INTROBO TIX • 4208 BALL OON P ARK RO AD NE ALBUQUERQUE, NM 87109 • USA: 505-345-7785 INTERNA TIONAL: +1-505-345-7785 ＊記載内容は予告なく変更する場合があります。201812

高分解能スタブ不良検出システム

バックドリル工程で発生しやすいスタブ

不良を特定して検出

Excessive Stub

“Pig Tail”

INTROBO TIX • 4208 BALL OON P ARK RO AD NE ALBUQUERQUE, NM 87109 • USA: 505-345-7785 INTERNA TIONAL: +1-505345-7785 ＊記載内容は予告なく変更する場合があります。

STUBView — 高分解能測定により

製造現場でスタブ不良検出

高分解能測定によるスタブ不良の検出

高周波高速信号が層間を通過する際に、シグナルインテグリティを確保し信号劣

化を抑えるためには、ビアの不要なスタブを除去するバックドリルのプロセスが不可欠

ですが、不完全なバックドリル工程による不良スタブを検出することは困難です。

Introbotix社は、精密な多層基板が設計通りに機能するか確認可能な、高分

解能スタブ不良検出システムSTUBViewを開発しました。

セットアップとキャリブレーションを短時間に...

より使いやすく

STUBViewは製造現場向けに設計されており、簡単な操作で短時間にセットアップ

が完了します。 最初にシステムのキャリブレーションを実行し、次にスタブ長の許容範

囲とトレースポイントを設定してテストを開始します。 STUBViewは各ビアのスタブ長

を測定し、最大スタブ長の許容範囲と比較して合否判定します。

オペレータは、簡単な操作によりスタブ長に起因した不良を検出することができます。

少量生産から量産向け 100％自動化まで対応可能

STUBViewは、少量検査用にプローブステーションを使用するシステムから、初期

設定操作だけで大量検査を高速に自動テストするシステムまで対応できます。

Authorized Tektronix Reseller

INTROBO TIX • 4208 BALL OON P ARK RO AD NE ALBUQUERQUE, NM 87109 • USA: 505-345-7785 INTERNA TIONAL: +1-505-345-7785 ＊記載内容は予告なく変更する場合があります。201996

実績のある高周波 TDR プラットフォームで運用

STUBViewは高周波電気測定によって、ビアのスタブ長を測定します。

高周波電気測定は、50GHz ステップパルス信号を使用した TDR測定

により行われます。

これらのシングルエンドまたは差動（奇数モード）のステップパルス

信号をテストクーポンのビアに入力

し、反射信号を計測します。

抽出された反射信号は、高速

フーリエ変換アルゴリズムに

より処理され、周波数ドメインでの

特性として出力されます。

その周波数特性の結果により、

各ビアの周波数あたりの損失

(dB/freq)の特性を求めスタブの

長さを決定します。測定したスタブの長さ(mils)が許容範囲内にあるかを

判定しレポート作成します。

テスト運用 テスト操作は、オペレータによる過去に作成したテストメニューの読み込みから

始まります。 テストメニューでは、パーツナンバーごとにシングルエンド及び差

動テストポイント数を定義します。オペレータ操作、または自動プロービングシ

ステムによって、各テストポイントのどこにプローブを当てるかメニューの案内に

従ってテストを行います。シリアル番号は、各パーツのテストが完了すると自動

的に設定されます。

レポート作成

テストが完了した時点で、ボードのシリアル番号や各ビアの位置や合格/

不合格の結果などの重要な情報をまとめたテストレポートを作成すること

ができます。

テストシステムキャリブレーション

システムキャリブレーションは、スタブ測定テスト

前の簡単な操作により短時間で完了します。

パーツナンバー毎のキャリブレーション

STUBViewは、全ての基板/バックプレーンのスタブ長のテストに

対応します。テストは、PWB のトレース長/レイヤールーティング/

トレースのインピーダンスに依存しません。新しいパーツナンバーの

基板をテストする際には、各バックドリル長固有の高周波レスポ

ンスの校正をガイダンス通り実行します。新しいパーツナンバーの

基板の校正には、初回に PWB に組み込んだ校正用クーポン

から取得した、最大 36個の登録されたバックドリル長の校正用

データを使用します。

テスト仕様の作成

テスト動作の開始前に、オペレータはテストされるビアを定義する

テストメニューを作成します。テストメニューには、ビアの位置の名前と

シングルエンド構造か差動構造か、ビアに割り当てられたバックド

リル長も含まれます。

STUBView テストメニューは、パーツナンバーごとに最大 20,000

個のビアのテストをカバーします。

プローブオプション

Introbotixの高周波プロー

ブは、バックプレーン上のBGA

のランド、コネクタグリッド、ラン

ド・パターンなど、ほぼ全タイプ

の基板ランドタイプに対応しま

す。

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高周波テストのイノベーション

Introbotixは、プロダクトライン向け オープンプラットフォーム高周波損失測定テストシステムACCU-Prober、CI1000自動

インピーダンス測定機、そして業界初の高分解能スタブ測定ツールSTUBViewを製造現場および設計業界に提供する、業界

をリードする高周波テストのパイオニアです。

製造現場向けSPP, SET2DIL, TVNA

挿入損失テスト

Introbotix ACCU-Proberは 高い拡張性を持つ設

計がされたオープンプラットフォームのTDR測定システム

です。 製造および設計で最も広く使用されている規

格に準拠しており、50GHz高周波帯域でもテストでき

ます。

自動測定プリント基板

インピーダンス測定

米国Introbotix社国内代理店

株式会社エーオーアール

〒111-0055 東京都台東区三筋2－6－4

TEL.03-3865-1695 FAX.03-3865-1697

IntrobotixのCI1000は、基板、クーポン、試作、バッチ

ジョブの全数テストのための自動インピーダンス測定システ

ムです。 CI1000は、簡単で操作性の高いシステムで

す。