光电信息技术实验 Ⅰ

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光电信息技术实验 Ⅰ. 实验一 光电二极管、光电三极管光照特性的测试. 实验二 硅光电池负载特性的测试. 实验三 光电倍增管特性和参数的测试. 实验四 光电控制电路设计与装调. 实验五 相关器的研究及其主要参数测量. 实验六 同步积分器的研究及其主要参数测量. 实验七 多点信号平均器. 实验八 线阵 CCD 驱动器与特性实验. 实 验 一 光电二极管、光电三极管光照特性的测试. -、目的要求. 掌握光电二极管的工作原理和使用方法。 进一步了解光电二极管的光照特性和伏安特性,为设计光电系统前置放大器打下基础。. ∧. - PowerPoint PPT Presentation

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实 验 一 实 验 一 光电二极管、光电三极管光电二极管、光电三极管

光照特性的测试光照特性的测试

Page 3: 光电信息技术实验 Ⅰ

-、目的要求-、目的要求

1. 掌握光电二极管的工作原理和使用方法。

2. 进一步了解光电二极管的光照特性和伏安特

性,为设计光电系统前置放大器打下基础。

Page 4: 光电信息技术实验 Ⅰ

二、工作原理二、工作原理1. 光电二极管是结型半导体光伏探测器件。当入射光子能量大于

材料禁带宽度时,半导体吸收光子能量将产生电子空穴对。产生在 PN 结内的电子空穴对在内建电场(光电二极管工作时加反向偏压 Vb )作用下被分离,形成光生电势,产生光电流,如图1 所示

图 1 光电二极管工作原理图

Page 5: 光电信息技术实验 Ⅰ

2. 光电三极管的原理性结构如图 2 所示。正常运用时,集电极加正电压。因此,集电结为反偏置,发射结为正偏置,集电结为光电结。当光照到集电结上时,集电结即产生光电流 Ip 向基区注入,同时在集电极电路产生了一个被放大的电流:

β 为电流放大倍数。

图 2 光电三极管工作原理图

(1 )C p pI I I

Page 6: 光电信息技术实验 Ⅰ

E4>E3>E2>E1>E0

E4

E3

E2

E1

E0

U

I

0

E4>E3>E2>E1>E0

E4

E3

E2

E1

E0

U

I

0

图 3 ( a )光电二极管伏安特性曲线 ( b )光电三极管伏安特性曲线

3. 光电二极管和光电三极管的伏安特性曲线

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三、实验内容三、实验内容

1. 测量光电二极管的光电流和照度特性曲线。

2. 测量光电二极管不同照度下的伏安特性曲线。

Page 8: 光电信息技术实验 Ⅰ

图 4 光电二极管光照特性测试装置

照度计 直流稳压电源μA

光电探测器

调压变压器

四、实验仪器及装置四、实验仪器及装置 1. 实验仪器:光电二极管、钨丝灯、调压变压器、照度

表、毫安表、直流稳压电源等。

2. 实验装置如图 4 。

Page 9: 光电信息技术实验 Ⅰ

实 验 二 实 验 二

硅光电池负载特性的测试硅光电池负载特性的测试

Page 10: 光电信息技术实验 Ⅰ

一、实验目的一、实验目的

1. 掌握硅光电池的正确使用方法。

2. 了解光电池零负载,以及不同负载时光电流

与照度的关系。

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二、工作原理二、工作原理1. 光电池具有半导体结型器件无源直接负载下的工作特

性,工作原理如图 1 所示。 RL 外接负载为, Ip 为光电流, ID 为二极管结电流。

光 Iφ

RL

ID

I

A

N P

图 1 光电池工作原理图

Page 12: 光电信息技术实验 Ⅰ

2. I 为通过负载的外电流:

其中 ISC 为光电流反向饱和电流。当 为温度电压当量时,负载 RL 上的电压 V=IRL 给光电池正向偏压。

① 当零负载时( RL=0 ),( 1 )式外电流为短路电流:

S 为光电流灵敏度,短路电流 ISC 和照度 E 成正比。② 当开路时,( RL=∞ ),( 1 )式外电流 I=0 则开路电压为

开路电压 Voc 与照度 E 几乎无关;所有照度下的开路电压 Voc

趋于光电池正向开启电压 V=0.6 伏,并小于这个电压值。

/( 1)T

v v

D scI I I I I e

TT

KV

q

sc pI I SE

ln(1 )poc T

SC

IV V

I

Page 13: 光电信息技术实验 Ⅰ

③ 最佳负载,负载在 RL=0 ~∞之间变化按经验公式求出最佳负载:

当 RL≤Ropt 时,并忽略光电池结电流,负载电流近似等于恒定短路电流。

当 RL>Ropt 时,光电池结电流按指数增加 , 负载电流近似于指数形式减小。

m

(0.6 ~ 0.8)(0.6 ~ 0.8)

Im oc oc

optsc

V V VR

I SE

Page 14: 光电信息技术实验 Ⅰ

三、实验内容三、实验内容

1. 测定电池零负载下 Ip 和 E 的关系。

2. 测定光电池不同负载情况下特性数据。

Page 15: 光电信息技术实验 Ⅰ

四、实验仪表和器材四、实验仪表和器材

硅光电池、照度计、钨丝灯、调压变压器、直流稳

压电源、毫伏电压表、微安表、电阻和电位计等

Page 16: 光电信息技术实验 Ⅰ

图 2 光电池负载实验装置

A R5 R6 RL

C

mv

R3

100Ω

B

G1

R4

VE

I2

I1

μA G

100Ω

五、实验线路装置五、实验线路装置 光电池负载实验线路装置如图 2 所示。

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光电池受光照后,产生光电流 I2 。在 A 、 B 两点的毫伏电压会产生偏转。调节稳压电源 VE 后,产生补偿电流 I1 , I1 和光电流 I2 方向相反。调节电位计 R5

(粗调)和 R6 (细调)使补偿电流 I1 与光电流 I2 相减,并促使毫伏电压表 G1 指示为零。此时,表示 A点和 B 点电位相同。相当于光电池在 A 、 B 二点外电路为零状态下工作,根据电路平衡条件:

则光电流为:

2 3 1 2 4( ) 0I R I I R

42 1 1 1

4 3

100 1( ) ( )

100 100 2

RI I I I

R R

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实 验 三 实 验 三 光电倍增管特性和参数的光电倍增管特性和参数的

测试测试

Page 19: 光电信息技术实验 Ⅰ

一、实验目的一、实验目的

1. 了解光电倍增管的基本特性。

2. 学习光电倍增管基本参数的测量方法。

3. 学会正确使用光电倍增管。

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二、实验原理二、实验原理1. 工作原理 光电倍增管是由半透明的光电发射阴极、倍增极和阳

极所组成的,由图 1 所示。

图 1 光电倍增管外形与结果原理示意图

a) 侧窗式 b) 端窗式 c) 原理示意图

Page 21: 光电信息技术实验 Ⅰ

当入射光子照射到半透明的光电阴极 K 上时,将发射出光电子,被第一倍增极 D1 与阴极 K 之间的电场所聚焦并加速后与倍增极 D2碰撞,一个光电子从 D1撞击出 3 个以上的新电子,这种新电子叫做二次电子。这些二次电子又被D1 ~ D2 之间的电场所加速,打到第二个倍增极 D2 上。并从 D2 上撞击出更多的新的二次电子。如此继续下去,使电子流迅速倍增。最后被阳极 A 收集。收集的阳极电子流比阴极发射的电子流一般大 105 ~ 104 倍。这就是真空光电倍增管的电子内倍增原理。

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2. 供电分压器和输出电路 光电倍增管的极间电压的分配一般是由图 2 所示的串联

电阻分压器执行。 最佳的极间电压分配取决于三个因素:阳极峰值电流、

允许的电压波动以及允许的非线性偏离。

图 2 光电倍增管供电电路

-HV

D1 D2 D3 D4 D5 D6 D7 D8

11

IA

10

IK

1 2 3 4 5 6 7 8 9

K A

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3. 光电倍增管的特性和参数① 阴极光照灵敏度 阴极光照灵敏度定义为光电阴极的光电流 IK除以入射

光通量 φ所得的商: 国际照明委员会的标准光照相应于分布温度为

2859K 的绝对黑体的辐射。② 阳极光照灵敏度 阳极光照灵敏度定义为阳极输出电流 IA除以入射光通

量 φ所得的商:

( )KK m

IS A L

( )AA m

IS A I

Page 24: 光电信息技术实验 Ⅰ

③ 电流增益 电流增益定义为在一定的入射光通量和阳极电压下,阳极

电流与阴极电流的比值,也可以用阳极光照灵敏度与阴极光照灵敏度的比值来确定,即:

• 暗电流 当光电倍增管在完全黑暗的情况下工作时,阳极电路里仍

然会出现输出电流,称为暗电流。引起暗电流的因素有:热电子发射、场致发射、放射性同位素的核辐射、光反馈、离子反馈和极间漏电等。

A

K

IG

I A

K

SG

S

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三、实验装置三、实验装置 实验装置如图 3 。

图 3 测试原理图

Page 26: 光电信息技术实验 Ⅰ

本实验选用 GB787-74 型光电倍增管,其管脚和名称见下图。

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实 验 四 实 验 四 光电控制电路设计与装调光电控制电路设计与装调

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一、实验目的一、实验目的

1. 了解光电三极管和红外发光管的性能、参数及应用。

2. 学会拟定、分析光电系统。3. 掌握光电三极管接收及放大电路,红外发光

管脉冲调制光源的构成与调试。

Page 29: 光电信息技术实验 Ⅰ

二、实验原理与电路二、实验原理与电路1. 实验原理 光电控制系统一般由发光部分、接收部分和信号处

理部分组成。 本实验采用振荡电路产生的方波信号对红外发光管

进行调制,使之输出光脉冲信号,然后由光电三极管接收,放大还原为电信号。

方波脉冲发生器使用 555 时基集成电路;光电接收电路采用光电三极管组成的放大电路,本实验采用

3DU11 型。

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2. 参考实验电路 ① 发光电路由震荡电路和红外发光管 HG413 组成,

电路图如图 1 所示。

图 1 发光电路

1

4 8

2

37

6

51

R1

2.2K

R2

51K

C1

0.2μF

C2

0.01μF

R3 39Ω

D

VCC

(+5V)

· ·

·

·

·

HG413

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时基集成块 NE555输出震荡频率由外接电阻 R1

、 R2 及电容 C1决定。

3 端为输出端, R3 是限流电阻,避免由于电流过大而烧坏红外发光管 D ,其输出信号为方波,占空比为 。

1 2 1

1.43

( )f

R R C

1

1 2

R

R R

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② 接收电路由光电三极管、放大驱动电路和负载组成。由于外接负载的不同,所采用的放大电路的形式也很多。

如果负载电流较小,可采用晶体管作放大器,输出端直接带负载(如图 2 )。

图 2 晶体管放大电路

T1

3DU11 D(BT201)

T2

3DG6

R1

51K

R2

6.2K

VCC

( +5V )

Page 33: 光电信息技术实验 Ⅰ

采用运算放大器作放大电路(如图 3 )该电路特点是:电路简单,调试方便,工作稳定可靠。但输出电流仍受运算放大器的最大输出电流限制。

Page 34: 光电信息技术实验 Ⅰ

如果负载电流较大,或者负载需要较高的电压驱动,那么可以采用继电器进行弱电→强电转换(如图 4 )该电路经继电器后输出电流可较大。但其调试复杂,且电路的可靠性也由于采用的元器件增多而有所下降。

Page 35: 光电信息技术实验 Ⅰ

三、实验内容三、实验内容1. 组装脉冲发生器电路,并进行调试,先取 C1=10μF

。此时

此频率可由接收部分发光二极管直观地显示出来,便于调试。

2. 组装光接收电路,将光脉冲转换为电脉冲。 3. 联调

3 6

1.432Hz

2.2 51 10 10 10f

Page 36: 光电信息技术实验 Ⅰ

实 验 五实 验 五相关器的研究及其主要相关器的研究及其主要

参数测量参数测量

Page 37: 光电信息技术实验 Ⅰ

-、目的要求-、目的要求

1. 了解相关器的原理。

2. 测量相关器的输出特性。

3. 测量相关器的抑制干扰能力与抑制白噪声能力。

4. 测量相敏检波特性。

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二、基本原理二、基本原理1. 相关器由相敏检波器与低通滤波器组成,是锁定放

大器的核心部件。锁定放大器中的相关器通常采用图 1 所示的形式,由一个开关式乘法器与低通滤波器组成。

sin( )A AV V t C0

V0Vi R1

R0

VA

VB

图 1 锁定放大器中通常 采用的相关器

4 1(sin sin 3 ......)

3B R RV t t

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2. 相乘电路不是采用模拟乘法器,而是采用开关电路。参考信号 VB可以认为是以频率 ωR 的单位幅度方波。 VA 为输入信号,表示为 VA = VAsin(ωt+φ) 。当 ω= ωR为信号。 ω≠ωR

时为噪声或干扰, VA 、 VB 之间的相关差可以由锁定放大器参考通道的相移电路调节,求得图 1 中 Vi和 Vo为:

式中:

i A BV V V

0 0

0 2 1

20 1 2...1 0 0

2 1

20 0

2 cos{[ (2 1) ] }1{{

2 1 1 {[ (2 1) ] }

cos( )}}

1 {[ (2 1) ] }

A R no

n R

t

R C n

R

R V n t QV

R n n R C

Qe

n R C

、、

12 1 0 0[ (2 1) ]n RQ tg n R C

Page 40: 光电信息技术实验 Ⅰ

φ=0º 当 ω=ωR时 , 图 1

各点的波形如图 2 所示。

注:图 1 中低通滤波器为反相输入,因此,输出直流电压与 Vi反号,图 2中为了更直观起见,画的低通滤波器不倒相, Vo与 Vi中的直流分量同号。

Page 41: 光电信息技术实验 Ⅰ

3. 对( 2 )式讨论有下列结论:

① 时间常数, T1 = R0C0

② 当 ω=ωR时,

输出直流电压与相位 φ成 cosφ关系。③ 奇次谐波能通过并抑制偶次谐波,传输函数和方波

的频谱一样,说明相关器是以参考信号频率为参数的方波匹配滤波器。因此,能在噪声中或干扰中检测和参考信号频率相同的方波或正弦波信号。输出Vo与 f/fR响应曲线如图 3 所示。

0

1

2cosA

o

R VV

R

Page 42: 光电信息技术实验 Ⅰ

Vo

f⁄fR

图 3 Vo ~ f/fR响应曲线

曲线表明在 fR的各奇次谐波的响

应为基波的 1/(2n+1) 。

离开奇次谐波频率很快衰减,形

成 Q值很高的带通滤波器。

Page 43: 光电信息技术实验 Ⅰ

图 4 相关器输入为与参考信号同频的 方波时它的输出直流电压与两者 的相位差成线性关系

φ

V0

④ 如果输入信号为一恒定和参考方波频率相同的方波信号,则相关器为相敏检波器,输出的直流电压和信号与参考信号两者的相位差成线性关系。

如图 4 所示,可以作鉴相器使用。

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⑤ 等效噪声带宽

基波噪声带宽:

总等效噪声带宽:

式中 T为低通滤波器的时间常数。

10 0

1 1

2 2NfR C T

2 2

1 18 16N Nf fT

Page 45: 光电信息技术实验 Ⅰ

三、相关器框图三、相关器框图 相关器实验插件盒的相关器电原理框图如图 5 所示。由加

法器、交流放大器、开关式乘法器( PSD )、低通滤波器、直流放大器、参考通道方波形成与驱动电路组成。

图 5 相关器框图

加法器

信号输入

噪声输入

面板控制

信号输入×1,×10,×100

乘法器PSD

PSD 输出 面板控制

面板控制

低通滤波器T=0.1s,1s,10s 直流放大

×1,×10,×100

直流输出加法器输出

参考输入 方波驱动电路

Page 46: 光电信息技术实验 Ⅰ

四、实验内容与测试四、实验内容与测试1. 相关器的 PSD波形观察及输出电压测量

图 6 相关器 PSD波形观察及输出电压测量框图

多功能信号源正弦波输出

相关器信号输入 PSD 输出

参考输入 输出

交流、直流噪声电压表表

交流输入

频率计

输入

宽带相移器

输入 同相输出

相位计

信号输入

参考输入

示波器

Page 47: 光电信息技术实验 Ⅰ

按图 6 所示用电缆或导线连接;接通电源,预热二分钟,调节多功能信号源,使输出频率在 10KHz

左右。 调节宽带相移器的相移量观察 PSD 的输出波形。

测量相关器输出的直流电压与相关器输入信号对参考信号之间相位差φ之间的关系。

把实测结果与理论公式 对比。式中 Vo为相关器输出的直流电压, KAC 为交流放大倍数, KDC 为直流放大倍数, VA 为输入信号的幅值, φ为参考信号与输入信号之间的相位差。

2coso AC DC AV K K V

Page 48: 光电信息技术实验 Ⅰ

2. 相关器谐波响应的测量与观察 把上述实验连接图略作如下改变,宽带相移器的输入信号

由 nf,f/n输出(即 n倍频或n分频)送给 。多功能信号源功能“选择”置分频。由于相关器的参考信号为输入信号的 1∕n 分频,即相关器的输入信号为参考信号的 n倍频。

先置分频数为 1 ,由示波器观察 PSD波形及测量 PSD输出直流电压,调节相移器的相移,使输出直流电压最大,并观察示波器波形相同于全波整流波形,相位计测量的相位差为 0ْ ,记下上述数据。改变分频数 n为2 、 3 、 4 、 5… ,对于某一“ n” 值重复上述测量。实测结果为:奇次谐波输出的直流响应电压为基波的直流响应电压的 1/n ,偶次谐波的输出直流响应为 0 , PSD 的输出波形如图 7 所示。

Page 49: 光电信息技术实验 Ⅰ

VA

VO

VR

VPSD

t

t

t

t

VA

VO

VR

VPSD

t

t

t

t

VA

VO

VR

VPSD

t

t

t

t图 7 相关器谐波响应的各点波形

Page 50: 光电信息技术实验 Ⅰ

3. 对噪声的抑制与等效噪声带宽 白噪声电压与带宽有关。多功能信号源中的白噪声

发生器是一宽带白噪声源。要确切测量与计数噪声电压,必须要已知噪声带宽,已知噪声带宽可以用高通,低通滤波器组成一个已知通带宽度的带通滤波器来确定。对于二阶有源滤波器信号带宽 Δfs与等效噪声带宽 Δfn有下列关系式决定:

2n sf f

Page 51: 光电信息技术实验 Ⅰ

图 8 对噪声的抑制与等效噪声带宽测量框图

多功能信号源正弦波输出

示波器

频率计

同相输出

直流

输出

高、低通滤波器

输入输出

宽带相移器

输入

相关器信号输入

噪声输入

参考输入

加法器输出

PSD 输出 Y1 Y2

交流

白噪声

交流、直流、噪声电压表输入

噪声输出

X-Y记录仪

输入

输入

测试方框图如图 8 所示

Page 52: 光电信息技术实验 Ⅰ

白噪声信号源通过高低通滤波器组成的带通滤波器的限制,使高通、低通滤波器的输出为已知等效噪声带宽的噪声源,输给相关器的噪声,白噪声电压的大小由交流、直流、噪声电压表测量,在测量白噪声电压时,给出的白噪声的均方根电压。

Page 53: 光电信息技术实验 Ⅰ

4. 相敏检波特性 实验连线及原理框图同图 6 。把多功能信号源的

输出改成方波输出。工作频率选为 250Hz (其它频率都可以)。输入方波信号为 1000mV 。相关器的参数选择: KAC=1 , KDC=1 , T= 1秒。

改变宽带相移器的相移量。由示波器观察“ PSD

输出”波形,并测量“相关器输出”的直流电压。用相位计测出不同相移量与输出直流电压值。用坐标纸画出 Vo~ φ曲线为直线。表明输出直流电压与相移量成线性关系的相敏特性,测360º 并说明周期性。

Page 54: 光电信息技术实验 Ⅰ

五、注意事项五、注意事项1. 信号源接头过多,频率计接线可不同时接,可先接频率计后记下频率,再接到其他点去;

2. 宽带相移器的相位指示按键不一定准确,以输出直流电压值显示,并结合观察 PSD输出的波形为准;

3. 倍频、分频输出,单点(红点)按下为板面指示数,多点按下为多点指示数的相加之和。倍频或分频后的相位可能发生改变,应结合 PSD波形和直流输出进行调整;

4. 本实验中信号源输出频率置 1KHz ,相关器交流放大倍数置 X10档,直流放大倍数置 X10档;

5. 本实验中所给出的实验调件仅供参考,可以自己拟定条件测量;

Page 55: 光电信息技术实验 Ⅰ

实 验 六 实 验 六 同步积分器的研究及其同步积分器的研究及其

主要参数测量主要参数测量

Page 56: 光电信息技术实验 Ⅰ

一、目的要求一、目的要求1. 了解同步积分器的原理。2. 测量同步积分器的输出特性。3. 测量同步积分器的抑制干扰能力与抑制白噪声能力。

4. 测量同步积分器的过载电平。5. 测量同步积分器的等效噪声带宽。

Page 57: 光电信息技术实验 Ⅰ

二、基本原理二、基本原理 同步积分器是一种同步滤波器,同步积分器能在噪声

中提取微弱信号,具有很强的抗干扰能力,和相关器一样是微弱信号检测仪器的关键部件之一。由于它输出为交流信号,因此,在使用上有时较相关器具有更多的优点。同步积分器最简单的形式如图 1 所示。

iVI

R

Page 58: 光电信息技术实验 Ⅰ

设输入信号为: Iisin(ωt+φ) ,两电容C 分别由电子开关 S 以参考频率 fR交替地接到电阻 R上,对输入信号进行积分,可以求得同步积分器的输出电压为:

式中 X 为单位开关函数,数学表达式为:

略去小项,一级近似为:

式中 :

o oV V X

4 1 1(sin sin 3 sin 5 )

3 5R R RX t t t

2 1 2 122

0,1,2

cos (2 1)2 cos( )1

2 1 1 2 (2 1)1 2 (2 1)

tR ni nRC

on RR

n t QRI QV e

n RC nRC n

2 1 2 (2 1)n RQ arctg RC n

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由( 1 ),( 3 )式表明,同步积分器输出为一方波信号,方波频率为 ωR。方波幅度由( 3 )式决定。通过讨论有下列结论:

a) 时间常数:

b) 当 时,

对图 2 所示的同步积分器,

2IT RC

R ^

2coi

o

R IV

cos2 ^

10 iV

R

RV

Page 60: 光电信息技术实验 Ⅰ

c) 奇次谐波能通过,并抑制偶次谐波,传输函数的频谱和方波的频谱一样,说明同步积分器是以参考信号频率为参数的方波匹配滤波器。因此,能在噪声或干扰中检测和参考信号频率相同的方波或正弦波信号。

d) 如果输入信号为一幅值恒定和参考方波频率相同的方波信号,则同步积分器输出方波的振幅和信号与参考信号两者的相位差成线性相敏关系。

e) 等效噪声带宽:

基波等效噪声带宽:

总等效噪声带宽:

1

1

4Nf RC

2

18N Nf f

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三、电路原理图三、电路原理图

Page 62: 光电信息技术实验 Ⅰ

四、实验内容与测试四、实验内容与测试1. 输出波形的观察与输出电压的测量 同步积分器输出波形观察与测试框图如图 4 。

Page 63: 光电信息技术实验 Ⅰ

2. 谐波响应的观察与测量 实验连接原理框图见图 5 。

Page 64: 光电信息技术实验 Ⅰ

改变置分频数 n,测量对应的 n 次谐波响应。(因为参考信号频率的 n 次分频,即输入信号为参考信号的 n 次倍数),在每置一 n值之后,调节相移器相移量使输出方波幅度最大,测出这时的输出电压大小,并用示波器观察输入输出波形。观察波形如图 6 所示。

Page 65: 光电信息技术实验 Ⅰ

3. 抑制不相干信号的测量及过载电平的测量 不相干信号的测试框图如图 7 。

Page 66: 光电信息技术实验 Ⅰ

4. 对白噪声的抑制测量 白噪声的抑制与等效噪声带宽的测量框图如图 8 。

Page 67: 光电信息技术实验 Ⅰ

5. 相敏特性的测量 相敏特性的测试框图如图 9 。

Page 68: 光电信息技术实验 Ⅰ

6. 同步积分器的相敏特性 如图 10 ,同步积分器输入为恒幅方波时,输

出幅度与相位差成线性关系。

Page 69: 光电信息技术实验 Ⅰ

实 验 七实 验 七多点信号平均器多点信号平均器

Page 70: 光电信息技术实验 Ⅰ

一、目的要求一、目的要求

1. 了解多点信号平均器的原理。

2. 观察与测量多点信号平均器的输出特性。

3. 观察与测量多点信号平均器的抑制噪声力。

Page 71: 光电信息技术实验 Ⅰ

二、基本原理二、基本原理1. 周期信号的波形复现 多点信号平均器是一种信号处理装置,能从较强的干扰

和噪声中提取信号,依据时域特性的取样平均来改善信噪比,复现被噪声淹没的信号波形,它适用于重复信号的波形复现,在信号出现之后依次取多个信号样品,并按固定频率重复取样,把每一个周期的许多取样信号,依次一一对应相加求平均,从而有效地改善了信噪比。对于多点信号平均器可以由数字存储器或模拟存储器来实现求和平均,但是原理相同。

Page 72: 光电信息技术实验 Ⅰ

模拟多点信号平均器的核心是门积分电路,门积分电路的单元电路如图 1 所示。

Page 73: 光电信息技术实验 Ⅰ

设控制开关的门脉冲的周期为 TR,门宽为 Tg,引入单位幅度的门脉冲函数 fo( t),

式中 为相对门宽, 为门脉冲的圆频率。

波形如图 2 所示。

1

2 1sino

n

f t n RTn

g

R

T

T

2

R

RT

Page 74: 光电信息技术实验 Ⅰ

门积分电路的门接通时,积分电阻为 R,门断开时,积分电阻为∞。引入单位幅度的门脉冲函数后,积分电阻与开关能用等效积分电阻 Re置换。

于是,门积分电路便可用图 3 表示,形式上与普通积分电路相同,只是电阻值是时间的函数。

eo

RR

f t

Page 75: 光电信息技术实验 Ⅰ

积分电路的微分方程为: 设 把式( 4 )代入式( 3 ),解微分方程得:

^

cosi iV V t

o o i

e e

dV V V

dt CR t CR t

2 2

cos( ) cos( )[ ]

1 ( / ) 1 ( / )

tRt

o i

tV V e

RC RC

1 2

cos[( ) ]1 sin( )

1 [ ( )]

i

n

V n R tn

n RCn R

2 2

cos( ) cos[( ) ]

1 [ ( )] 1 [ ( )]

tRC n R t

eRC RC

n R n R

2

cos( )

1 [ ( )]

tRCe

RCn R

Page 76: 光电信息技术实验 Ⅰ

式中

根据物理意义简化式( 5 ),对于多点信号平均器, 通常有

若被测信号中不含有直流项或不需要直流项, 还有

因此有:

RCarctg

( )n R RCarctg

( )1

n R RC

1RC

2

11

( )1 [ ]

RC n R

2

11

1 ( )RC

Page 77: 光电信息技术实验 Ⅰ

于是,式( 5 )简化为:

式( 8 )为门积分电路的传输函数。若考虑输入信号频率接近于直流,则式( 5 )中只有前两项比较大,其它项可以忽略,于是

这个电路相当于电阻为 R/ε,电容为 C 的低通 RC滤波器。

1 2 2

ˆ cos( )1 sin cos[( ) ]

1 [ ( )] 1 [ ( )]

ti RC

on

V n n R tV e

n RC RCn R n R

2 2

cos( ) cos( )ˆ

1 ( ) 1 ( )

tRC

o i

tV V e

RC RC

Page 78: 光电信息技术实验 Ⅰ

2. 等效噪声带宽 门积分电路对不相干信号的抑制能力,可以由传输函数直

接求得。而对白噪声的抑制能力用等效噪声带宽计算更简单。 根据定义等效噪声带宽可表示为:

是 n 次谐波相对于基波的归一化传输函数

将式( 11 )代入式( 10 ),得:

由此可知, fNn是 ε、 RC 和 n的函数。

fNn

2

nN nf K d f

Kn

2

sin 1

sin 21 ( )

n

nK

n RC f

2

2 2

sin ( )

2 sin ( )nN

nf

RC n

Page 79: 光电信息技术实验 Ⅰ

① 基波处的等效噪声带宽

② 总等效噪声带宽

③ 有限带宽噪声 设低通滤波器的带宽 ,此滤波器只能通过低于 L次谐波

的频率。这时总的等效噪声带宽为基波到第 L次谐波处的等效噪声带宽之和。

④ 直流附近的等效噪声带宽 若门积分电路的前级是直接耦合的直流放大器,就要考虑直

流(或称零频)附近的等效噪声带宽在数值上与基波处相等。

1 2NfRC

1N Nn

n

f f

f LfN Ri

2

2 21

sin

2 sin

L

Nn

nf

RC n

2NDfRC

Page 80: 光电信息技术实验 Ⅰ

3. 信噪比的改善 ① 对不相干信号的抑制能力 设某一不相干信号的频率为 ,并在第 P次谐波附近,有

。 求得输出电压相对于输入电压的传输函数为:

通常有

故式( 17 )化简为

fdf Pf fd R d

sin 1

21 ( )

p

d

PK

P RC f

1.2 / 1P RC fd

2K p RC fd

Page 81: 光电信息技术实验 Ⅰ

② 对窄带噪声的抑制能力 输入端的白噪声带宽 ,对于白噪声,输出端相对于输

入端的信噪比改善为:

若 用式( 15 )来表示,并以 代入式( 19 )则:

当 时, 则

只有当取样门很窄而输入白噪声又不太宽,可 保证

时,才能用式( 21 )表述信噪比的改善。

f LfN Ri

( / ) /( / ) /S N S N f fN Ni oo i

fNo f LfN Ri

( / ) /( / )2sin ( )

2 2sin ( )1

LS N S N mo i L n

nn

1L 2sin ( )

2 2sin ( )1

L nL

nn

( / )

( / )

S N o mS N i

1fNifR

Page 82: 光电信息技术实验 Ⅰ

③ 对宽带白噪声的抑制能力 一个实际电路的输入级总有一定的带宽,等效噪声带宽不可能为无穷大。这里所指的白噪声是相对的。当被恢复的信号频率较低或取样门较宽,并且输入电路带宽较宽时,可以把噪声看成白噪声。

在数学上若 ,可认为噪声是白噪声。这时,

输出相对于输入信噪比的改善为:

1fN Ti g

( / )2 2( / ) (1 )

24 sin

fS N No iS N i

RC

Page 83: 光电信息技术实验 Ⅰ

有 ,代入式( 22 )得:

式( 23 )表明:在白噪声的条件下,门积分电路输出相对于输入的信噪比的改善,只与输入等效噪声带宽和时间常数 RC 有关,与等效积累次数m无关。这时,通过减小门宽来增大等效时间常数 并不能进一步改善输出信噪比。

式( 23 )似乎表明:除了增大 RC 之外,不可以通过加大 来提高输出信噪比相对于输入信噪比的比值 。

( / ) /( / ) 4S N S N RC fNo i

2 2(1 ) 12 44 sin RCRC

Te

fNi

Page 84: 光电信息技术实验 Ⅰ

四、实验内容与测试四、实验内容与测试1. 多点信号平均器输出特性的观察与测量 多点信号平均器实验插件盒的电原理框图如图 4 所示。

Page 85: 光电信息技术实验 Ⅰ

多点信号平均器输出特性的观察与测量框图如图 5 所示。

Page 86: 光电信息技术实验 Ⅰ

2. 由干扰信号背景中复现信号波形及过载电平的观察与测量

多点信号平均器的抑制白噪声能力的观察与测量框图如图 6 所示。

Page 87: 光电信息技术实验 Ⅰ

实 验 八 实 验 八 线阵线阵 CCDCCD 驱动器与特性实驱动器与特性实

验验

Page 88: 光电信息技术实验 Ⅰ

一、实验目的一、实验目的1. 掌握用双踪示波器观测二相线阵 CCD驱动器各路驱动脉冲的频率、周期、幅度和相位关系的方法。

2. 通过测量 CCD驱动脉冲之间的相位关系,掌握二相线阵 CCD 的基本工作原理。

3. 通过测量典型线阵 CCD 的输出信号与驱动脉冲的相位关系,掌握 CCD 的基本特征。

4. 掌握线阵 CCD 的驱动脉冲波形,积分时间与输出信号波形的关系。

Page 89: 光电信息技术实验 Ⅰ

二、实验原理二、实验原理1. TCD1206UD 的基本工作原理如图 1 所示。

Page 90: 光电信息技术实验 Ⅰ

2. TCD1206UD 的外形结构如图 2 所示,它的管脚定义说明如下表 1 所示。

Page 91: 光电信息技术实验 Ⅰ

3. TCD1206UD 在图 3 所示的驱动脉冲的作用下工作。

Page 92: 光电信息技术实验 Ⅰ

当 φSH 脉冲高电平到来时 , 正值 φ1 为高电平,移位寄存器中的所有 φ1 电极下均形成势阱,同时 φSH 的高电平使 φ1 电极下的深势阱与 MOS 电容存储势阱沟通, MOS 电容中的信号电荷包迅速向上下两列模拟移位寄存器的 φ1 电极转移。

当 φSH 由高变低时, φSH低电平形成浅势阱,使 MOS电极下的信号电荷包顺序地向左转移,并经输出电路由输出电路端输出。由于结构上的安排,输出电路首先输出 13 个虚设单元的暗信号,再输出 51 个暗信号之后,再连续输出 2160 个有效信号。输出 2160 个信号US2160 后,输出 12 个暗电流信号,接下去输出两个奇偶检测信号,然后可输出多余的 n个暗电流信号。

Page 93: 光电信息技术实验 Ⅰ

三、实验所需仪器设备三、实验所需仪器设备

1. 双线同步示波器( 20MHz 以上)一台2. TCD1206UD芯片(已嵌入 CCD多功能

实验仪内)一片3. CCD多功能实验仪一台4. 双夹头信号线两根

Page 94: 光电信息技术实验 Ⅰ

四、实验内容与步骤四、实验内容与步骤1. 连接好示波器与 CCD 实验仪的地线,打开 CCD 实验

仪和示波器的电源。2. 先由示波器的 Y1 、 Y2观察 φ1 和 φ2 ,注意其位相关

系,记录 φ1 及 φ2波形,测量其频率。3. 观察记录 φ1 、 φR的波形。4. 观察记录 φR、 SP 的波形。5. 观察记录 φ1 、 UO的波形( UO饱和时注意用物体遮光

)。6. 观察记录 φSH 、 UO的波形。7. 观察记录 φC、 UO的波形。