Perfil de profundidade utilizando a técnica de ... · utilizadas as técnicas de espectroscopia...
Transcript of Perfil de profundidade utilizando a técnica de ... · utilizadas as técnicas de espectroscopia...
Perfil de profundidade utilizando a técnica de
fluorescência de raios X por dispersão de energia
para o estudo de Bens Culturais "in situ"
Paula Rangel Pestana Allegro
Supervisora: Profª. Drª. Márcia de Almeida Rizzutto
Departamento de Física Nuclear
Instituto de Física da Universidade de São Paulo
Resumo
Este trabalho tem como objetivo principal o desenvolvimento da medida e análise de
perfis de profundidade "in situ" utilizando a técnica de fluorescência de raios X por dispersão de
energia (ED-XRF). Em particular, será dada ênfase no desenvolvimento da técnica para medida
de pinturas, uma vez que já existe interesse e colaboração com o Museu de Arte Contemporânea
da Universidade de São Paulo (MAC-USP) para medida de pinturas pertencentes à coleção de
pinturas italianas realizadas no período entreguerras. No caso específico de pinturas, a
determinação de perfis de profundidade permite identificar sua composição (base de preparação,
camadas de pintura) e, em alguns casos, identificar pinturas escondidas sob a superfície.
Paralelamente, também serão utilizadas as técnicas de espectroscopia Raman e Espectroscopia no
infravermelho por transformada de Fourier (FTIR) para a completa caracterização dessas obras,
com a finalidade de formar um banco de dados online que sirva de subsídio a pesquisadores,
museólogos, comerciantes e peritos criminais na identificação e caracterização deste patrimônio
material.
1 - Introdução
O estudo e a conservação de bens culturais vêm sendo um tema de bastante importância
discutido nas últimas décadas, não somente por curadores, restauradores e historiadores da arte,
mas também por físicos e químicos para uma melhor caracterização e entendimento dos materiais
existentes nos diferentes objetos históricos e artísticos. Diversos trabalhos na Europa, Estados
Unidos, Ásia e Peru vêm sendo publicados recentemente [2-9] utilizando métodos não
destrutivos para caracterização e análises de bens culturais, tais como processos de imageamento
e técnicas atômicas nucleares não-destrutivas. No Brasil, um dos primeiros estudos sobre técnicas
físicas aplicadas a bens culturais foi realizado em 1992 [10], onde as técnicas de fluorescência de
raios X por dispersão de energia (ED-XRF) e de tomografias de raios gama foram utilizadas na
análise de bronzes antigos. Desde este trabalho de 1992, diversos outros foram realizados nos
últimos 21 anos com o objetivo de caracterização, compreensão e conservação dos bens culturais
brasileiros, sendo alguns dos trabalhos mais recentes descritos nas referências [11-15].
A caracterização de bens culturais envolve questões específicas como identificação dos
materiais que constituem os objetos artísticos e históricos e a determinação dos processos de
degradação desses objetos, tais como desgaste, infiltrações ou corrosão. Esta caracterização deve
ser feita preferencialmente utilizando métodos não invasivos, sem a retirada de amostras. No caso
específico de pinturas, devido a sua fragilidade e valor financeiro, análises "in situ" são ideiais
para a caracterização desses objetos. Técnicas como Fluorescência de Raios X por dispersão de
energia [16], espectroscopia Raman [17] e Espectroscopia no infravermelho por transformada de
Fourier (FTIR) [18] são amplamente utilizadas para análises "in situ" de bens culturais [3, 4, 14,
15, 19 - 23] devido ao desenvolvimento de aparelhos portáteis.
2 - Objetivos
Este projeto tem como objetivo principal o desenvolvimento da medida e análise de perfis
de profundidade utilizando a técnica de fluorescência de raios X por dispersão de energia (ED-
XRF). Para tanto, será desenvolvido um equipamento portátil com variação de ângulo do
posicionamento do detector para medidas "in situ". Em particular, será dada ênfase no
desenvolvimento da técnica para medida de pinturas, uma vez que já existe interesse e
colaboração com o Museu de Arte Contemporânea da Universidade de São Paulo (MAC-USP)
para medida de pinturas pertencentes à coleção de pinturas italianas realizadas no período
entreguerras. No caso específico de pinturas, a determinação de perfis de profundidade permite
identificar as composições (base de preparação, camadas de pintura), o que ajudaria a entender os
pigmentos presentes nas pinturas escondidas sob a superfície. Paralelamente, também serão
utilizadas as técnicas de espectroscopia Raman e Espectroscopia no infravermelho por
transformada de Fourier (FTIR) para a completa caracterização dessas obras, com a finalidade de
formar um banco de dados online que sirva de subsídio a pesquisadores, museólogos,
comerciantes e peritos criminais na identificação e caracterização deste patrimônio material.
3 - Justificativa
A Universidade de São Paulo possui diversos museus, que reúnem em seus acervos
diferentes coleções de obras artísticas, objetos, documentos iconográficos e textuais nacionais e
internacionais, formando um patrimônio histórico e cultural de valor etnológico imensurável. O
Museu de Arte Contemporânea da Universidade de São Paulo (MAC-USP) possui em seus
acervos mais de 10 mil obras, entre as quais as coleções “Francisco Matarazzo Sobrinho” e
“Francisco Matarazzo Sobrinho e Yolanda Penteado”, alvo de controvérsia entre os historiadores
e museólogos em relação à aquisição destas obras. Classificadas inicialmente como pertencentes
às coleções particulares do casal Francisco Matarazzo Sobrinho e Yolanda Penteado, pesquisas
recentes destas obras revelaram um propósito de aquisição para a formação do acervo do antigo
Museu de Arte Moderna de São Paulo (MAMSP), principalmente as pinturas italianas adquiridas
pelo casal nos anos de 1946-1947 [24]. Dentre as obras dessas coleções, estão as 2 pinturas
italianas do período entre guerras que serão analisadas neste trabalho através da utilização de
técnicas não-destrutivas, com o objetivo de sua caracterização para a correta documentação e
conservação dessas obras, além de ajudar na sua contextualização histórica. O interesse de análise
dessa coleção vem do fato que cinco destas pinturas possuem composições inteiras no verso,
fenômeno excepcional das práticas artísticas do período entreguerras. Este processo de
caracterização possui total apoio do Museu de Arte Contemporânea da Universidade de São
Paulo (MAC-USP), conforme carta em anexo. Quatro dessas pinturas foram recentemente
analisadas utilizando as técnicas de emissão de raios X induzida por partícula (PIXE), ED-XRF,
espectroscopia Raman e técnicas de imageamento [13, 25 - 27]. As medidas dessas pinturas e a
dificuldade de seperação dos pigmentos utilizados nas diferentes camadas mostraram a
importância de se desenvolver técnicas de medidas de profundidade para diferenciação dos
resultados obtidos, já que as obras possuem pintura dos dois lados.
A quinta pintura que contém outra composição completa em seu verso, " Marina" de
Virgílio Guidi, na realidade é uma obra com três pinturas, que foram identificacadas por imagem
de infravermelho e por radiografia digitalizada que auxiliaram na identificação de uma pintura
subjacente, além das duas composições visíveis. Para a medida dessa obra, uma técnica que
permita a diferenciação dos resultados por profundidade é fundamental.
Este projeto de pós-doutorado será desenvolvido no Instituto de Física da Universidade
de São Paulo (conceito 7 da CAPES), mesma instituição de pesquisa onde realizei minha
dissertação de mestrado [28] e minha tese de doutorado [29], ambas em física nuclear básica, em
que as estruturas de diversos núcleos foram estudadas através de espectroscopia de raios gama
em linha e interpretadas através do Modelo de Camadas em Larga Escala. Os trabalhos de
mestrado e doutorado possibilitaram adquirir uma grande experiência em instrumentação nuclear
com aceleradores e, principalmente no uso de detectores de radiação gama e análise dos seus
respectivos espectros. Parte dessa expertise já foi utilizada para a implementação da técnica PIGE
no LAMFI através de um pós-doutorado de duração de três anos com bolsa FAPESP, sob
supervisão da profª. Drª. Marcia de A. Rizzutto.
4 - Resultados esperados
Como resultado deste projeto espera-se disponibilizar a técnica de medida de perfis de
profundidade utilizando fluorescência de raios X por dispersão de energia como mais uma das
técnicas de caracterização de bens culturais "in situ"disponíveis para caracterização do
patrimônico cultural e artísitico brasileiro.
Da caracterização das pinturas italianas pertencentes às coleções “Francisco Matarazzo
Sobrinho” e “Francisco Matarazzo Sobrinho e Yolanda Penteado” do Museu de Arte
Contemporânea da Universidade de São Paulo (MAC-USP) espera-se contribuir para a correta
documentação e conservação dessas obras, além de disponibilizar os resultados obtidos nesse
estudo em uma base de dados online, que servirá de subsídio a pesquisadores, museólogos,
comerciantes e peritos criminais para identificação e caracterização desse patrimônio material.
5 - Relevâncias desta proposta para o desenvolvimento científico e
Tecnológico
No Brasil, o estudo de bens culturais ainda é muito recente ao se comparar com Europa e
Estados Unidos, onde esse tipo de análise é feito desde a década de 1970, sendo necessário ainda
desenvolver uma metodologia que compreenda diversos tipos de técnicas para o estudo e
caracterização do patrimônio histórico e cultural brasileiro. Do ponto de vista técnico, o
desenvolvimento de um equipamento portátil para medida de profundidade em materiais
utilizando a técnica de fluorescência de raios X por dispersão de energia (ED-XRF) trará mais
uma importante ferramenta na caracterização dos objetos artísticos e culturais do patrimônio
brasileiro "in situ", permitindo a caracterização desse patrimônio sem a necessidade de deslocá-
los para o laboratório ou retirada de amostras.
6 - Materiais e Métodos
Nesta seção serão descritos brevemente as técnicas físicas utilizadas para medida de bens
culturais que serão utilizadas neste projeto de pesquisa (ED-XRF, Raman e FTIR), além das
considerações teóricas necessárias para a determinação do perfil de profundidade utilizando a
técnica ED-XRF com a finalidade de construção de um equipamento portátil para caracterização
de bens culturais.
6.1 - Fluorescência de raios X por dispersão de energia (ED-XRF)
A fluorescência de raios X por dispersão de energia (ED-XRF) é uma técnica analítica
multielementar não destrutiva capaz de identificar elementos com número atômico Z 12 16],
através dos raios X característicos K, K ou L, L dos elementos que estão presentes em
uma amostra particular. Neste método, o material a ser analisado é atingido com um feixe de
raios X que interage com os átomos da amostra provocando a ionização das camadas mais
internas dos átomos. O preenchimento das vacâncias resultantes, por elétrons mais periféricos,
induz a emissão de raios X característicos dos elementos constituintes da amostra.
O método ED-XRF também é capaz de fornecer indicações das concentrações dos
elementos da amostra, uma vez que as intensidades dos fótons emitidos estão relacionados
com essa concentração.
6.2 - Espectroscopia Raman
A espectroscopia Raman [17] baseia-se no espalhamento inelástico da radiação
eletromagnética pelas moléculas de um material. Quando um fóton com energia h muito
maior que a separação entre os níveis vibracionais/rotacionais das moléculas de um material
incide nesse material, esse fóton pode ser espalhado elástica ou inelasticamente pelas
moléculas do meio. No caso de espalhamento elástico, um fóton de mesma energia é emitido
e esse fenômeno é chamado de espalhamento Rayleight. No caso de espalhamento inelástico,
um fóton de energia ligeiramente maior ou menor que a inicial é emitido, consistindo no
espalhamento Raman. Se o fóton re-emitido tiver energia menor que a inicial, significa que
uma parte da sua energia foi absorvida pela molécula, que foi excitada para um estado
rotacional ou vibracional mais energético que o inicial, processo conhecido por espalhamento
Raman Stokes. Por outro lado, se o fóton re-emitido tiver energia maior que a inicial,
significa que uma parte da energia da molécula foi transferida para o fóton, e que a mesma
passou para um estado menos energético, processo conhecido como espalhamento Raman
Anti-Stokes.
O deslocamento de energia entre fótons inicial e final irá corresponder à diferença
energética entre os níveis vibracionais e/ou rotacionais das moléculas do material analisado.
A espectroscopia Raman consiste, portanto, em fazer incidir radiação eletromagnética
monocromática no material que se deseja estudar e detectar o números de fótons que são
espalhados pelo material em função do deslocamento de energia desses fótons. Uma vez que
cada molécula possui uma configuração energética particular, é possível estudar as variações
na estrutura molecular de um material, analisando as variações no espectro Raman.
É importante destacar que a espectroscopia Raman não depende da frequência da
radiação eletromagnética incidente, uma vez que a medida Raman leva em conta apenas a
diferença de energia dos fótons inicial e final. Além disso, como o deslocamento pode
ocorrer devido ao aumento de energia do fóton ou à diminuição, os picos do espectro Raman
são simétricos em relação ao pico central, situado em zero e correspondente ao espalhamento
Rayleight.
6.3 - Espectroscopia no infravermelho por transformada de Fourier (FTIR)
A técnica de Espectroscopia no infravermelho por transformada de Fourier (FTIR)
[18] baseia-se na medida dos movimentos de rotação e vibração das moléculas para
determinar suas ligações químicas. Cada um desses modos rotacionais e vibracionais
corresponde a uma energia característica das moléculas. Quando os átomos da molécula
recebem determinada quantidade de energia, essa pode ser absorvida e os átomos podem ser
promovidos a um nível energético excitado. Assim como na transição entre os níveis
quânticos, as transições entre os níveis rotacionais e vibracionais só ocorrem para
quantidades específicas de energia, que correspondem à diferença de energia entre os níveis
fundamental e excitado. Ao submeter as substâncias à radiação na faixa do infravermelho,
observa-se absorção devido à transição nos níveis vibracionais (~ 0,2 eV). Contudo, o mesmo
não é observado para os níveis rotacionais, pois estes apresentam separação muito menor
entre os níveis (~10-4 eV).
A espectroscopia por absorção de infravermelho consiste na análise das bandas
(intervalos de comprimento de onda) de absorção de energia da radiação incidente, na região
do infravermelho, pelo material estudado. Como os níveis de energia são característicos das
ligações químicas é possível determinar a existência de alguns compostos conhecendo as
bandas de absorção de uma dada amostra.Sendo assim, a análise da amostra deve ser
realizada, variando-se o comprimento de onda da radiação incidente. A variação do
comprimento de onda pode ser obtida através do uso de um prisma (ou monocromador) ou
através de um interferômetro. No caso do interferômetro, radiação branca é aplicada ao
material e todos os comprimentos de onda são processados separadamente, porém
simultaneamente, através de uma transformada de Fourier. O processamento do espectro por
transformada de Fourier apresenta uma série de vantagens operacionais sobre a técnica
tradicional de absorção, como diminuição do custo do equipamento (espectrômetro), visto
que a construção de um interferômetro é mais simples que a fabricação de um monocromador
e diminuição do tempo de aquisição do espectro, dado que todas as freqüências são coletadas
simultaneamente.
Recentemente um projeto universal do CNPq foi aprovado para compra de um
sistema portátil de FTIR (processo nº 445932/2014-7 - "Objetos de arte estudados com
equipamentos portáteis").
6.4 - Diferenciação da profundidade utilizando a técnica de Fluorescência de raios
X por dispersão de energia
A diferenciação da interação dos raios X incidentes com os átomos da amostra em
profudindades diversas e a consequente emissão de fluorescência de raios X pode ser analisada
experimentalmente de três maneiras [19]: avaliação das razões internas de emissões de raios X
dos elementos presentes na amostra (razões Kα/ Kβ, etc.); medida dos mesmo ponto por dois
métodos experimentais diferentes (mudança da fonte de excitação ou do ângulo de incidência) e
medida da radiação característica emitida em dois ângulos diferentes. A fundamentação
matemática desses processos pode ser vista na ref. [1].
O primeiro método, que consiste na avaliação das razões internas de emissões de raios X
dos elementos presentes na amostra, baseia-se no fato de que quanto mais interno na amostra for
o elemento presente, menor será a razão de emissão Kα/ Kβ (Lα/ Lβ ou K/L), uma vez que as
emissões Kα ((Lα ou K) terão maior absorção dentro do material. Esse método, entretanto, é
limitado devido a presença de materiais cuja borda de emissão tenha energia intermediária em
relação às energias das linhas consideradas para a razão, já que a linha de energia mais alta será
absorvida pelo outro elemento, modificando a razão detectada.
O segundo método consiste em modificar a fonte de excitação ou o ângulo incidente
dessa fonte. A mudança na fonte de excitação implica na mudança das energias de excitação
enquanto que a mudança no ângulo incidente implica no aumento da intensidade detectada dos
elementos que estão na superfície, uma vez que a emissão dos elementos mais profundos é
atenuada no próprio material. A grande desvantagem desse método é que todas as excitações
devem atingir o mesmo lugar na superfície da amostra, o que nem sempre se pode garantir para
amostras heterogêneas em relação ao diâmetro do feixe incidente.
O terceiro método consiste em detectar a radiação emitida da amostra em diferentes
ângulos. A razão das intensidades de uma mesma linha de emissão medidas em dois ângulos
diferentes traz informações sobre a distribuição em profundidade na amostra desse elemento. No
caso de elementos próximos à superfície, essa razão é aproximadamente constante. Essa razão
aumenta a medida que o elemento se encontra mais profundo na amostra, se o ângulo de detecção
do primeiro detector for maior (mais próximo da perpendicular da superfície do material) do que
o ângulo dde posicionamento do detector 2. Isso acontece devido ao maior caminho que a
radiação emitida tem que percorrer para ser detectada pelo detector 2. A principal limitação do
método é que as eficiências de detecção tem que ser bem conhecidas, já que a geometria de
detecção em ambos os casos é muito diferente.
Nesse projeto, pretende-se desenvolver um arranjo experimental que leva em
consideração os métodos 2 e 3, que permita determinar "in situ" a localização em profundidade
de um elemento na amostra. Essas técnicas estão sendo aplicadas recentemente na Universidade
Técnica de Praga, República Tcheca.
7 - Cronograma
Atividade \bimestre 1 2 3 4 5 6
Construção do equipamento portátil com ângulos de
incidência e detecção variáveis
Testes de confiabilidade do aparelho
Medidas das duas pinturas pertencentes ao museu
MAC-USP com as técnicas ED-XRF, Raman e FTIR
Análise, divulgação dos resultados em forma de
artigo e relatório final
8 - Disseminação e avaliação
Os resultados deste projeto poderão ser avaliados através de relatórios, nos quais os
objetivos deste trabalho serão divididos em três etapas principais. A primeira etapa consiste no
desenvolvimento de um equipamento portátil e sua e otimização da medida de profundidade com a
técnica de fluorescência de raios X por dispersão de energia (ED-XRF). A segunda etapa consiste
na utilização desse equipamento para medida de duas pinturas italianas pertencentes às coleções
“Francisco Matarazzo Sobrinho” e “Francisco Matarazzo Sobrinho e Yolanda Penteado” do
Museu de Arte Contemporânea da Universidade de São Paulo (MAC-USP). A terceira etapa será
na medida dessas mesmas obras utilizando as técnicas de espectroscopia Raman e Espectroscopia
no infravermelho por transformada de Fourier (FTIR) para complementação e confrontação dos
resultados obtidos utilizando o novo equipamento portátil.
Os resultados obtidos da análise das pinturas serão disseminados através da publicação de
artigos em periódicos com seletiva política editorial e, posteriormente serão disponibilizados em
uma base de dados online, que servirá de subsídio a pesquisadores, museólogos, comerciantes e
peritos criminais para identificação e caracterização das obras dos autores dessas pinturas. Além
disso, pretende-se apresentar esses resultados em congressos específicos da área.
9 - Projeto relacionado:
Este projeto de pesquisa está relacionado com o Projeto Universal aprovado (processo nº
445932/2014-7 - "Objetos de arte estudados com equipamentos portáteis"), que tem como
coordenadora a profª Drª Marcia de Almeida Rizzuto. Nesse Projeto Universal, está prevista a
compra do equipamento portátil de Espectroscopia no infravermelho por transformada de Fourier
(FTIR) que será utilizado nesse trabalho para complementação da caracterização das pinturas
pertencentes ao Museu de Arte Contemporânea da Universidade de São Paulo (MAC-USP).
Referências
[2] A. Vasilescu, B. Constantinescu, D. Stan, M. Radtke, U. Reinholz, G. Buzanich, D. Ceccato,
"Studies on ancient silver metallurgy using SR XRF and micro-PIXE", Radiation Physics and
Chemistry, v. 117, p. 26-34, 2015.
[3] V. Crupi, G. Galli, M. F. La Russa, F. Longo, G. Maisano, D. Majolino, M. Malagodi, A. Pezzino,
M. Ricca, B. Rossi, S. A. Ruffolo, V. Venuti, "Multi-technique investigation of Roman decorated
plasters from Villa dei Quintili (Rome, Italy)", Applied Surface Science, v. 349, p. 924-930, 2015.
[4] T. Čechák, I. Kopecká, T. Trojek, T. Štanzel, H. Bártová , "Application of X-ray fluorescence in an
investigation of photographic heritage", Radiation Physics and Chemistry, In Press, doi:
10.1016/j.radphyschem.2015.05.015, 2015.
[5] A. Re, D. Angelici, A. Lo Giudice, J. Corsi, S. Allegretti, A. Fabiola Biondi, G. Gariani, S. Calusi,
N. Gelli, L. Giuntini, M. Massi, F. Taccetti, L. La Torre, V. Rigato, G. Pratesi, "Ion Beam Analysis for
the provenance attribution of lapis lazuli used in glyptic art: The case of the “Collezione Medicea" ” ,
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, v. 348, p. 278-284, 2015.
[6] Z.I. Balta, L. Csedreki, E. Furu, I. Cretu, R. Huszánk, M. Lupu, Z. Török, Z. Kertész, Z. Szikszai,
"Ion beam analysis of golden threads from Romanian medieval textiles", Nuclear Instruments and
Methods in Physics Research B, v. 348, Pages 285-290, 2015.
[7] S.B. Younger-Mertz, J.E. Manuel, T. Reinert, S.Z. Szilasi, S.W. Hammerstedt, G.A. Glass,
"Ion Beam Analysis of Microcrystalline Quartz Artifacts from the Reed Mound Site, Delaware
County, Oklahoma", Physics Procedia, v. 66, p. 305-320, 2015.
[8] J.-M.Miao, C.-L. Lv, H. Li, T.-M. Chen, “Non-Destructive analysis of ‘original’ Song dynasty guan
wares and later imitations from the Palace Museum collections, Beijing”, Archaeometry, v. 54,
p. 955 – 973, 2012.
[9] R. Cesareo, A. D. Bustamante, J. S. Fabian, S. del Pilar Zambrano, W. Alva, L. Z. Chero, M. C. del
Carmen Espinoza, R. R. Rodriguez, M. F. Seclen, F. V. Gutierrez, E. B. Levano, J. A. Gonzales, M. A.
Rizzutto, E. Poli, C. Calza, M. Anjos, R. P. de Freitas, R. T. Lopes, C. Elera, I. Shimada, V. Curay, M.
G. Castillo, G. E. Gigante, G. M. Ingo, F. Lopes, U. Holmquist, D. Diestra, “Multilayered artifacts in the
Pre-Columbian metallurgy from the north of Peru”, Applied Physics A, 2013.
[10] C. R. Appoloni e R. Cesareo, “The impact of X and gamma ray tomography in the field of
archaeometry”, em III Conferenza internazionale sulle prove non distruttive, metodi microanalitici
e indagini ambientali per lo studio e la conservazione delle opere d'arte : Viterbo 4-8 ottobre 1992.
[11] Hellen C. Santos, Nemitala Added, Tiago F. Silva, C.L. Rodrigues, "External-RBS, PIXE and
NRA analysis for ancient swords", Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B,
v. 345, p. 42-47, 2015.
[12] M.S. Blonski, C.R. Appoloni, "Pigments analysis and gold layer thickness evaluation of
polychromy on wood objects by PXRF", Applied Radiation and Isotopes, v. 89, p. 47-52, 2014.
[13] M.A. Rizzutto, M.V. Moro, T.F. Silva, G.F. Trindade, N. Added, M.H. Tabacniks, E.M. Kajiya,
P.H.V. Campos, A.G. Magalhães, M. Barbosa, "External-PIXE analysis for the study of pigments from a
painting from the Museum of Contemporary Art", Nuclear Instruments and Methods in Physics
Research B, v. 332, p. 411-414, 2014.
[14] E.A.M. Kajiya, P.H.O.V. Campos, M.A. Rizzutto, C.R. Appoloni, F. Lopes, “Evaluation of the
veracity of one work by the artist Di Cavalcanti through non-destructive techniques: XRF, Imaging and
Brush Stroke Analysis”, Radiation Physics and Chemistry, v. 95, p. 373-377, 2014.
[15] P.H.O.V.Campos, E.A.M.Kajiya, M.A.Rizzutto, A.C.Neiva, H.P.F.Pinto, P.A.D.Almeida, “ X-Ray
Fluorescence and Imaging analyses of paintings by the Brazilian artist Oscar Pereira da Silva”.
Radiation Physics and Chemistry, v. 95, p. 362 - 367, 2014.
[16] E.P. Bertin, “Principles and practice of X-Ray spectrometric analysis”, Plenum Press, Londres, P.
1079, 1975.
[17] D. J. Gardiner, Pierre R. Graves. “Practical Raman spectroscopy”. Springer-Verlag, Berlin,
1989.
[18] P. Griffiths, J.A. de Hasseth, "Fourier Transform Infrared Spectrometry", 2ª ed., Wiley-
Blackwell, 2007.
[19] T. Trojek, D. Trojková, "Several approaches to the investigation of paintings with the use of
portable X-ray fluorescence analysis", Radiation Physics and Chemistry, In press, doi:
10.1016/j.radphyschem.2015.01.002, 2015.
[20] J. M. del Hoyo-Meléndez, P. Świt, M. Matosz, M. Woźniak, A. Klisińska-Kopacz, Ł.
Bratasz, "Micro-XRF analysis of silver coins from medieval Poland", Nuclear Instruments and
Methods in Physics Research B, v. 349, p. 6-16, 2015.
[21] G. Buccolieri, A. Buccolieri, P. Donati, M. Marabelli, A.Castellano, "Portable EDXRF
investigation of the patinas on the Riace Bronzes", Nuclear Instruments and Methods in
Physics Research B, v. 343, p. 101-109, 2015.
[22] A.M. Cardeira, S. Longelin, S. Costa, A. Candeias, M.L. Carvalho, M. Manso, "Multi-
analytical characterisation of D’Aprés Cormon by José Veloso Salgado", Nuclear Instruments
and Methods in Physics Research B, v. 331, p. 271-274, 2014.
[23] M. M. Manea, I. V. Moise, M. Virgolici, C. D. Negut, O.-H. Barbu, M. Cutrubinis, V.
Fugaru, I. R. Stanculescu, C. C. Ponta, "Spectroscopic evaluation of painted layer structural
changes induced by gamma radiation in experimental models", Radiation Physics and
Chemistry, v. 81, p. 160-167, 2012.
[24] A. G. Magalhães, B. Faria e F. Lopes, "As coleções Matarazzo no acervo do MAC USP e a Pintura
Moderna no Brasil”. In: VI Encontro de História da Arte, 2010, Campinas. A História da Arte e
suas Fronteiras. Campinas: UNICAMP/IFCH, 2010. v. 1. p. 45-53.
[25] A. G. Magalhães, M. A. Rizzutto, E. A.M. Kajiya, P. O. V. Campos, “Felice Casorati e seu “Nu
inacabado” ” , a ser publicado em “Revista de História da Arte e Arqueologia – Unicamp, nº 19.
[26] P. R. P. Allegro, J. F. Curado, M. A. Rizzuto, T. F. Silva, N. Added, A. G. Magalhães, M. S.
Barbosa, "ED-XRF and PIXE analysis of "Il pittore all'aria aperta" (1919) by Virgilio Guidi", a
ser submetido.
[27] P. R. P. Allegro, J. F. Curado, M. A. Rizzuto, A. G. Magalhães, M. S. Barbosa, "ED-XRF and
Raman analysis of "Natura morta" (1946) by Mario Mafai", a ser submetido.
[28] P. R. P. Allegro, Estrutura nuclear do 64Cu. 2008. (Mestrado em Ciências) - Instituto de Física da
Universidade de São Paulo, São Paulo, 2008.
[29] P. R. P. Allegro, Sistemática de núcleos ímpar-ímpar de Ga na região de massa A = 60 – 70.
2013. (Doutorado em Ciências) - Instituto de Física da Universidade de São Paulo, São Paulo, 2013.
[30] Jacob Sherman, "The theoretical derivation of fluorescent X-ray intensities from mixtures",
Spectrochimica Acta, v. 7, p. 283-306, 1955.
Anexo 1
Carta de apoio do
Museu de Arte Contemporânea da
Universidade de São Paulo (MAC-USP)