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Institut für Mikroelektronische Systeme
15. ITG-Fachtagung für Elektronische Medien, 26.-27. Februar 2013, Dortmund
Methoden zur applikationsspezifischen Verlustleistungsoptimierung für eingebettete ProzessorenSebastian Hesselbarth, Holger Blume
Institut für Mikroelektronische Systeme, Leibniz Universität Hannover{hesselbarth, blume}@ims.uni-hannover.de
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Sebastian Hesselbarth, 15. ITG-Fachtagung für Elektronische Medien, 26.-27. Februar 2013, Dortmund
Institut für Mikroelektronische Systeme
Motivation Modellierung der Verlustleistung
Hybrid Functional Level/Instruction Level Power Analysis Erweiterung der Hybrid FLPA/ILPA
Modellierung für Prozessoren im Entwurfsstadium Vorgehensweise Identifikation von Einflussfaktoren auf Verlustleistung
Emulation der Verlustleistungsmodelle Integration und Aufbau des Moduls zur Bestimmung der Verlustleistung
Evaluation der Verlustleistungsmodelle Zusammenfassung
Überblick
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Sebastian Hesselbarth, 15. ITG-Fachtagung für Elektronische Medien, 26.-27. Februar 2013, Dortmund
Institut für Mikroelektronische Systeme
Steigende Leistungsanforderungen an mobile Anwendungen Sinkende Strukturgrößen erlauben leistungsfähige Multiprozessor-Chips
Batteriebetrieb begrenzt Laufzeit drastisch Verlustleistung muss stärker beachtet werden
Optimierung von Verlustleistung undEnergieverbrauch
Anwendungsfelder Mobile Endgeräte Hörgeräte Medizinische Implantate
Anforderungen an mobile Anwendungen
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Institut für Mikroelektronische Systeme
Optimierung der Leistungsfähigkeit während der Entwicklung HW/SW-Codesign mit funktionaler Emulation auf FPGA üblich Abbildung der Funktion des Prozessors auf FPGA
mit geringerer Taktfrequenz (Faktor ca. 0,1-0,5) Gleichzeitige Entwicklung von Hardware und Software Vergrößert Optimierungspotential Verkürzung der Time-to-Market
Entwicklung für mobile Anwendungen
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Institut für Mikroelektronische Systeme
Optimierung der Leistungsfähigkeit während der Entwicklung HW/SW-Codesign mit funktionaler Emulation auf FPGA üblich Abbildung der Funktion des Prozessors auf FPGA
mit geringerer Taktfrequenz (Faktor ca. 0,1-0,5) Gleichzeitige Entwicklung von Hardware und Software Vergrößert Optimierungspotential Verkürzung der Time-to-Market
Optimierung der Verlustleistung erst nach Fertigung des ASIC Keine Messung am Chip möglich Nur sequentielle Optimierung von Hardware und Software Verringertes Optimierungspotential Verlängerung der Time-to-Market
Entwicklung für mobile Anwendungen
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Institut für Mikroelektronische Systeme
Dynamische Verlustleistung Elektrische Kapazität C Versorgungsspannung V Betriebsfrequenz f Schaltaktivität α (Häufigkeit der Umladevorgänge)
Verlustleistungsbestimmung während des Entwurfs
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2dynP C V f
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Institut für Mikroelektronische Systeme
Dynamische Verlustleistung Elektrische Kapazität C Versorgungsspannung V Betriebsfrequenz f Schaltaktivität α (Häufigkeit der Umladevorgänge)
Simulation der technologieabhängigen Gatter-Netzliste (ASIC) Extraktion der Schaltaktivität Verlustleistungssimulation Sehr langsame Simulationsgeschwindigkeit (10-50Hz)
Ermittlung der Verlustleistung ganzer Anwendungen unmöglich Kaum Beachtung realer Eingangsdaten
Verlustleistungsbestimmung während des Entwurfs
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Institut für Mikroelektronische Systeme
Dynamische Verlustleistung Elektrische Kapazität C Versorgungsspannung V Betriebsfrequenz f Schaltaktivität α (Häufigkeit der Umladevorgänge)
Simulation der technologieabhängigen Gatter-Netzliste (ASIC) Extraktion der Schaltaktivität Verlustleistungssimulation Sehr langsame Simulationsgeschwindigkeit (10-50Hz)
Ermittlung der Verlustleistung ganzer Anwendungen unmöglich Kaum Beachtung realer Eingangsdaten
Abstraktion von der zeitintensiven Gatter-Ebene erforderlich
Verlustleistungsbestimmung während des Entwurfs
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Institut für Mikroelektronische Systeme
Differenzierung auf funktionaler Ebene (FLPA) Funktion der Einheit bestimmt Verlustleistung z.B. Anzahl der ausgeführten Instruktionen, Cache-Misses, Speicherzugriffe
Differenzierung auf Instruktionsebene (ILPA) Ausgeführte Instruktion bestimmt Verlustleistung z.B. Addition/Subtraktion, Multiplikation, Laden/Speichern
Modellierung der Verlustleistung
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Institut für Mikroelektronische Systeme
Differenzierung auf funktionaler Ebene (FLPA) Funktion der Einheit bestimmt Verlustleistung z.B. Anzahl der ausgeführten Instruktionen, Cache-Misses, Speicherzugriffe
Differenzierung auf Instruktionsebene (ILPA) Ausgeführte Instruktion bestimmt Verlustleistung z.B. Addition/Subtraktion, Multiplikation, Laden/Speichern
Hybrid Functional Level/Instruction Level Power Analysis Hybride Modellierung vereint FLPA und ILPA Modellbildung durch Messung der Verlustleistung
am realisierten Chip durch gezielte Anregung des Prozessors
Modellierung der Verlustleistung
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Erweiterung der Hybrid FLPA/ILPA
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Institut für Mikroelektronische Systeme
Bildung der arithmetischen Modelle Messung am noch nicht realisierten Chip unmöglich Gatter-Simulation mit kurzen Programmsequenzen Extraktion instruktionsspezifischer Schaltaktivität einzelner Module
Erweiterung der Hybrid FLPA/ILPA
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Institut für Mikroelektronische Systeme
Bildung der arithmetischen Modelle Messung am noch nicht realisierten Chip unmöglich Gatter-Simulation mit kurzen Programmsequenzen Extraktion instruktionsspezifischer Schaltaktivität einzelner Module
Integration in die funktionale Emulation auf FPGAs Nutzung der Emulation zur Anwendung der arithmetischen Modelle Großer Geschwindigkeitsgewinn (50-150MHz) Ermöglicht Untersuchung ganzer Anwendungen
Erweiterung der Hybrid FLPA/ILPA
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Institut für Mikroelektronische Systeme
Motivation Modellierung der Verlustleistung
Hybrid Functional Level/Instruction Level Power Analysis Erweiterung der Hybrid FLPA/ILPA
Modellierung für Prozessoren im Entwurfsstadium Vorgehensweise Identifikation von Einflussfaktoren auf Verlustleistung
Emulation der Verlustleistungsmodelle Integration und Aufbau des Moduls zur Bestimmung der Verlustleistung
Evaluation der Verlustleistungsmodelle Zusammenfassung
Überblick
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Institut für Mikroelektronische Systeme
Methodik zur Verlustleistungsmodellierung
15
Architektur-beschreibung
Hardware-beschreibung
Micro-Benchmarks
Gatter-Netzliste
Logiksimulation (Gatter- und Register-Ebene)und Verlustleistungssimulation
InstruktionsspezifischeVerlustleistungsmodelle
Schaltaktivität Verlustleistung
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Institut für Mikroelektronische Systeme
Gaisler Research (GPL) Sparc v8 Architektur 5-stufige Pipeline Instruktions-/Daten-Cache Lokale Speicher für
Instruktionen und Daten FPU, Coprozessor (optional)
40nm LP Standardzell-Bibliothek für 500 MHz
LEON-2 RISC-Prozessor
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Institut für Mikroelektronische Systeme
Einmalige Simulation vonkurzen Mikro-Benchmarks
Wiederholte Ausführungeiner Instruktion
Ausführungszeit ca. 5-10 Minuten/Instruktion
Gut parallelisierbar Maß für Schaltaktivität
zeitliche Hamming-Distanz
Modellbildung durchLineare Regressions-Analyse
Instruktionsspezifische Verlustleistung
17
5.0
4.0
3.0
2.0
2.0
5.0
4.0
3.0
P /
mW
iu
, ( ) ( , )IU I 0 i ii
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Institut für Mikroelektronische Systeme
Motivation Modellierung der Verlustleistung
Hybrid Functional Level/Instruction Level Power Analysis Erweiterung der Hybrid FLPA/ILPA
Modellierung für Prozessoren im Entwurfsstadium Vorgehensweise Identifikation von Einflussfaktoren auf Verlustleistung
Emulation der Verlustleistungsmodelle Integration und Aufbau des Moduls zur Bestimmung der Verlustleistung
Evaluation der Verlustleistungsmodelle Zusammenfassung
Überblick
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Institut für Mikroelektronische Systeme
Anwendung der Verlustleistungsmodelle
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modifizierteHardware-
beschreibung
FPGA-Netzliste
Instr.spez.Verlustleistungs-
modelle
Modul zurBerechnung d.Verlustleistung
Emulationsumgebung (Emulationssystem und Host-PC)
Applikation
Binärdatei
geschätzte applikationsspezifische Verlustleistung
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BEEcube BEE4 Emulationssystem 4x Xilinx Virtex-6 LX550T Je 2x 4GB DDR3 SDRAM-Module Je 1x Gigabit Ethernet (GbE)
FPGA LEON-2 Prozessor Modul zur Bestimmung der Verlustleistung Kommunikationsmodul
Standard Host-PC Datentransfer Emulations-Steuerung Visualisierung des zeitlichen Verlaufes
der Verlustleistung
Aufbau der Emulationsumgebung
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Institut für Mikroelektronische Systeme
Durchführen aller Berechnungen Geringfügige Modifikation der LEON-2
Hardware-Beschreibung erforderlich Zugriff auf interne Signale des Prozessors
Speicher für Regressions-Koeffizienten Speichern der Ergebnisse in SDRAM Geringer Ressourcenbedarf
1,4% der LUTs des FPGAs bzw.11,6% der LUTs des Prozessorkerns
2,5% der BlockRAMs des FPGAs
Kein Einfluss auf erreichbareEmulationsgeschwindigkeit
Modul zur Berechnung der Verlustleistung
21
Bus-Slave
Koeffizienten-Speicher
Bus-Master
Steu
erun
g
Berechnung derHamming-Distanzen
Mittelwert-bildung
Berechnung der Verlustleistung(Regressionsgerade)
Bus-Steuerung(Adressen)
GenerierungInstruktions-
adresse
LEON-2 Integer Unit
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Institut für Mikroelektronische Systeme
Motivation Modellierung der Verlustleistung
Hybrid Functional Level/Instruction Level Power Analysis Erweiterung der Hybrid FLPA/ILPA
Modellierung für Prozessoren im Entwurfsstadium Vorgehensweise Identifikation von Einflussfaktoren auf Verlustleistung
Emulation der Verlustleistungsmodelle Integration und Aufbau des Moduls zur Bestimmung der Verlustleistung
Evaluation der Verlustleistungsmodelle Zusammenfassung
Überblick
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Institut für Mikroelektronische Systeme
Auswahl typischer Algorithmen für eingebettete Systeme Einfluss von Entscheidungen auf Applikationsebene
Algorithmische Varianten und Compiler-Optimierungen
Anwendung der Verlustleistungsmodelle
23
Benchmark #Zyklen %MAE NRMSE
Quicksort, Os 9.401.600 3,01% 6,89%
Quicksort, O3 9.111.040 2,15% 4,68%
Lowpass 3x3, Variante A, Os 2.063.360 3,92% 10,30%
Lowpass 3x3, Variante A, O3 1.700.480 4,36% 6,75%
Lowpass 3x3, Variante B, O3 1.547.520 3,82% 9,50%
Durchschnitt (alle Benchmarks) 3,86% 7,88%
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Institut für Mikroelektronische Systeme
Auswahl typischer Algorithmen für eingebettete Systeme Einfluss von Entscheidungen auf Applikationsebene
Algorithmische Varianten und Compiler-Optimierungen
Anwendung der Verlustleistungsmodelle
24
Benchmark #Zyklen %MAE NRMSE
Quicksort, Os 9.401.600 3,01% 6,89%
Quicksort, O3 9.111.040 2,15% 4,68%
Lowpass 3x3, Variante A, Os 2.063.360 3,92% 10,30%
Lowpass 3x3, Variante A, O3 1.700.480 4,36% 6,75%
Lowpass 3x3, Variante B, O3 1.547.520 3,82% 9,50%
Durchschnitt (alle Benchmarks) 3,86% 7,88%
-3%
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Institut für Mikroelektronische Systeme
Auswahl typischer Algorithmen für eingebettete Systeme Einfluss von Entscheidungen auf Applikationsebene
Algorithmische Varianten und Compiler-Optimierungen
Anwendung der Verlustleistungsmodelle
25
Benchmark #Zyklen %MAE NRMSE
Quicksort, Os 9.401.600 3,01% 6,89%
Quicksort, O3 9.111.040 2,15% 4,68%
Lowpass 3x3, Variante A, Os 2.063.360 3,92% 10,30%
Lowpass 3x3, Variante A, O3 1.700.480 4,36% 6,75%
Lowpass 3x3, Variante B, O3 1.547.520 3,82% 9,50%
Durchschnitt (alle Benchmarks) 3,86% 7,88%
-17%
-9%
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Beispiel: Lowpass-Filter 3x3 Variante A: Rechenlastig (Shift)
Variante B: Speicherlastig (Load Byte)
Ergebnisse: Einfluss von algorithmischen Varianten
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Beispiel: Lowpass-Filter 3x3 Variante A: Rechenlastig (Shift)
Variante B: Speicherlastig (Load Byte)
Ergebnisse: Einfluss von algorithmischen Varianten
27
-9%
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Notwendigkeit zur Optimierung der Verlustleistung Methodik zur Verlustleistungsmodellierung
Erweiterung der Hybrid FLPA/ILPA Prozessoren im Entwurfsstadium Integration in die funktionale Emulation
Evaluation der Methodik an realem Beispiel Signifikanter Unterschied im Energiebedarf
Zusammenfassung
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