Penghalusan Pola Difraksi Sinar-X pada

Periclase (MgO) dengan

Metode Rietveld

Kelompok 6

Andi M. Akbar

Fahmi Firmansyah

Guntur Yanda

Muhammad Yamin

Nur Fitriani

Reza Jumadil Pratama

Difraksi Sinar-X atau XRD merupakan satu-satunya metode analitik yang mampu memberikan informasi kualitatif dan kuantitatif tentang bahan yang berisfat kristal (atau fasa) yang terdapat dalam suatu zat padat.

Difraksi Sinar X

Salah satu teknik yang digunakan untuk menentukan struktur suatu padatan kristalin, adalah metoda difraksi sinar-X serbuk (X-ray powder diffraction).

Sampel berupa serbuk padatan kristalin yang memiliki sejumlah besar kristal kecil dengan diameter butiran kristalnya sekitar 10-7 – 10-4 m ditempatkan pada suatu plat kaca dalam difraktometer.

Difraksi Sinar X

Tabung sinar-X akan mengeluarkan sinar-X yang yang difokuskan sehingga mengenai sampel oleh pemfokus, detektor akan bergerak sepanjang lintasannya, untuk merekam pola difraksi sinar-X.

Difraksi Sinar X

X-Ray Difractometer

Analisis (metode) Rietveld adalah sebuah metode pencocokan tak-linier kurva pola difraksi terhitung (model) dengan pola difraksi terukur yang didasarkan pada data struktur kristal dengan menggunakan metode kuadrat terkecil (least-squares).

Metode Rietvield

Pada pola difraksi sinar-X serbuk sering terjadi adanya overlap pada puncak difraksi terutama pada nilai 2θ yang tinggi.

Dengan adanya overlap tersebut menyebabkan sulitnya pemisahan intensitas dari tiap-tiap pemantulan sinar, sehingga penentuan struktur sukar dilakukan.

Namun, dengan metoda Rietveld, kini dimungkinkan untuk menentukan struktur kristal, terutama untuk struktur yang relatif sederhana, dari data difraksi serbuk.

Metode Rietvield

Plot Hasil XRD

Plot dengan Metode Rietvield

Periclase terbentuk secara alami di kontak batuan metamorf dan merupakan komponen utama yang paling mendasar refraktori batu bata.

Periclase (MgO)

THANK YOU!