的唇突点连线与FH平面构成的内下交角
评价唇前突的程度: 正常均值为80°左右
UL LL
Pos
常用X线头影测量分析法
经典头影测量分析方法
Downs分析法—角度为主的分析（如MP-FH)
Wylie分析法—线距为主的分析(如前面高）
Steiner分析法—臂章图分析，确定治疗目标
Tweed分析法—Tweed三角,下前牙倾斜度决定侧貌
Ricketts分析法—直观治疗目标（VTO)描图预测
功能分析法—辅助鉴别功能性错
高）
图
经典头影测量分析方法 Wits分析法—排除N点变异，基于功能OP进行矢状向不调分析
Kim分析法—MEAW技术诊断体系，评价垂直向、矢状向骨性不调趋势
McNamara分析法—以鼻根点垂线为主要基准平面，线距为主的分析
四边形分析法—适用于正颌外科病例的个体估计
……
华西分析法—博采众长
Tweed分析法 Tweed三角：
由眼耳平面（FH）、下颌平面（MP）、下中切牙长轴所组成的代表面部形态结构的颌面三角形
Tweed认为：
FMA主要由遗传决定，正畸治疗主要依靠改变下中切牙的位置和倾斜度来达到FMIA目标
FMIA为65°是美国白人儿童建立良好面形的重要条件
Tweed 三角 正 常 值
白人 北京 成都
下中切牙－FH平面（FMIA） 65° 56° 54°
FH平面－MP平面角（FMA） 25° 31° 28°
下中切牙－MP平面（IMPA） 90° 94° 98°
不同人群的FMIA目标有差异
下前牙再定位—计算法
绘出Tweed三角
测量FMIA=55 °
标准值(65°)-测量值(55 °)=10°即为下中切牙需要舌倾的度数
10×0.8=8(mm）即为
下中切牙舌倾所需的间隙量
Tweed三角的意义
着重分析下前牙的位置和倾斜度（FMIA)
以建立良好侧貌为目标进行下前牙再定位
根据FMA角的大小判断矫治预后：
FMA : 16°~28°预后良好
FMA : 28°~35°预后一般
FMA : ＞35° 预后不佳
不是对面部总的分析，有一定局限性
X线头影测量华西分析法
X线头影测量分析
概念、应用、拍摄及描图 1
常用头影测量标志点及平面 2
常用硬组织、软组织测量项目 3
常用X线头影测量分析法 4
X线头影测量学的发展方向
Text
二维头颅侧位片 CT及三维重建
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传统x线头颅侧位片 CBCT重建头颅侧位片
激光扫描面部三维图片测量
