Codigo ASME Seccion V Articulo 7- 2010 en Español

7/14/2019 Codigo ASME Seccion V Articulo 7- 2010 en Espaol

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ARTCULO 7EXAMINACIN POR PARTCULASMAGNTICASCDIGO ASME

SECCION V2010

Preparado por: Ing. William Jos MendozaC.I.V: 202734, CAWI/AWS N 98080574


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CONTENIDO Pag.

Artculo 7 Examinacin por Partculas Magnticas4T-710 ALCANCE.4T-720 GENERAL..4

T-721 Requerimientos de los procedimientos escritos4T-721.1 Requerimientos4T-721.2 Calificacin de procedimientos.5

T-730 EQUIPOS..5T-731 Medio de examinacin5

T-740 REQUERIMIENTOS DIVERSOS.5T-741.1 Preparacin..5T-741.2 Aumento de contraste superficial No magntico7

T-750 TCNICA7T-751 Tcnicas7

T-752 Tcnicas de las pinzas (Prods)7T-752.1 Procedimiento de magnetizacin7T-752.2 Corriente magnetizante.7T-752.3 Separacin de las pinzas7

T-753 Tecnica de magnetizacin longitudinal8T-753.1 Procedimiento de magnetizacin..8T-753.2 Densidad de campo magntico8T-753.3 Corriente magnetizante9

T-754 Tecnicas de magnetizacin circular..9T-754.1 Tcnicas de contacto directo9

T-754.2 Tcnica del conductor central..10T-755 Tcnica del Yugo.11T-756 Tcnica de magnetizacin multidireccional.11

T-756.1 Procedimiento de magnetizacin..11T-756.2 Densidad del campo magntico. 12

T-760 CALIBRACIN12T-761 Frecuencia de la calibracin..12

T-761.1 Equipos de magnetizacin.12T-761.2 Medidores de luz.12

T-762 Energa de levante de los Yugos..12

T-763 Gausmetros..13T-764 Suficiencia y direccin del campo magntico..13T-764.1 Suficiencia del campo magntico13T-764.1.1 Indicadores de campo de partculas magnticas de forma de torta..14T-764.1.2 Shims de falla artificial..15T-764.1.3 Exploracin del campo tangencial del efecto Hall..15T-764.2 Direccin del campo magntico..15T-764.2.1 Para las tcnicas de magnetizacin multidireccional 16T-764.3 Determinacin de la suficiencia16

T-765 Contaminacin y concentracin de las partculas magnticas.16

T-765.1 Concentracin..16T-765.2 Volmenes de la sedimentacin..17


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T-765.3 Contaminacin.17T-766 Ejecucin de sistemas de unidades horizontales..18T-770 EXAMINACIN..19T-771 Examinacin primaria..19T-772 Direccin de la magnetizacin.19

T-773 Mtodo de examinacin.19T-774 Cobertura de la examinacin20T-775 Corriente rectificada..20T-776 Remocin del exceso de partculas.21T-777 Interpretacin21

T-777.1 Partculas magnticas visibles (contraste de color)..21T-777.2 Partculas magnticas fluorescentes con luz negra..21T-777.3 Partculas magnticas fluorescentes con otras longitudes de ondas de

excitacin fluorescentes22T-778 Desmagnetizacin22

T-779 Limpieza posterior a la examinacin..23T-780 EVALUACIN23T-790 DOCUMENTACIN..23T-791 Magnetizacin Multidireccional23T-792 Registro de las indicaciones.23

T-792.1 Indicaciones No rechazables..23T-792.2 Indicaciones rechazables..23

T-793 Registros de la examinacin.23

Figuras

T-754.2.1 Tcnica de Conductor Central de Paso Simple y Doble.10T-754.2.2 La Examinacin de la Regin Efectiva Cuando se Usa un Conductor CentralDescentrado.11T-764.1.1 Indicador de Campo de Forma de Torta de Partculas Magnticas.13T-764.1.2.1 Shims de Falla Artificial..14T-764.1.2.2 Shims de Falla Artificial..16T-766.1 Anillo de Ensayo Ketos (Betz).20

Tablas

T-721 Requerimientos de un Procedimiento por Partculas Magnticas6


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ARTCULO 7 EXAMINACIN POR PARTCULAS MAGNTICAS

T-710 ALCANCE

Cuando se especifica mediante la seccin del Cdigo de referencia, las tcnicas de

examinacin por partculas magnticas descritas en este artculo debern ser usadas.En general, este artculo esta en conformidad con SE-709, Guia estndar Para laExaminacin Por Partculas Magnticas. Este documento suministra detalles a serconsiderados en el procedimiento usado. Cuando este artculo esta especificadomediante una seccin del Cdigo de referencia, el mtodo por partculas magnticasdescrito en este artculo deber ser usado junto con el Artculo I, Los requerimientosgenerales. La definicin de trminos usados en este artculo esta en el apndiceobligatorio II.

T-720 GENERAL

El mtodo de examinacin por partculas magnticas es aplicado para detectargrietas y otras discontinuidades en las superficies de materiales ferromagnticos. Lasensibilidad es la mayor para discontinuidades superficiales y disminuyerapidamente con el aumento de la profundidad de las discontinuidades por debajode la superficie. Los tipos tpicos de discontinuidades que pueden ser detectados poreste mtodo son grietas, solapes, costuras, colds Shuts, y laminaciones.

Al principio, este mtodo trae consigo magnetizar un rea para ser examinada, y

aplicar las partculas ferromagnticas (el medio de examinacin) a la superficie. El

patrn de partculas se forma sobre la superficie donde el campo magntico esforzado a salir de la pieza y sobre las discontinuidades para causar un campo de fuga

que atrae las partculas. Los patrones de partculas son por lo general caractersticos

del tipo de discontinuidad que es detectada.

Cualquiera que sea la tcnica usada para producir el flujo magntico en la pieza, la

sensibilidad mxima ser para las discontinuidades lineales orientadas perpendicular

a las lneas de flujo. Para la efectividad optima en la deteccin de todos los tipos de

discontinuidades, cada rea que va a ser examinada se debe magnetizar al menos

dos veces, con las lneas de flujo durante una examinacin que seaaproximadamente perpendicular a las lneas de flujo durante la otra.

T-721 Requerimientos de los Procedimientos Escritos

T-721.1 Requerimientos. La examinacin por partculas magnticas deber ser

desarrollada en concordancia con un procedimiento escrito, el cual contendr, como

mnimo, los requerimientos listados en la tabla T-721. El procedimiento escrito

establecer un solo valor, o rango de valores, para cada requerimiento.


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T-721.2 Calificacin de Procedimientos. Cuando la calificacin de procedimiento es

especificada por la seccin del Cdigo de referencia, un cambio de un requerimiento

en la tabla T-721.2 identificado como una variable esencial requerir recalificacin

del procedimiento escrito mediante demostracin. Un cambio de un requerimiento

identificado como una variable no esencial no requiere recalificacin delprocedimiento escrito. Todos los cambios de las variables esenciales o no esenciales

de aquellas especificadas dentro del procedimiento escrito requerir revisin de, o

una adenda para, el procedimiento escrito.

T-730 EQUIPOS

Deber ser empleado medios disponibles y apropiados para producir el flujo

magntico necesario en la pieza, usando una o ms de las tcnicas listadas y

descritas en T-750.

T-731 Medio de Examinacin

Las partculas divididas en forma menuda usadas para la examinacin debern

presentar los siguientes requerimientos.

(a)Tipos de partculas. Las partculas debern ser tratadas para impartir color(pigmentos fluorescentes, pigmentos no fluorescentes, o ambos) a fin de

hacerlas altamente visibles (contraste) contra el fondo de la superficie que va

a ser examinada.

(b)Las partculas. Las partculas secas y hmedas y vehculos en suspensindebern estar en concordancia con SE- 709.

(c)Limitaciones de temperatura.Las partculas debern ser usadas dentro de laslimitaciones de los rangos de temperaturas establecidas por el fabricante de

las partculas. Alternativamente, las partculas pueden ser usadas fuera de las

recomendaciones del fabricante de las partculas siempre que el

procedimiento este calificado en concordancia con el Artculo 1, T-150 a la

temperatura propuesta.

T-740 REQUERIMIENTOS DIVERSOS

T-741 Condicionamiento Superficial

T-741.1 Preparacin.

(a)Se obtiene por lo general resultados satisfactorios cuando las superficiesestan en las condiciones soldadas, laminadas, fundidas o forjadas. Sin

embargo, la preparacin superficial mediante esmerilado o maquinado puede

ser necesaria donde las irregularidades superficiales pudieran enmascarar las

indicaciones debido a las discontinuidades.


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TABLA T-721REQUERIMIENTOS DE UN PROCEDIMIENTO DE EXAMINACIN POR PARTCULAS

MAGNTICAS

Requerimientos Variable Esencial Variable No Esencial

Tecnica Magnetizante X

Tipo de corriente magnetizante o amperaje fuera del rangoespecificado por este artculo o como se especificpreviamente

X

Preparacion de la superficie X

Partculas magnticas (Fluorescente/visible, color, tamaode partcula, hmedo / seco)

Mtodo de aplicacin de las partculas X

Mtodo de la remocin del exceso de partcula X

Intensidad mnima de luz X

Revestimientos existente, mayores que el espesordemostrado

X

Aumento del contraste superficial No magntico, cuandoes utilizado

X

Demostracin de ejecucin, cuando sea requerido X

Temperatura superficial de la pieza de examinacin fueradel rango de temperatura recomendado por el fabricantede las partculas o como se calific previamente.

X

Forma y tamao del objeto sometido a ensayo X

Equipo del mismo tipo X

Temperatura (dentro de aquellas especificadas por elfabricante o como se calific previamente)

X

Tecnica de desmagnetizacin X

Tecnica de limpieza post ensayo X

Requerimientos de calificacin del personal X

(b)Antes de la examinacin por partculas magnticas, la superficie que va a serexaminada y todas las reas adyacentes dentro de al menos de 1 (25 mm)

deber estar seca y libre de todo sucio, grasa, pelusas, cascarillas defundicin, fundentes de soldadura, salpicaduras, aceites y otras materias

extraas que pudieran interferir con la examinacin.

(c) La limpieza puede llevarse a cabo usando detergentes, solventes orgnicos,soluciones de decapado, removedores de pintura, desengrase al vapor,

chorro de arena o granalla o mtodos de limpieza por ultrasonido.

(d)Si se dejan revestimientos no magnticos sobre la pieza en el rea que va aser examinada, se deber demostrar que las indicaciones pueden ser

detectadas a travs del espesor mximo del revestimiento aplicado. Cuando


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se usa la tecnica de magnetizacin por Yugo con CA, la demostracin deber

estar en concordancia con el Apndice I obligatorio de este Artculo.

T- 741.2 Aumento del Contraste Superficial No Magntico.

Los contrastes superficiales no magnticos pueden ser aplicados por el examinadorpara superficies no revestidas, solo en cantidades suficientes para incrementar el

contraste de las partculas. Cuando se usa el aumento del contraste superficial no

magntico, deber demostrarse que las indicaciones pueden ser detectadas a travs

del incremento. No es requerida la medicin del espesor de este incremento de

contraste superficial no magntico.

Nota: Referirse a T-150 (a) para guiarse para la demostracin requerida en T-741.1 (d) y T-741.2.

T-750 TCNICA

T-751 Tcnicas

Una o ms de las siguientes cinco tcnicas de magnetizacin debern ser usadas:

(a)Tcnica de Pinzas (Prods)(b)Tcnica de magnetizacin longitudinal(c) Tcnica de magnetizacin circular(d)Tcnica del Yugo (Yoke)(e)Tcnica de magnetizacin Multidireccional.

T- 752 Tcnica de las Pinzas (Prods).

T- 752.1 Procedimiento de magnetizacin. Para la tcnica de pinzas, la magnetizacin

se lleva a cabo mediante contactos elctricos tipo pinzas porttiles presionadas

contra la superficie del rea que va a ser examinada. Para evitar arcos, se debe

suministrar un interruptor de control remoto, el cual puede ser incorporado en los

mangos de las pinzas, para permitir que la corriente sea aplicada despus que las

pinzas hayan sido posicionadas de manera apropiada.

T- 752.2 Corriente Magnetizante. Se deber usar corriente magnetizante directa o

rectificada. La corriente deber ser de 100 amperios/pulgs. (mnimo) (4

amperios/mm) hasta 125 amperios /pulgs. (mximo) (5 amperios/mm) de

separacin de las pinzas para secciones de . (19 mm) de espesor o mayores. Para

secciones menores de (19 mm) de espesor, la corriente deber ser de 90 amperios

/pulgs. (3.6 amperios /mm) hasta 110 amperios /pulgs. (4.4 amperios/mm) de

separacin de las pinzas.

T-752.3 Separacin de las Pinzas. La separacin de las pinzas no deber exceder de 8

(200 mm). Se pueden usar separaciones mas cortas para adaptarse a las limitaciones

geomtricas del rea que va a ser examinada o para incrementar la sensibilidad,


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pero las separaciones de las pinzas menores de 3 (75 mm) son por lo general poco

prctico debido a la acumulacin de partculas alrededor de las pinzas. Las puntas

delas pinzas debern conservarse limpias y ahusadas. Si el voltaje de circuito abierto

de la fuente de la corriente magnetizante es mayor que 25 voltios, se recomienda

pinzas con extremos de plomo, acero, o aluminio (ms que cobre) para evitardepsitos de cobre sobre la pieza que va a ser examinada.

T-753 Tcnica de Magnetizacin Longitudinal

T-753.1 Procedimiento de magnetizacin. Para esta tcnica, la magnetizacin se lleva

a cabo por el paso de la corriente a travs de una bobina fija de mltiples vueltas (o

cables) que se enrollan alrededor de la pieza o seccin de la pieza que va a ser

examinada. Esto produce un campo magntico longitudinal paralelo al eje de la

bobina. Si se usa una bobina pre- devanada fija, la pieza deber estar ubicada cerca

del lado de la bobina durante la inspeccion. Esto es de vital importancia cuando la

abertura de la bobina es ms de 10 veces el rea de la seccin transversal de la pieza.

T- 753.2 Densidad de campo magntico. La corriente directa o rectificada deber ser

usada para magnetizar las partes examinadas por esta tcnica. La densidad de campo

requerido deber ser calculado basado en la longitud L y el dimetro D de la pieza en

concordancia con T-753.2 (a) y (b), o como se establece en (d) y (e), ms adelante.

Las piezas largas debern ser examinadas en secciones que no excedan 18 (450

mm), y deber usarse 18 (450 mm) para la parte L para calcular la densidad de

campo requerida. Para partes cilndricas, el dimetro D deber ser la mximaseccin diagonal.

(a) Piezas con la relacin L/D igual o mayor que 4. La corrientemagnetizante deber estar dentro de 10% del valor vuelta-amperios

determinado como sigue:

Vuelta Amperios = 35.000 / [(L/D)+2], por ejemplo una pieza de 10

(250 mm) de largo X 2 (50 mm) de dimetro tiene una relacin L/D de 5. Por lo

tanto,

35.000/[(10/2) +2] = 5000 vueltasamperios

(b) Piezas con la relacin L/D menor que 4 pero no menor de 2. La corrientemagnetizante vueltasamperios deber estar dentro de 10% del valorvueltaamperios determinado como sigue:

Vueltasamperios = 45.000/ (L/D)


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(c) Piezas con la relacin L/D menor que 2. No se puede usar la tecnica demagnetizacin con bobina.

(d) Si el rea que va ser magnetizada de extiende mas all de 9 (225 mm)en cualquier lado del centro de la bobina, se deber demostrar la

suficiencia del campo usando un indicador de campo magntico oShims de fallas artificiales. Segn T-764.

(e) Para grandes piezas debido a su forma y tamao, la corrientemagnetizante deber ser de 1200 vueltas-amperios hasta 4500 vueltas-

amperios. La suficiencia del campo deber ser demostrada usando

Shims de falla artificial o un indicador de campo magntico en forma de

torta en concordancia con T-764. Un Gausmetro de prueba de Efecto

Hall no deber ser usado con las tcnicas de magnetizacin de bobina

envolvente.

T-753.3 Corriente Magnetizante. La corriente requerida para obtener la densidad de

campo necesario deber ser determinada por dividir las vueltas-amperios obtenidas

en los pasos T-753.2 (2) (b) entre el nmero de vueltas en la bobina como sigue:

Amperios (lectura en metros)= (vueltasamperios) /vueltas

Por ejemplo, si se usa una bobina de 5 vueltas y las vueltasamperios requeridas

son 5000, usar

5000/5= 1000 ( 10)

T-754 Tcnicas de Magnetizacin Circular

T-754.1 Tcnica de Contacto Directo

(a)Procedimiento de magnetizacin. Para esta tcnica, la magnetizacin se llevaa cabo mediante el paso de corriente a travs de la pieza a examinar. Esto

produce un campo magntico circular que es perpendicular a la direccin del

flujo de corriente en la pieza.

(b)Corriente magnetizante. Deber usarse corriente magnetizante directa orectificada (media onda rectificada onda completa rectificada)

(1) La corriente deber ser de 300 amper/pulgs. (12 Amps/mm) para 800amp/pulg. (31 Amps/mm) de dimetro exterior.

(2) Las piezas con formas geomtricas diferentes a las redondas con ladiagonal seccional transversal ms grande en un plano en un ngulo

recto al flujo de corriente determinar las pulgadas que van a ser usadas

en T-754.1 (b) (1) antes mencionado.


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(3) Si los niveles de corriente requeridos por (b) (1) no pueden ser obtenidos,se debe usar la mxima corriente asequible y la suficiencia del campo

deber ser demostrada en concordancia con T-764.

T-754.2 Tcnica del Conductor Central

(a)Procedimiento magnetizante. Para esta tcnica, se usa un conductor centralpara examinar las superficies internas de las piezas de forma de anillo o

cilndricas. La tcnica del conductor central tambin pueden ser usadas para

examinar las superficies externas de estos tipos de formas. Donde los

cilindros de gran dimetro van a ser examinados, el conductor deber ser

posicionado cerca de la superficie interna del cilindro. Cuando en conductor

no est centrado, la circunferencia del cilindro deber ser examinado en

pequeas porciones. Se deber usar las mediciones de la densidad de campo

en concordancia con T-764

FIG. T-754.2.1 TECNICA DE CONDUCTOR CENTRAL DE PASO SIMPLE Y DOBLE

para determinar la extensin del arco que puede ser examinado para cada posicion

del conductor o las reglas en T-754.2 (c) antes mencionado puede aplicarse. Las

barras o cables, que pasan a travs del hueco de un cilindro, pueden ser usadas para

inducir la magnetizacin circular.

(b)Corriente Magnetizante. La densidad de campo requerida deber ser igual aaquella determinada en T-754.1 (b) para un conductor central de una sola

vuelta. El campo magntico aumentar en proporcin al nmero de veces que

el cable del conductor central pasa a travs de la parte hueca. Por ejemplo, si

se requieren 6000 amperios para examinar una pieza usando un conductor

central de pase simple, entonces son requeridos 3000 amperios cuando se

use un conductor de pase doble, y 1200 amperios son requeridos si se usan 5

pases (Ver Figura T-754.2.1). Cuando se use la tcnica del conductor central,


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la suficiencia del campo magntico deber ser verificada usando un indicador

de campo de partculas magnticas en concordancia con T-764.

(c) Conductor Central Desalineado. Cuando el conductor pasa a travs delinterior de la pieza es ubicado contra la pared interior de la pieza, los nivelesde corriente, as dados en T-754.1 (b) (1) aplicarn, excepto aqul dimetro

usado para el clculo de la corriente deber ser la suma del dimetro del

conductor central y dos veces el espesor de la pared. La distancia a lo largo de

la circunferencia de la pieza (exterior) que es efectivamente magnetizado

deber ser tomado como cuatro veces el dimetro del conductor central,

como se ilustra en la figura T-754.2.2. La circunferencia completa deber ser

inspeccionada mediante la rotacin de la parte en el conductor, dejando

aproximadamente un solape de campo magntico del 10%.

T-755 Tcnica de Yugo

Para esta tcnica, se debern usar los yugos electromagnticos de corriente alterna o

directa, o yugos de imanes permanentes

T-756 Tcnica de Magnetizacin Multidireccional

T-756.1 Procedimiento de Magnetizacin. Para esta tcnica, la magnetizacin se lleva

a cabo mediante paquetes de energa de alto amperaje que operan tanto como tres

circuitos que son energizados uno a la vez en rpida sucesin.

FIG. T-754.2.2 LA EXAMINACIN DE LA REGIN EFECTIVA CUANDO SE USA UNCONDUCTOR CENTRAL DESALINEADO

El efecto de estas corrientes magnetizante alternas rpidas es producir unamagnetizacin total de la pieza en mltiples direcciones. Los campos magnticos


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circular o longitudinal pueden ser generados en cualquier combinacin usando lastecnicas diversas descritas en T-753 y T-754.

T-756.2 Densidad de Campo Magntico. Solamente corriente rectificada de ondacompleta, de tres fases deber ser usada para magnetizar la pieza. Los

requerimientos de la corriente magnetizante inicial para cada circuito deber serestablecido usando las guas descritas previamente (Ver T-753 y T-754). La suficienciadel campo magntico deber ser demostrada usando Shims de fallas artificiales o unindicador de campo de partculas magnticas de forma de torta en concordancia conT-764. Un Gaussmetro explorador del efecto Hall no deber ser usado para medir lasuficiencia del campo para la tcnica de magnetizacin multidireccional. Un campoadecuado deber obtenerse al menos en dos direcciones perpendicularesaproximadamente, y las intensidades del campo deberan estar balanceadas a fin deque un campo fuerte en una direccin no domine el campo en la otra direccin. Paralas reas donde las densidades de campo adecuado no pueden ser demostradas,

debern ser usadas tecnicas de partculas magnticas adicionales para obtener lacobertura requerida en dos direcciones.

T-760 CALIBRACINT-761 Frequencia de CalibracinT-761.1 Equipos de Magnetizacin

(a)Frecuencia. El equipo de magnetizacin deber ser calibrado con unampermetro al menos una vez al ao, o todas las veces que el equipo hayaestado sometido a una reparacin elctrica mayor, revisin peridica, o

daos. Si el equipo no ha estado en uso por un ao o mas, debe hacerse lacalibracin antes del primer uso.

(b)Procedimiento. La precisin del medidor de la unidad deber ser verificadoanualmente mediante la trazabilidad del equipo a un estndar nacional.Deben ser tomadas lecturas comparativas por lo menos a tres diferentesniveles de salida de corriente que abarca el rango usual.

(c) Tolerancia. La lectura del medidor de la unidad no deber desviarse por msdel 10% de la escala completa, relativo al valor de la corriente actual comose muestra por el medidor de ensayo.

T-761.2 Medidores de luz. Los medidores de luz debern ser calibrados al menos unavez al ao o todas las veces que el medidor haya sido reparado. Si los medidores nohan estado en uso por un ao o ms, la calibracin deber ser hecha antes de su uso.

T- 762 Energa de Levante de los Yugos

(a)Antes de usar, la energa magnetizante de los yugos electromagnticosdeber revisarse anualmente. La energa magnetizante de los yugosmagnticos permanentes deber ser inspeccionada diariamente antes deusar. La energa magnetizante de todos los yugos deber ser revisada todas

las veces que el yugo haya sido daado o reparado.


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(b)Cada yugo electromagntico de corriente alterna deber tener una energa delevante de al menos 10 libras (4.5 Kgs.) en la separacin mxima del polo queser usada.

(c) Cada yugo magntico permanente o de corriente directa deber tener unaenerga de levante de al menos 40 libras (18 Kgs) en la separacin mxima del

polo que ser usado.(d)Cada peso deber ser pesado con una balanza de un fabricante respetable y

calibrado con un peso nominal aplicable antes de su primer uso. Un peso solorequiere ser verificado de nuevo si se daa de una manera que pudiera habercausado perdida potencial de material.

FIG. T-764.1.1 INDICADOR DE CAMPO DE PARTCULAS MAGNTICAS DE FORMA DETORTA.

T-763 Gausmetros

Los Gausmetros de prueba del efecto Hall usados para verificar la densidad delcampo magnetizante en concordancia con T-754 deber estar calibrado al menos una

vez al ao p todas las veces que el equipo hay sido sometido a una reparacin mayor,revisin peridica, o dao. Si el equipo no ha sido usado por un ao o ms, lacalibracin deber ser realizada antes de su primer uso.

T-764 Suficiencia y Direccin del Campo Magntico

T-764.1 Suficiencia del Campo Magntico. El campo magntico aplicado deber tenersuficiente densidad para producir indicaciones satisfactorias, pero no deber ser tanfuerte porque puede enmascarar las indicaciones relevantes medianteacumulaciones no relevantes de partculas magnticas. Los factores que influencian

la densidad de campo requerido incluyen el tamao, forma, y la permeabilidad del


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material de la pieza; la tcnica de magnetizacin; los revestimientos; el mtodo deaplicacin de las partculas; y el tipo de ubicacin de las discontinuidades para serdetectadas. Cuando es necesario verificar la suficiencia de la densidad del campomagntico, se deber verificar por el uso de uno o ms de los tres mtodossiguientes.

T-764.1.1 Indicador de Campo de Partculas Magnticas de Forma de Torta. Elindicador, mostrado en la figura T-764.1.1, deber ser posicionado sobre la superficieque va a ser examinada, tal que el lado de la placa de cobre est alejada de lasuperficie inspeccionada. Se indica una densidad de campo apropiada cuando unalnea (o lneas) claramente definida de partculas magnticas se formantransversalmente a la cara de cobre del indicador cuando las partculas magnticasson aplicadas simultneamente con la fuerza magnetizante. Cuando no se forma unalnea de partculas claramente definidas, deber ser cambiada la tecnicamagnetizante cuando sea requerida. Los indicadores del tipo torta se usan mejor con

los procedimientos de partculas secas.

FIG. T-764.1.2.1 SHIMS DE FALLA ARTIFICIAL


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NOTA GENERAL: Lo anterior son ejemplos de Shims de falla artificial usados en la verificacin delsistema de inspeccin por partculas magnticas (el dibujo no esta a escala). Los Shims sonconstruidos de acero de bajo contenido de carbono (Hoja de Acero 1005). La falla artificial es atacadao maquinada en un lado de la hoja a una profundidad del 30% del espesor de la hoja.

T- 764.1.2 Shims de Falla Artificial. Uno de los Shims mostrados en la figura T-

764.1.2.1 o la figura T- 764.1.2.2 cuya orientacin es tal que puede tener uncomponente perpendicular al campo magntico aplicado deber ser usado. LosShims con muescas lineales deberan estar orientadas a fin de que al menos unamuesca sea perpendicular al campo magntico aplicado. Los Shims solo con muescascirculares pueden ser usados en cualquier direccin. Los Shims debern estarsujetados a la superficie para ser examinados, tal que el lado de la falla artificial delShim este hacia la superficie inspeccionada. La densidad del campo apropiado esindicada cuando una lnea claramente definida (o lneas) de partculas magnticas,representando el 30% de profundidad de la falla, aparecen en la cara del Shimcuando las partculas magnticas son aplicadas simultneamente con la fuerza

magnetizante. Cuando una lnea de partculas claramente definida no se forma,deber cambiarse la tcnica de magnetizacin as requerida. Los indicadores tipoShims son mejores usados con procedimientos de partculas hmedas.

Nota: Los Shims circulares mostrados en la figura T-764.1.2.2 ilustracin (b) tambien tienenprofundidades de fallas menores y mayores del 30%.

T-764.1.3 Exploracin del campo tangencial del efecto Hall. Un gausmetro y unasonda de campo tangencial del efecto Hall debern ser usados para medir el valorpico de un campo tangencial. La sonda deber ser ubicada sobre la superficie que vaa ser examinada, de manera tal que la densidad mxima del campo sea determinada.Se indica una densidad de campo apropiada cuando el campo medido esta dentrodel rango de 30 G hasta 60 G (2.4 kAm-1 hasta 4.8 kAm-1) mientras la fuerzamagnetizante esta siendo aplicada. Ver el Artculo 7, Apndice A No obligatorio.

T-764.2 Direccin del Campo Magntico. La direccin de la magnetizacin deber serdeterminada mediante las indicaciones de partculas obtenidas usando un indicadoro Shims como se muestra en la figura T-764.1.1 o la figura T-764.1.2. Cuando no seforma una lnea de partculas claramente definidas en la direccin deseada, latcnica magnetizante deber cambiarse as requerida.


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T-764.2.1 Para las tecnicas de magnetizacin multidireccional, la orientacin de laslneas de flujo debern estar en al menos dos direcciones casi perpendicularmente.Cuando las lneas de partculas claramente definidas no se forman en al menos dosdirecciones casi perpendiculares, la tecnica magnetizante deber ser cambiada asrequerida.

T- 764.3 Determinacin de la suficiencia y direccin de los campos magnticosusando indicadores de campos magnticos o Shims de falla artificial se permitensolamente cuando son especficamente referenciadas mediante tecnicasmagnetizantes en T-753.2 (d), T-753.2 (e), T-754.1 (b) (3), T- 754.2(a), T-754.2(b), y T-756.2.T-765 Contaminacin y Concentracin de las Partculas Hmedas.

Las unidades horizontales para baos hmedos debern tener la contaminacin yconcentracion del bao determinado mediante la medicin de su volumen de

sedimentacin. Esto se lleva a cabo a travs del uso de un Mtodo de ensayo ASTMD 96 de un tubo centrfugo en forma de pera con una espiga de 1-mL (divisiones 0.05-mL) para suspensiones de partculas fluorescentes o una espiga de 1.5-mL (divisiones0.1-mL) para suspensiones no fluorescente. Antes del muestreo, la suspensindeber fluir a travs de un sistema de recirculacin por al menos 30 min. paraasegurar la mezcla completa de todas las partculas las cuales pudieran habersesedimentado en el tamz del sumidero y a lo largo de los lados o en la base deltanque.

T-765.1 Concentracin. Tomar una porcin de 100-mL de la suspensin de la

manguera o boquilla, desmagnetizar y permitir que sedimente poraproximadamente 60 minutos con suspensiones de petrleo destilado 30 minutos,con suspensiones a base de agua antes de la interpretacin. El volumen sedimentadoen la base del tubo es indicativo de la concentracin de las partculas en el bao.

FIG. T-764.1.2.2 SHIMS DE FALLA ARTIFICIAL


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T-765.2 Volmenes de la Sedimentacin. Para las partculas fluorescentes, elvolmen de sedimentacin requerido es de 0.1 hasta 0.4 mL en una muestra de baode 100-mL y de 1.2 hasta 2.4 mL por 100 mL de vehculo para partculas nofluorescentes a menos que se especifique lo contrario por el fabricante. La inspeccionde la concentracion deber hacerse al menos cada ocho horas.

T-765.3 Contaminacin. Tanto las suspensiones fluorescente y las no fluorescentesdebern ser inspeccionadas peridicamente por si tienen contaminantes tales comosucio, cascarillas de fundicin, aceite, pelusas, prdida de pigmentos fluorescentes,agua (en el caso de las suspensiones a base de aceite), y aglomerado de partculas lascuales pueden afectar adversamente la ejecucin del proceso de examinacion porpartculas magnticas. El ensayo para detectar la contaminacin deber desarrollarseal menos una vez a la semana.


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(a)Contaminacin Portadora. Para baos fluorescentes, el lquidodirectamente sobre el precipitado deber ser examinado con luz deexcitacin fluorescente. El lquido tendr poca fluorescencia. Su colorpuede ser comparado con una muestra recin hecha usando los mismosmateriales o con una muestra sin usar del bao original que fue retenida

para este propsito. Si la muestra usada es evidentemente msfluorescente que el estndar de comparacin, el bao deber serreemplazado.

(b)Contaminacin de las Partculas. La porcin graduada del tubo deber serexaminada bajo luz de excitacin fluorescente si el bao es fluorescente ybajo la luz visible (tanto para partculas fluorescentes y no fluorescentes)para las estras o bandas, se diferencia en el color o apariencia. Lasbandas o estras pueden indicar la contaminacin. Si el volumen total delos contaminantes, incluyendo las bandas o estras que exceden el 30%del volumen de las partculas magnticas, o si el lquido es evidentemente

fluorescente, el bao deber ser reemplazado.

T-766 Ejecucion de Sistemas de Unidades Horizontales.

La muestra de anillo Ketos (Betz) (Ver la figura. T-766.1) deber ser usada en laevaluacin y comparacin de la ejecucion y sensibilidad total tanto de las tcnicaspor partculas magnticas no fluorescentes y fluorescentes, secas y hmedas usandouna tcnica de magnetizacin de conductor central.

(a) El Material del Anillo de Ensayo Ketos (Betz). El anillo de acero deherramientas (Ketos) deber ser maquinado del material AISI 01 enconcordancia con la Figura T-766.1. Cualquier anillo maquinado o modelo deacero deber ser revenido a 1650F (900C), enfriado a 50F (28C) por hora a1000 (540C) y luego enfriado al aire a temperatura ambiente para darresultados comparables que usan anillos similares que hayan tenido el mismotratamiento. El material y el tratamiento trmico son importantes. Laexperiencia indica que solo es insuficiente el control del ablandamiento delanillo mediante la dureza (90 a 95 HRB).

(b)Uso del Anillo de Ensayo. El anillo de ensayo (Ver la Figura T-T66.1), esmagnetizado circularmente con corriente CA de media onda rectificada

pasndolo a travs de un conductor central con un hueco de 1 pulgada hasta11/4 (25mm a 32mm) de dimetro ubicado en el centro del anillo. Elconductor deber tener una longitud mayor de 16 (400 mm). La corrientesusadas debern ser de 1400, y 3400 amperios. El nmero mnimo de huecosmostrados debern ser tres, cinco y seis, respectivamente. El borde del anillodeber ser examinado con cualquier luz negra o luz visible, dependiendo deltipo de partcula involucrada. Este ensayo deber ser realizado en tresintensidades de corrientes si se debe usar la unidad en estos tipos deamperajes o mayores. Los valores del amperaje establecidos no debernexcederse en el ensayo. Si el ensayo no revela el nmero requeridos de

huecos, el equipo deber ser sacado de servicio y la causa de la prdida de


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sensibilidad determinada y corregida. Este ensayo deber ser realizado almenos una vez por semana.

T-770 EXAMINACINT-771 Examinacin Primaria

Antes de que la examinacin por partculas magnticas sea llevada a cabo, se deberconducir una revisin de la superficie sometida a la examinacin para localizarcualquier discontinuidad abierta a la superficie en la cual las partculas magnticasno puedan ser atradas y sostenidas debido a su ancho.

T-772 Direccin de la Magnetizacin

Al menos dos examinaciones separadas debern ser efectuadas sobre cada rea.Durante la segunda examinacin, las lneas del flujo magntico debern ser

aproximadamente perpendiculares a aquellas usadas durante la primeraexaminacin. Una tecnica diferente para la magnetizacin deber ser usada para lasegunda examinacion.

T-773 Mtodo de Examinacin.

Las partculas magnticas usadas en un medio de examinacin pueden ser decualquier tipo secas o hmedas, y pueden ser fluorescentes o no fluorescentes.

(a)Partculas secas. La corriente magnetizante deber permanecer mientras elmedio de examinacin est siendo aplicado y mientras cualquier exceso delmedio de examinacin es eliminado.

(b)Partculas hmedas. La corriente magnetizante deber ser aplicada despuesque las partculas hayan sido aplicadas. El flujo de partculas deberdetenerse con la aplicacin de la corriente. Las partculas hmedas aplicadasdesde envases presurizados pueden ser aplicados antes y/o despus que lacorriente magnetizante sea aplicada. Las partculas hmedas pueden seraplicadas durante la aplicacin de la corriente magnetizante si no sonaplicadas directamente al rea de examinacin y se permite que fluyan sobreel rea de examinacin o son aplicadas directamente al rea de examinacin

con velocidades insuficientemente bajas para remover las partculasacumuladas.


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FIG. T-766.1 ANILLO DE ENSAYO KETOS (BETZ)

Hueco(mm)

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Dim.[Nota(1)]

0.07(1.8)

0.07(1.8)

0.07(1.8)

0.07(1.8)

0.07(1.8)

0.07(1.8)

0.07(1.8)

0.07(1.8)

0.07(1.8)

0.07(1.8)

0.07(1.8)

0.07(1.8)

D[Nota(2)]

0.07(1.8)

0.14(3.6)

0.21(5.3)

0.28(7.1)

0.35(9.0)

0.42(10.8)

0.49(12.6)

0.56(14.4)

0.63(16.2)

0.70(18.0)

0.77(19.8)

0.84(21.6)

NOTAS GENERALES:(a) Todas las dimensiones son 0.03 ( 0.8 mm) o como se nota en (1) y (2).(b) Todas las dimensiones estan en pulgadas, a excepcin como se nota ( ).(c)

El material es acero de herramienta ANSI 01 de annealed round stock.(d) El anillo puede ser tratado trmicamente como sigue: Calentar de 1400F hasta 1500F (760C hasta790C). Mantener esta temperatura por una hora. Enfriar a la velocidad mnima de 40 F/h (22C/h)hasta bajarla a 1000F (540C). Enfriar en horno o al aire a temperatura ambiente. Terminar el anillo aRMS 25 y protegerlo de la corrosin.

Notas:(1) Todos los dimetros de los huecos son 0.005 ( 0.1 mm). Los nmeros de los huecos del 8

hasta el 12 son opcionales.(2) La tolerancia en la distancia D es 0.005 (0.1 mm).

T-774 Cobertura de la Examinacin

Todas las examinaciones debern ser dirigidas con solape suficiente del campo paraasegurar el 100% de cobertura a la sensibilidad requerida (T-764).

T-775 Corriente Rectificada

(a)Donde quiera que la corriente directa sea requerida la corriente rectificadapuede ser usada. La corriente rectificada para la magnetizacin deber sercualquier corriente trifsica (rectificada de onda completa), o corriente defase simple (rectificada de media onda).


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(b)El amperaje requerido con corriente de fase triple, rectificada de ondacompleta deber ser verificada mediante la medicin de la corrientepromedio.

(c) El amperaje requerido con corriente de fase simple (rectificada de mediaonda) deber ser verificada mediante la medicin de la salida de corriente

promedio durante la conduccin solamente del medio ciclo.(d)Cuando se mide la corriente rectificada de media onda con un medidor de

ensayo de corriente directa deber ser multiplicada por dos.

T-776 Remocin del Exceso de Partculas

Las acumulaciones del exceso de las partculas secas en las examinaciones debernser removidas con un chorro de aire ligero desde un bulbo o jeringa u otras fuentesde flujo de aire seco a presin. La corriente o energa de la examinacin deber sermantenida mientras se remueve el exceso de partculas.

T-777 Interpretacin

La interpretacin deber identificar si una indicacin es falsa, no relevante, orelevante. Las indicaciones falsas y no relevantes debern ser comprobadas comofalsas o no relevantes. La interpretacin deber ser llevada a cabo para identificar laubicacin de las Indicaciones y la caracterstica de la indicacin.

T-777.1 Partculas Magnticas Visibles (Contraste de color). Las discontinuidadessuperficiales se indican mediante las acumulaciones de partculas magnticas las

cuales deberan contrastar con la superficie de la examinacin. El color de laspartculas magnticas debern ser lo suficientemente diferentes que el color de lasuperficie de la examinacin. Se requiere una intensidad mnima de luz de 100 fc(1000Lx) sobre la superficie que va a ser examinada para asegurar la sensibilidadadecuada durante la examinacin y evaluacin de las indicaciones. Se requiere que lafuente de luz, la tcnica usada, y la verificacin del nivel de luz sea demostrada atiempo, y mantenida en archivo.

T-777.2 Partculas Magnticas Fluorescentes Con Luz Negra. Con las partculasmagnticas fluorescentes, el proceso es esencialmente el mismo como en T-777.1,

con la excepcin que la examinacin se ejecuta usando una luz ultravioleta (es decir,365nm nominal), llamada luz negra. La examinacin deber desarrollarse comosigue:

(a)Deber ejecutarse en un rea oscura.(b)Los examinadores debern estar en un rea oscura por al manos 5 min.

Antes de ejecutar las examinaciones para permitir que sus ojos se adaptena la inspeccin en ambiente oscuro. Las gafas o lentes usados por losexaminadores no debern ser fotocromticos o mostrar cualquierfluorescencia.


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(c) Las luces negras debern alcanzar un mnimo de 1000 W/cm2 sobre lasuperficie de la pieza que va a ser examinada en todas las partes de laexaminacion.

(d)Los reflectores, filtros, gafas, y lentes debern ser inspeccionados y, si esnecesario, limpios antes de ser usados. Reflectores, filtros, gafas, o lentes

agrietados o rotos debern ser reemplazados inmediatamente.(e)La intensidad de la luz negra deber ser medida con un medidor de luz

negra antes de usarla, todas las veces que la fuente de luz negra seainterrumpida o cambiada, y al culminar la examinacin o series deexaminaciones.

T-777.3 Partculas Magnticas Fluorescentes Con Otras Longitudes de Ondas deExitacin Fluorescentes.Por otra parte los requerimientos en T.777.2, las examinaciones pueden serejecutados usando fuentes de luz de longitud de ondas alternas las cuales causan

fluorescencias en revestimientos de partculas especficos. Cualquier designacin departculas especficas y fuentes de luz de longitud de onda de luz alterna usadasdebern estar calificadas en concordancia con el Apendice Obligatorio IV. Laexaminacin deber ser desarrollada como sigue:

(a)Deber ejecutarse en un rea oscura.(b)Los examinadores debern estar en un rea oscura por al manos 5 min. Antes

de ejecutar las examinaciones para permitir que sus ojos se adapten a lainspeccin en ambiente oscuro. Las gafas o lentes usados por losexaminadores no debern ser fotocromticos o mostrar cualquier

fluorescencia.(c) Si la fuente de luz de excitacin fluorescente emite intensidades de luz

mayores que 2 fc (20 Lx), el examinador deber llevar lentes filtros queaumentan-la fluorescencia aprobado por el fabricante de fuentes de luz parausarse con aquella fuente de luz.

(d)Las fuentes de luz de excitacin fluorescente debern alcanzar al menos elmnimo de intensidad de luz sobre la superficie de la pieza en todas partes dela examinacin as calificada en los ensayos del Apndice Obligatorio IV.

(e)Los reflectores, filtros, gafas, y lentes debern ser inspeccionados y, si esnecesario, limpios antes de ser usados. Reflectores, filtros, gafas, o lentes

agrietados o rotos debern ser reemplazados inmediatamente.(f) La intensidad de la luz de excitacin fluorescente deber ser medida con unmedidor de luz de excitacin fluorescente antes de usarla, todas las veces quela fuente de energa de luz sea interrumpida o cambiada, y al culminar laexaminacin o series de examinaciones.

T-778 Desmagnetizacin

Cuando el magnetismo residual en la pieza pudiera interferir con el procesamientosubsecuente o uso, la parte deber ser desmagnetizada alguna vez despus de

culminar la examinacin.


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T-779 Limpieza Posterior a la Examinacin.

Cuando se requiere la limpieza posterior a la examinacin, debera ser dirigida tanpronto como prctico sea usando un proceso que no afecte adversamente la pieza.

T-780 EVALUACIN

(a)Todas las indicaciones debern ser evaluadas en trminos de los estndaresde aceptacin de la Seccin del Cdigo de referencia.

(b)Las discontinuidades sobre o prximas a la superficie se indican mediante laretencin del medio de examinacion. Sin embargo, las irregularidadessuperficiales localizadas debido a las marcas de maquinado u otrascondiciones superficiales pueden producir indicaciones falsas.

(c) reas amplias de acumulaciones de partculas, las cuales podran enmascararlas indicaciones de las discontinuidades, estan prohibidas, y tales reas

debern ser limpias y reexaminadas.

T-790 DOCUMENTACINT-791 Magnetizacin Multidireccional

Tecnica del Croquis

Deber prepararse una tecnica de croquis para cada geometra examinada,mostrando la geometra de la pieza, arreglos del cable y conexiones, corrientemagnetizante para cada circuito, y las reas de examinacion donde se obtienen las

densidades del campo magntico adecuado. Las partes con geometras repetidas,pero de dimensiones diferentes, pueden ser examinadas usando un croquis simplesiempre que la densidad de campo magntico sea adecuada cuando se demuestre enconcordancia con T-755.2.

T-792 Registro de las IndicacionesT-792.1 Indicaciones No Rechazables. Las indicaciones no rechazables debern serregistradas como se especifica por la Seccin del Cdigo en referencia.

T-792.2 Indicaciones Rechazables. Las indicaciones rechazables debern ser

registradas. Como mnimo, el tipo de indicaciones (lineal o redondeadas), laubicacin y extensin (longitud, dimetro o alineada) debern ser registradas

T-793 Registros de la Examinacin

Para cada examinacin, la informacin siguiente deber ser registrada:(a) Identificacin y revisin del procedimiento.(b)Equipos y tipo de corriente de partculas magnticas(c) Partculas magnticas (visible o fluorescente, hmedo o seco)(d)La identificacin del personal de examinacin y si se requiere mediante el

Cdigo en referencia, el nivel de calificacin.(e)Mapa o registros de identificacin para T-792.


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(f) Material y espesor(g)Equipo de iluminacin(h)Fecha de la examinacin


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ARTICLE 7APENDICES OBLIGATORIOS

CONTENIDO Pag.

APNDICE I Examinacin por partculas magnticas que usa la tecnica del yugo conCA en materiales revestidos ferrticos con recubrimientos no magnticos27I-710 ALCANCE27

I-720 GENERAL27I-721 Requerimientos de Procedimientos Escritos.27

I-722 Calificacion del Personal.27I-723 Procedimiento/Demostracin de la Tcnica.27I-730 EQUIPOS.27

I-740 REQUERIMIENTOS DIVERSOS..28I-741 Medicion del Espesor del Revestimiento.28

I-750 TECNICA.29I-751 Calificacin de la Tcnica29

I-760 CALIBRACION.30I-761 Fuerza Mxima de Levante del Yugo..30I-762 Medicion de la Intensidad de la Luz.30

I-760 EXAMINACION..31I-780 EVALUACION..31I-790 DOCUMENTACION..31

I-791 Registro de la Examinacion31

APENDICE IIGLOSARIO DE TERMINOS PARA LA EXAMINACION POR PARTCULASMAGNTICAS..32II-710 ALCANCE..32II-720 RQUERIMIENTOS GENERALES32II-730 REQUERIMIENTOS.32

APENDICE IIIEXAMINACION POR PARTICULAS MEGNETICAS USANDO LA TECNICADEL YUGO CON PARTICULAS FLUORESCENTES EN UN AREA NO OSCURA.33

III-710 ALCANCE.33III-720 GENERAL.34III-721 Requerimientos de Procedimiento Escrito34III-723 Demostracin de Procedimiento.34

III-750 TECNICA..34III-751 Estndar de Calificacion..34

III-760 CALIBRACION34III-761 Medicin de la Intensidad de la Luz Negra34III-762 Medicin de la Intensidad de la Luz Blanca..34

III-770 EXAMINACION.34

III-777 Interpretacin35III-790 DOCUMENTACION35


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III-791 Registro de Examinacin.35

APNDICE IV CALIFICACIN DE FUENTES DE LUZ DE LONGITUD DE ONDA ALTERNAPARA LA EXCITACIN DE PARTCULAS FLUORESCENTES36IV-710 ALCANCE36

IV-720 GENERAL36IV-721 Requerimientos de Procedimientos Escritos..36IV-723 Demostracin de Procedimiento.36

IV-750 TECNICA..36IV-751 Estndar de Calificacion..36IV-752 Cristales de Filtro.36

IV-770 EXAMINACIONES DE LA CALIFICACION36IV-771 Intensidad de la Luz Negra.36IV-772 Requerimientos de la Examinacion.37IV-773 Calificacion de la Fuente de Luz de Longitud de Onda Alterna y Partculas

Magnticas.37IV-790 DOCUMENTACION.37IV-791 Registro de Examinacion..37


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CONTENIDO

APNDICE I EXAMINACIN POR PARTCULAS MAGNTICAS QUE USA LA TECNICA DELYUGO CON CA EN MATERIALES REVESTIDOS FERRTICOS CON RECUBRIMIENTOS NOMAGNTICOS

I-710 ALCANCE

Este apndice suministra la metodologa de la examinacin de Partculas Magnticasy los requerimientos de los equipos aplicables para ejecutar la examinacin porPartculas Magnticas en materiales ferrticos con revestimientos no magnticos.

I - 720 GENERAL

Los requerimientos del Artculo 7 aplican a menos que sean modificados por este

Apndice.

I721 Requerimientos de Procedimientos EscritosI 721.1 Requerimientos. La examinacin por Partculas Magnticas deber serdesarrollada en concordancia con un procedimiento escrito el cual deber, comomnimo, contener los requerimientos listados en las tablas T- 721 y I 721. Elprocedimiento escrito deber establecer un solo valor, o rango de valores, para cadarequerimiento.

I721.2 Calificacin de Procedimiento/Validacin de la Tcnica.

Cuando se especifica la calificacin de procedimiento, un cambio de unrequerimiento en la tabla T- 721 I721 identificado como una variable esencial delvalor especificado, o rango de valores, deben requerir recalificacin delprocedimiento escrito y la validacin de la tcnica. Un cambio de un requerimientoidentificado como una variable no esencial del valor especificado, o rango de valores,especificado mediante el procedimiento escrito deber requerir revisin de, o unaadenda para, el procedimiento escrito.

I722 Calificacin del Personal

Los requerimientos de calificacin del personal debern estar en concordancia con laSeccin del Cdigo en referencia.

I723 Procedimiento/Demostracin de la Tecnica.

El procedimiento/Tecnica deber ser demostrado para la satisfaccin del inspectoren concordancia con los requerimientos de la Seccin del Cdigo en referencia.

I730 EQUIPOSI730.1 El equipo de magnetizacin deber ser estar concordancia con el Articulo 7.


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I730.2 Cuando se usa la tecnica del polvo seco, deber ser utilizado un soplador depolvo para la aplicacin del polvo. No deber ser usado aplicadores de partculasexprimidas manualmente cuando se use la tecnica del polvo seco.I730.3 Las partculas magnticas deber contrastar con el fondo del componente.

I 730.4 Los materiales No conductores tales como un shim plstico disponiblepuede ser usado para simular revestimientos no magnticos no conductores paracalificacin de procedimiento y personal.

I740 REQUERIMIENTOS DIVERSOSI741 Medicin del Espesor del Revestimiento

El procedimiento de la demostracin y ejecucin de las examinaciones deberan serprecedidos por la medicion del espesor del revestimiento en las reas que van a serexaminadas. Si el revestimiento es no conductor, se debe usar una tcnica de

corriente de Eddy o tcnica magntica para medir el espesor del revestimiento. Latecnica magntica deber estar en concordancia con SD-1186, Mtodos de EnsayosEstndar para la Medicin de Espesores de Revestimientos Delgados Secos deRevestimientos No Magnticos Aplicados a una Base Ferrosa. Cuando losrevestimientos son conductores y no magnticos, deber ser usada un tecnicaespesor de revestimiento en concordancia con SD-1186. Se deber usar el equipo demedicion de revestimiento en concordancia con las instrucciones del fabricante delequipo. Debern ser tomadas las mediciones del espesor del revestimiento en lasintersecciones de un patrn cuadrcula maximo de 2 (50 mm) sobre el rea deexaminacin y al menos una mitad de la mxima separacin de los apoyos del yugo

ms all del rea de examinacin. El espesor deber ser la media de las tres lecturasseparadas dentro de (6 mm) de cada interseccin.


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TABLA I-721REQUERIMIENTOS DE LA TECNICA DEL YUGO CON CA EN COMPONENTES FERRITICOS

REVESTIDOSRequerimientos Variable Esencial Variable No Esencial

Identificacin de las configuraciones de la superficie a ser

examinada, incluyendo los materiales del revestimiento, elmaximo espesor de revestimiento calificado, y las formas delproducto (ejemplo., material base o superficie soldada)

X ---------------------

Requerimientos de la condicin superficial y mtodos depreparacin.

X ---------------------

Fabricante y Modelo de Yugo CA X ---------------------Fabricante y tipo de las partculas magnticas X ---------------------Separacin mnima y mxima de los polos X ---------------------Identificacin de los pasos en la ejecucin de la examinacin X ---------------------Intensidad mnima de la iluminacin y los requerimientos deenerga de levante [como se midi en concordancia con la

Tcnica de Calificacin (I-721.2)]X ---------------------

Mtodos de identificacin de fallas y distinguir entre lasindicaciones producidas por discontinuidades e indicacionesfalsas o no relevantes (ejemplo., registro magntico, opartculas retenidas por irregularidades superficiales).

X ---------------------

Instrucciones para la identificacin y confirmacin deindicaciones de fallas bajo sospechas.

X ---------------------

Mtodo de medicin de espesores de revestimientos --------------------- XCriterio de registro --------------------- XRequerimientos nico de calificacin de personal para estatcnica

--------------------- X

Referencia a los registros de calificacin de procedimiento --------------------- X

I-750 TCNICAI-751 Calificacin de la tcnica

(a) Se requiere una muestra de calificacin. La muestra deber ser degeometra similar o perfil de soldadura y que contenga al menos unagrieta superficial no mayor que el tamao mximo de falla permitido enel criterio de aceptacin aplicable. El material usado para la muestra

deber ser de la misma especificacin y tratamiento trmico como elmaterial ferromagntico revestido que va a ser examinado. Como unaalternativa a los requerimientos del material, otros materiales ytratamientos trmicos pueden ser calificados con tal que:

(1)La mxima fuerza de levante del yugo medida en el material a ser examinadosea igual o mayor que la fuerza mxima de levante en la calificacin delmaterial de la muestra. Ambos valores debern ser determinados con elmismo o equipo comparable y deber ser documentado como se requiera enI-751 (c).

(2)Todos los requerimientos de I-751 (b) hasta (g) son presentados para elmaterial alterno.


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(b) Examinar la muestra descubierta en la mayora de la orientacindesfavorable esperada durante la ejecucin de la examinacin deproduccin.

(c) Documentar la mxima energa de levante del yugo medido, niveles deiluminacin, y los resultados.

(d) Medir el espesor mximo de revestimiento en el artculo a ser examinadoen concordancia con los requerimientos de I-741.

(e) Cubrir la muestra con el mismo tipo de recubrimiento, conductor o noconductor, para el mximo espesor en el artculo de produccin que va aser examinado Alternativamente, se pueden usar shim disponible noconductor para simular revestimientos no conductores.

(f) Examinar la muestra revestida en la orientacin desfavorable esperadadurante la ejecucin de la examinacion de produccin. Documentar lamxima energa medida de levante del yugo, nivel de iluminacin, y losresultados de examinacion.

(g) Comparar la longitud de la indicacion resultante de la falla mas larga nomayor que el tamao de falla maximo permitido por el criterio deaceptacin aplicable, antes y despus del revestimiento. Se califica elespesor del revestimiento cuando la longitud de la indicacin en lasuperficie revestida es de al menos del 50% de la longitud de la indicacincorrespondiente antes del revestimiento.

(h) Se requiere la recalificacin del revestimiento para una disminucin encualquier energia de levante del yugo CA o el nivel de examinacion, opara un aumento en el espesor de recubrimiento.

I-760 CALIBRACINI-761 Fuerza Mxima de Levante del Yugo

La mxima fuerza de levante del yugo CA deber ser determinada en la separacinnormal de los apoyos del yugo a ser usada en la examinacion. Esto puede ser llevadoa cabo por mantener el yugo con un peso ferromagntico de 10 libras (4.5Kgs) entrelos apoyos (piernas) del yugo y agregando pesos adicionales, calibrados en unapostage u otra escala, hasta que el peso ferromagntico sea retirado. La energa delevante del yugo deber ser el peso combinado del material ferromagntico y lospesos agregados, antes de que el peso ferromagntico haya sido retirado. Pueden

ser usados otros mtodos tales como indicadores de presiones.

I-762 Medicin de la Intensidad de Luz

La intensidad de la luz negra o blanca (as apropiada) sobre la superficie delcomponente no deber ser menor que aquel usado en el ensayo de calificacin. Unmedidor de luz blanca y/o luz negra calibrado apropiado deber ser usado para losensayos. Las intensidades de luz blanca o luz negra mnima debern cumplir con losrequerimientos de T-777.1 o T-777.2 as aplicable.


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I-762.1 Luz blanca. La intensidad de luz blanca deber ser medida en la superficie deinspeccin. La intensidad de luz blanca para la examinacin no deber ser menor quela que fue usada en la examinacin.

I-762.2 Luz Negra. La intensidad de luz negra deber ser medida en la distancia de la

luz negra en la calificacin del procedimiento y en la misma distancia de la muestrade la examinacin. La intensidad de la luz negra no deber ser menor que aquellausada para calificar el procedimiento. En resumen, la mxima intensidad de la luzblanca deber ser medida como luz de fondo en la superficie de inspeccin. La luzblanca de fondo para la examinacin no deber ser mayor que la que fue usada en lacalificacin.

I-770 EXAMINACIN

(a)Las superficies que van a ser examinadas, y todas las reas adyacentes dentrode al menos 1 (25 mm), deber estar libre de todo sucio, grasas, pelusas,cascarillas, fundentes y salpicaduras de soldaduras, aceites, y descascarilladossueltos y soplados, hojuelas, o revestimiento desconchado.

(b)Examinar el artculo revestidos en concordancia con el procedimientocalificado.

I-780 EVALUACIN

Si una indicacin mayor que el 50% del tamao mximo de falla permisible esdetectada, el recubrimiento en el rea de la indicacin deber ser removido y

repetida la examinacion.

I-790 DOCUMENTACINI-791 Registro de la Examinacin

Para cada examinacin, la informacion requerida en la seccin de los registros de T-793 y la siguiente informacin deber ser registrada:

(a)La identificacin del procedimiento/tecnica(b)La identificacin del personal que ejecuta y es testigo de la calificacin(c) La descripcin y dibujos o esquemas de la muestra de calificacin, incluyendo

las mediciones del espesor del revestimiento y dimensiones de la falla.(d)Equipos y materiales usado(e)Nivel de iluminacin y energa de levante del yugo(f) Resultados de la calificacin, incluyendo el espesor de revestimiento mximo

y fallas detectadas.


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APENDICE II GLOSARIO DE TRMINOS PARA LA EXAMINACIN POR PARTCULASMAGNTICAS

II-710 ALCANCE

Este Apndice obligatorio es usado para el propsito de establecer los trminosestndar y definiciones de los trminos los cuales aparecen en el Artculo 7,Examinacin por Partculas Magnticas.

II- 720 REQUERIMIENTOS GENERALES

(a)La Terminologa Estndar para las Examinaciones No Destructivas (ASTME1316) ha sido adoptada por el comit SE-1316.

(b)La Seccin SE-1316 7 suministra las definiciones de trminos listados el II-730(a).

(c)Para los trminos generales, tales como Indicacion, Falla, Discontinuidad,Evaluacion, etc., Referirse al Artculo 1, Apendice I Obligatorio

(d)El pargrafo II-730(b) suministra una lista de trminos y definiciones, loscuales son en adicion para SE-1316 y son especficos del Cdigo.

II-730 REQUERIMIENTOS

(a)Los siguientes trminos SE-1316 son usados conjuntamente con este Artculo:Vuelta-amperios, luz negra, conductor central, magnetizacin circular,desmagnetizacin, polvo seco, corriente directa de onda completa, corriente

de media onda, magnetizacin longitudinal, campo magntico, densidad decampo magntico, examinacion por partculas magnticas, indicador decampo de partculas magnticas, partculas magnticas, magnetizacinmultidireccional, imanes permanentes, pinzas, sensibilidad, suspensin, yugo.

(b)Los siguientes trminos del Codigo son usados conjuntamente con esteArtculo:Intensidad de luz negra: Es una expresin cuantitativa de la irradiacinultravioleta.Flujo magntico: Es el concepto en que el campo magntico fluye a lo largo dela fuerza que sugiere que estas lneas son por lo tanto lneas de flujo, y son

llamado flujo magntico. La densidad del campo se define por el nmero delneas de flujo que atraviesan una unidad de rea tomada en ngulos rectos ala direccin de las lneas.Corriente magntica rectificada: Por medio de un dispositivo llamadorectificador, el cual permite que la corriente fluya solo en una direccin, lacorriente alterna puede ser convertida a una corriente unidireccional. Esto sediferencia de la corriente directa en que el valor de la corriente vara de unnivel estable. Esta variacin puede ser extrema, como en el caso de la CA defase simple de media onda rectificada, o de poca importancia, como en elcaso de la CA rectificada trifsica.


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TABLA III-721REQUERIMIENTOS PARA UNA TECNICA DE YUGO DE CDMO (HWDC) O CA CON

PARTCULAS FLUORESCENTES EN UN REA NO OSCURECIDA

REQUERIMIENTOS VARIABLE ESENCIAL VARIABLE NO ESENCIAL

Identificacin de las configuraciones superficiales aser examinadas y formas de productos( ejemplo,. Material base o superficie soldada)

X ----------------------

Requerimiento dela condicin superficial y mtodosde preparacin

X ----------------------

Fabricante y modelo del yugo X ----------------------Fabricante y designacin de partculas X ----------------------Separacin de los polos maximo y mnimo X ----------------------Identificacin de los pasos en la ejecucin de laexaminacin

X ----------------------

Mxima intensidad de la luz blanca X ----------------------Mxima intensidad de la luz negra X ----------------------Requerimientos para la calificacin del personal ---------------------- XReferencia a los registros de calificacin deprocedimientos

---------------------- X

Corriente rectificada de media onda CA: Cuando una corriente alterna de fase simplees rectificada en la manera mas simple, la inversin del ciclo es bloqueadocompletamente. El resultado es una corriente pulsatoria unidireccional conintervalos cuando la corriente no esta fluyendo en su totalidad. Esto a menudo esreferido como corriente directa de media onda o corriente directa pulsatoria.

Corriente rectificada de onda completa: Cuando la mitad del ciclo inverso cambia deposicion fluye en la misma direccin como en la mitad de avance directo. Elresultado es una corriente rectificada de onda completa. Cuando la corriente alternatrifsica es rectificada de onda completa es unidireccional con muy poca pulsacin;solo una tensin de variacin de ondulacin la diferencia de la CD de fase simple.

APENDICE III EXAMINACIN POR PARTCULAS MAGNTICAS USANDO LA TCNICADEL YUGO CON PARTCULAS FLUORESCENTES EN UN REA NO OSCURA

III- 710 ALCANCE

Este Apndice suministra la metodologa y requerimientos de equipos paraexaminacin por Partculas Magnticas aplicables para ejecutar las examinacionespor partculas magnticas que usan un yugo con partculas fluorescentes en un reano oscura.


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III-720 GENERAL

Los requerimientos del Artculo 7 aplican a menos que sea modificado por esteApndice.III-721 Requerimientos de Procedimiento Escrito

III-721.1 Requerimientos. Los requerimientos de las tablas T-721 y III-721 aplican.

III-721.2 Calificacion de Procedimiento. Los requerimientos de la tabla T-721 y III-721aplican.

III-723 Demostracin de Procedimiento

El procedimiento deber ser demostrado para la satisfaccin del inspector enconcordancia con los requerimientos de la Seccin del Cdigo en referencia.

III-750 TCNICA

III-751 Estndar de Calificacin

Un Shim(s) ranurado estndar como se describe en T-764.1.2 deber ser usado comoel estndar de calificacin.

III-760 CALIBRACIN

III-761 Medicin de la Intensidad de luz negra.

La intensidad de la luz negra sobre la superficie del componente deber ser nomenor que el usado en el ensayo de calificacin.

III-762 Medicin de la Intensidad de la luz Blanca

La intensidad de la luz blanca sobre la superficie del componente deber ser nomayor que el usado en el ensayo de calificacin.

III-770 EXAMINACIN

El estndar de calificacin deber ser ubicado sobre una plancha de acero al carbonoy examinado en concordancia con el procedimiento a ser calificado y unprocedimiento que haya sido previamente demostrado como apropiado para el uso.El procedimiento estndar puede utilizar una tecnica fluorescente o visible. Lasindicaciones de falla debern ser comparadas; si aparece la misma la indicacinobtenida bajo las condiciones propuestas o mejor que la obtenida bajo lascondiciones estndar, el procedimiento propuesto deber ser considerado calificadopara su uso.


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TABLA IV-721REQUERIMIENTOS PARA LA CALIFICACIN DE FUENTES DE LUZ DE LONGITUD DE

ONDAS ALTERNAS PARA LA EXITACIN DE PARTCULAS FLUORESCENTES ESPECFICAS

REQUERIMIENTOS VARIABLES ESENCIAL VARIABLE NO ESENCIAL

Fabricante y designacin de partculas X -------------------------

Vehculo (agua, o aceite); Si es aceite, fabricantey tipo de designacin.

X -------------------------

Fabricante y modelo de la fuente de luz delongitud de onda alterna

X -------------------------

Medidores, fabricante y modelo de la fuente deluz de longitud de onda alterna

X -------------------------

Cristal de filtro ( si es necesario) X -------------------------

Intensidad de luz de longitud de onda alternativamnima

X -------------------------

Registros de calificacin ------------------------- X

III-777 Interpretacin

Para la interpretacin, tanto la intensidad de luz negra y blanca debern ser medidacon medidores de luz.

III-790 DOCUMENTACIN

III-791 Registro de la Examinacin

Para cada examinacin, la informacin requerida en T-793 y la siguiente informacindeber ser registrada:

(a) Identificacin y revisin del procedimiento calificado.(b)Identificacin y revisin del procedimiento estndar.(c) Identificacin estndar de la calificacin.(d)Identificacin del personal que ejecuta y es testigo de la calificacin.(e)Equipos y materiales usados.(f) Niveles de iluminacin (luz negra y blanca).(g)Resultados de la calificacin.


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APNDICE IV CALIFICACIN DE FUENTES DE LUZ DE LONGITUD DE ONDA ALTERNAPARA LA EXCITACIN DE PARTCULAS FLUORESCENTES.

IV-710 ALCANCE

Este Apndice suministra la metodologa para calificar le ejecucin de lasexaminaciones de partculas fluorescentes que usan fuentes de longitud de ondasalternas.

IV-720 GENERAL

Los requerimientos del Artculo 7 aplican a menos que sea modificado por esteApndice.

IV-721 Requerimientos de Procedimiento Escritos.

IV-721.1 Requerimientos. Los requerimientos de la tabla IV-721 aplican a losrequerimientos de los procedimientos escritos (T-721.1) y cuando se especificanmediante la Seccin del Cdigo de referencia para la calificacin (T-721.2).

IV-723 Demostracin del Procedimiento

El procedimiento deber ser demostrado para la satisfaccin del inspector enconcordancia con los requerimientos de la Seccin del Cdigo en referencia.

IV-750 TCNICA

IV-751 Estndar de Calificacin

Los Shims ranurados (s) de 0.002 (0.05 mm) de espesor que tengan el 30% deprofundidad de material removido descrito as en T-764.1.2 debern ser usados paracalificar la fuente de luz de longitud de onda alterna y partculas especficas. LosShims debern estar sellados con cinta a una superficie de objetos ferromagnticosy usados como se describe en 7-764.1.2 con la muesca contra la superficie del objeto.

IV-752 Cristales de filtro

Si la fuente de luz de longitud de onda alternativa emite en una porcin visible delespectro (Longitud de onda de 400 nm o mayor), el examinador deber llevarpuestos lentes de filtros que hayan sido suministrado por el fabricante de la fuentede luz para bloquear la luz de excitacin visible reflejada mientras se transmite lafluorescencia de las partculas.IV-770 EXAMINACIONES DE LAS CALIFICACIONES

IV-771 Intensidad de la Luz Negra.


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La intensidad de luz negra sobre la superficie de examinacin deber ser ajustadamediante la variacin de la distancia o energa a fin de que tenga una intensidadmnima de 1.100 W /cm2.

IV-772 Requerimientos de la Examinacin

Los parmetros de la examinacin para el objeto seleccionado debern serdeterminados por las reglas de T-750 aplicable al objeto seleccionado y al mtodo demagnetizacin. Cualquier tcnica de magnetizacin listada en T-751 puede ser usada.Las mismas indicaciones de las discontinuidades del Shim debern ser usadas tantopara la luz negra y para las examinaciones de luz de longitud de onda alterna

IV-772.1 Examinaciones con Luz Negra. El estndar de calificacin con el shim(s)sujetado deber ser examinado con los parmetros establecidos y partculasespecficas en un rea oscura con iluminacin de luz negra. Las indicaciones de

partculas resultantes debern ser fotografiadas.

IV-772.2 Examinacin con Luz de Longitud de Onda Alterna. Usando las mismasindicaciones examinadas en IV.772.1, encender la fuente de luz de longitud de ondaalterna y ajustar la intensidad de luz mediante la variacin de la distancia o energa,para establecer las indicaciones de partculas esencialmente iguales a aquella(aquellas) que se obtuvieron con la luz negra segn como se realiz antes. Laintensidad de la luz deber ser medida con un medidor de luz de longitud de ondaalternativa. La indicacion(s) de partculas resultantes deber ser fotografiada usandolas tcnicas fotogrficas idnticas como la usada para la luz negra. Sin embargo, para

usar filtros de lentes de camara apropiados con la fuente de luz de longitud de ondaalterna debera ser usado para registrar la indicacion(s), cuando sea requerida.

IV-773 Calificacin de la Fuente de Luz de Longitud de Onda Alterna y PartculasEspecficas.

Cuando la misma indicacion(s) de partculas as logradas con la luz negra puedenobtenerse con la fuente de luz de onda alterna, la fuente de luz de longitud ondaalterna puede ser usada para las examinaciones por partculas magnticas. La fuentede luz de longitud de onda alterna con al menos la mnima intensidad de luz

calificada deber ser usada con la designacin de partculas especificas empleadas enla calificacin.

IV-790 DOCUMENTACIN

IV-791 Registro de la Examinacin. Para cada examinacin, la informacin requeridaen T-793 y la siguiente informacin deber ser registrada:

(a)La fuente de luz de longitud de onda alterna, fabricante y modelo.(b)El medidor de fuente de luz de longitud de onda alterna, fabricante y modelo.(c)

Cristales filtro, cuando sea necesario(d)Fabricante y designacin de las partculas fluorescentes.


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(e) Identificacin del estndar de la calificacin.(f) Detalles tcnicos.(g) Identificacin del personal que ejecuta la calificacin y testigos de la misma.(h)Equipos y materiales usados.(i) Intensidad de luz de longitud de onda alterna mnima.(j) Luz negra y fotos de la calificacin de luz de longitud de onda alterna,

calibraciones de la exposicin, y filtros, si son usados.


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ARTICULO 7APNDICE NO OBLIGATORIO

CONTENIDOPag.

APNDICE A MEDICIN DE LA DENSIDAD DEL CAMPO TANGENCIAL CONGAUSMETROS.40A-710 ALCANCE40A-720 REQUERIMIENTOS GENERALES..40A-730 EQUIPOS40A-750 PROCEDIMIENTOS..40A-790 DOCUMENTOS/REGISTROS..41


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APNDICE A MEDICIN DE LA DENSIDAD DEL CAMPO TANGENCIAL CONGAUSMETROS

A-710 ALCANCE

Este Apndice No obligatorio es usado con el propsito de establecer procedimientosy especificaciones delos equipos para medir la densidad de campo magnticotangencial aplicado.

A-720 REQUERIMIENTOS GENERALES

Los requerimientos de calificacin del personal debern estar en concordancia con elArtculo 1.Los gausmetros y equipos relacionados debern estar en concordancia con T-763 delArtculo 7.

Definiciones: La terminologa estndar para las examinaciones por partculasmagnticas se presenta en SE-1316.

A-730 EQUIPOS

El gausmetro que tiene la capacidad de ser ajustado para leer los valores tpicos dela intensidad de campo. La respuesta de la frecuencia del gausmetro deber ser deal menos de O Hz hasta 300 Hz.

La sonda de campo tangencial del Efecto Hall debera ser no mayor de 0.2 (5mm) X0.2 (5 mm) y debera tener una ubicacin del centro mximo de 0.2 (5 mm) de lasuperficie de la pieza. Los cables de la sonda debern ser protegido o enrollados paraevitar errores en la lectura debido al voltaje inducido durante los grandes cambios decampos encontrados durante las examinaciones por partculas magnticas.

A-750 PROCEDIMIENTO

Se deber tener precaucin cuando de mida las densidades del campo tangencialaplicado en T-764.1.3. El plano de la sonda puede ser perpendicular a la superficie

de la pieza en la ubicacin de la medicin dentro de 5 . Esto puede ser difcil dellevar a cabo mediante la orientacin manual. Puede ser usado una matriz oaccesorio para asegurar que esta orientacin sea alcanzada y mantenida. La direcciny magnitud del campo tangencial sobre la superficie de la pieza puede serdeterminada mediante la ubicacin de la sonda de campo tangencial de Efecto Hallsobre la superficie de la parte en el rea de inters. La direccin del campo puedeser determinada durante la aplicacin del campo magnetizante por la rotacion de lasonda de campo tangencial mientras esta en contacto con la pieza hasta que seobtenga la mayor lectura del campo en el Gausmetro. La orientacin de la sonda,cuando se obtiene el mayor campo, indicar la direccin del campo en ese punto.

Los Gausmetros no se pueden usar para determinar la suficiencia de los camposmagnticos para las tcnicas de magnetizacin de bobina y multidireccionales.


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Una vez que la densidad del campo suficiente ha sido demostrada con los Shims defalla artificial, la lectura de los Gausmetros puede ser usada para el aclope del Shimen piezas idnticas o configuraciones similares para verificar la intensidad y direccindel campo.

A-790 DOCUMENTACIN /REGISTROS

La documentacion debera incluir lo siguiente:

(a)Modelo del equipo y descripciion de la sonda.(b)Esquemas o dibujos mostrando donde son realizadas las mediciones(c) Intensidad y direccin de la medicion del campo .

Codigo ASME Seccion V Articulo 7- 2010 en Español

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