Fondazione Bruno Kessler Centro materiali e microsistemi dott. Massimo Bersani Micro and Nano...
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Fondazione Bruno Kessler
Centro materiali e microsistemi
dott. Massimo Bersani Micro and Nano Analytical
Laboratory (MiNALab)Michele Moltrer Daniela Michelatti
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Il Laboratorio MiNaLab si dedica principalmente
all’analisi delle superfici organiche ed inorganiche
nell’ambito della microelettronica e della
nanotecnologia, al fine di dare supporto sia alle industrie ed
ai laboratori di ricerca di tutto il mondo, sia alle attività di
ricerca proprie del gruppo.
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• Osservare il tipico procedimento di ricerca scientifica eseguito in un laboratorio;
• Capire il percorso di collaborazione lavorativa nell’ambito della ricerca;
• Approfondire le nostre conoscenze in chimica, fisica e biologia.
OBIETTIVI:
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SEMMicroscopio Elettronico a Scansione: Informazioni morfologiche
Gennaro Salvatore
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PROFILOMETRO
Profilometro: grazie ad una punta che segue il profilo del campione, si possono ottenere informazioni morfologiche
Barozzi Mario
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XPSSpettroscopio fotoelettronico a raggi-X: informazioni chimiche
02 004 006 008001 00 0
B ind ing Energy [eV ]
0
50 0
1 00 0
1 50 0
2 00 0
2 50 0
3 00 0
Intensity[cps]
C o re line: su rvey
Vanzetti Lia Emanuela
O 1s
C 1s
O-Auger
Zn 2p
O-Auger
Ca 2p N 1s
SS, Si, Zn
Si, Zn
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XRDDiffrattrometro a Raggi X: sfruttando il fenomeno della diffrazione, si riescono ad ottenere informazioni riguardo al reticolo cristallino del campione.
Bortolotti Mauro
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• L'esame della superficie mediante SEM con un basso ingrandimento
rivela che la matrice sembra sia costituita da 3 fasi principali:a) La matrice vera e propria, di natura amorfab) Fibre flessibili presumibilmente in cellulosac) Fibre a maggior rigidità
Lo spettro eseguito mediando su un’area contenente tutte e tre le fasi ha mostrato la presenza di, principalmente: C, N, O, S, Na, Ca, Cr, Zn, Si, Al e (in alcuni casi) Fe.
• Grazie all’utilizzo del Profilometro infine, abbiamo potuto constatare che il campione è di uno spessore di circa 373 µm, nonostante i problemi derivati dalla grande rugosità dello stesso.
• Con l’analisi XRD invece, anche se i dati sperimentali sono abbastanza problematici, abbiamo attribuito alle fibre di maggior rigidità una composizione in kevlar, ed alla matrice ed alle fibre più flessibili una natura amorfa di cellulosa.
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SIMS (Damiano Giubertoni) Spettrometro di massa dinamico: informazioni di composizioni chimiche di superficie e in profondità (few nm – 10 μm)
TOF (Salvatore Gennaro) Spettrometro di massa a tempo di volo: informazioni chimiche di superficie
COMPUTAZIONE (Rossana Dell’Anna): riunire informazioni ricavate con gli strumenti per ottenere nuove conoscenze sul materiale analizzato